[發明專利]一種色度計組件及色度坐標檢測方法在審
| 申請號： | 201811456836.7 | 申請日： | 2018-11-30 |
| 公開（公告）號： | CN111256823A | 公開（公告）日： | 2020-06-09 |
| 發明（設計）人： | 馬道遠 | 申請（專利權）人： | 深圳市融光納米科技有限公司 |
| 主分類號： | G01J3/46 | 分類號： | G01J3/46 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 鐘子敏 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市南*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 色度計 組件 色度 坐標 檢測 方法 | ||
1.一種色度計組件，其特征在于，所述色度計組件包括：
色度計本體，所述色度計本體包括測量頭，所述測量頭用于感測待測樣品產生的光；
光闌器，一端與所述測量頭可拆卸連接，另一端接觸所述待測樣品，以使來自所述待測樣品的光線經過所述光闌器后到所述測量頭，且最大測量角度小于測量角度閾值。
2.根據權利要求1所述的色度計組件，其特征在于，所述光闌器包括光闌器本體和所述光闌器本體圍成的第一光通道；
所述測量頭包括測量頭本體和所述測量頭本體圍成的第二光通道，所述光闌器一端與所述測量頭可拆卸連接，以使所述第二光通道與所述第一光通道連通。
3.根據權利要求2所述的色度計組件，其特征在于，所述第二光通道的直徑大于所述第一光通道的直徑。
4.根據權利要求2所述的色度計組件，其特征在于，所述光闌器本體一端的安裝面上設有環形安裝凹槽，所述測量頭卡合在所述安裝凹槽中，以與所述光闌器可拆卸連接。
5.根據權利要求4所述的色度計組件，其特征在于，所述光闌器還包括遮光部，所述遮光部設置在所述安裝面上并位于所述安裝凹槽外周，用于避免所述測量頭接收到的所述待測樣品產生的光中混入環境光。
6.根據權利要求5所述的色度計組件，其特征在于，所述遮光部與所述光闌器本體一體成型，且所述遮光部的高度大于5毫米。
7.根據權利要求5所述的色度計組件，其特征在于，當所述測量頭卡合在所述安裝面上時，所述測量頭外部與所述遮光部的內壁的間距小于0.2毫米。
8.根據權利要求4所述的色度計組件，其特征在于，所述光闌器的一端與測量頭連接，所述光闌器的另一端與待測樣品接觸，待測樣品接觸面與測量頭安裝面之間的距離大于所述測量頭的直徑，其中，所述待測樣品接觸面為所述光闌器與所述待測樣品接觸的面，所述測量頭安裝面為所述光闌器與測量頭連接的面。
9.根據權利要求1所述的色度計組件，其特征在于，所述色度計組件用于測量納米結構色顏料的色度坐標。
10.一種色度坐標的檢測方法，其特征在于，所述方法包括：
提供一色度計組件，所述色度計組件包括：色度計本體和與所述測量頭可拆卸連接的光闌器，所述色度計本體包括測量頭，所述光闌器與所述測量頭可拆卸連接；
將所述光闌器與待測樣品接觸，啟動所述色度計；
所述測量頭接收來自所述待測樣品且經過所述光闌器后到所述測量頭的光線。
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