[發明專利]一種色度計組件及色度坐標檢測方法

在審

• 申請號: 201811456836.7
• 申請日: 2018-11-30
• 公開（公告）號: CN111256823A
• 公開（公告）日: 2020-06-09
• 發明（設計）人: 馬道遠
• 申請（專利權）人: 深圳市融光納米科技有限公司
• 主分類號: G01J3/46
• 分類號: G01J3/46
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 鐘子敏

本發明公開了一種色度計組件及色度坐標檢測方法，該色度計組件包括：色度計本體，所述色度計本體包括測量頭，所述測量頭用于感測待測樣品產生的光；光闌器，一端與所述測量頭可拆卸連接，另一端接觸所述待測樣品，以使來自所述待測樣品的光線經過所述光闌器后到所述測量頭，且最大角度小于所述測量頭直接接觸所述待測樣品情況下的光線最大角度。通過上述方式，本發明能夠提高納米結構色顏料色度坐標測量結果的準確性。

技術領域

本發明涉及色度坐標檢測技術領域，特別是涉及一種色度計組件及色度坐標檢測方法。

背景技術

色度計可以是通過與樣板色比較來確定待測樣品顏色；也可以是根據獲取待測樣品反射的光線的光譜來確定所述待測樣品的顏色。

而對于隨觀測角度不同呈現不同顏色的納米結構色晶體等待測樣品，在進行顏色坐標測量時，不考慮測量角度的影響會導致測量結果錯誤。但常見的色度計通常不會考慮測量角度對測量結果的影響，購買高級色度計的成本較高，因此，不能采用常用的色度計對納米結構色晶體的顏色進行準確測量。

本申請的發明人在長期的研發過程中，發現現有的色度計不能夠對納米結構色顏料的色度坐標進行準確測量。

發明內容

本發明主要解決的技術問題是提供一種色度計組件及色度坐標檢測方法，能夠提高納米結構色顏料色度坐標測量結果的準確性。

為解決上述技術問題，本發明采用的一個技術方案是：提供一種色度計組件。

其中，所述色度計組件包括：

色度計本體，所述色度計本體包括測量頭，所述測量頭用于感測待測樣品產生的光；

光闌器，一端與所述測量頭可拆卸連接，另一端接觸所述待測樣品，以使來自所述待測樣品的光線經過所述光闌器后到所述測量頭，且最大測量角度小于測量角度閾值。

為解決上述技術問題，本發明采用的另一個技術方案是：提供一種色度坐標檢測方法。

其中，所述方法包括：

提供一色度計組件，所述色度計組件包括：色度計本體和與所述測量頭可拆卸連接的光闌器，所述色度計本體包括測量頭，所述光闌器與所述測量頭可拆卸連接；

將所述光闌器與待測樣品接觸，啟動所述色度計；

所述測量頭接收來自所述待測樣品且經過所述光闌器后到所述測量頭的光線。

本發明的有益效果是：區別于現有技術的情況，本發明在現有的色度計的測量頭上可拆卸的安裝有一個光闌器，使得待測樣品反射的光線經過所述光闌器后到達所述色度計的測量頭，也即通過增加待測樣品與所述色度計的測量頭之間的垂直距離的方式來減小到達所述色度計的樣品光線的角度，以避免采用現有的普通色度計對納米結構色晶體的顏色進行測量時，測量角度過大對測量結果的影響，提高測量結果的準確性。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。其中：

圖1是本發明一種色度計組件一實施方式的結構示意圖；

圖2是色度計測量色度坐標的原理示意圖；

圖3是圖1中所述色度計組件的剖視圖；

圖4是本發明一種色度計組件的使用狀態一實施方式的結構示意圖

圖5是本發明光闌器一實施方式的俯視圖；

圖6是圖1中所述光闌器一實施方式的尺寸示意圖；