[發(fā)明專利]錯充檢測方法及錯充檢測系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811452652.3
• 申請日: 2018-11-30
• 公開（公告）號: CN109272912B
• 公開（公告）日: 2020-05-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 楊艷娜
• 申請（專利權(quán)）人: 惠科股份有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳中一專利商標(biāo)事務(wù)所 44237
• 代理人: 高星

本申請屬于顯示面板檢測技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種錯充檢測方法及錯充檢測系統(tǒng)；所述錯充檢測方法通過獲取待檢測的目標(biāo)子畫素，并且得到與所述目標(biāo)子畫素連接的目標(biāo)掃描線、目標(biāo)數(shù)據(jù)線，將該目標(biāo)掃描線上的掃描信號依次傳輸至目標(biāo)子畫素的像素電極；在目標(biāo)子畫素的像素電極中準(zhǔn)確地獲取目標(biāo)掃描線上的掃描信號，并根據(jù)該目標(biāo)掃描線的掃描信號精確地得到陣列基板的錯充程度；通過本申請解決了示例性技術(shù)無法對陣列基板的錯充程度進(jìn)行精確檢測，進(jìn)而導(dǎo)致顯示面板的畫面顯示質(zhì)量不佳的問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請屬于顯示面板檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種錯充檢測方法及錯充檢測系統(tǒng)。

背景技術(shù)

伴隨著人們視覺需求水平的逐步提升，大尺寸、高解析度顯示面板在工業(yè)技術(shù)中得到越來越廣泛的應(yīng)用；而隨著顯示面板中的畫面尺寸越大，則陣列基板中驅(qū)動走線就是越長，并且由于驅(qū)動走線包括依次連接的電容、電阻等電子元器件，在子畫素的掃描驅(qū)動過程中，傳統(tǒng)技術(shù)往往需要從驅(qū)動走線的兩端同時接入驅(qū)動信號，以實(shí)現(xiàn)顯示面板的雙向掃描過程；由于驅(qū)動信號在驅(qū)動走線中傳輸時間以及功耗等各個方面存在較大的差異，因此在顯示面板的雙向掃描過程中，驅(qū)動信號從驅(qū)動走線的兩端輸入會存在一定的傳輸延遲，即顯示面板的錯充現(xiàn)象，由于驅(qū)動信號在驅(qū)動走線上所產(chǎn)生的傳輸延遲所導(dǎo)致的錯充現(xiàn)象，將會極大地降低顯示面板中畫面顯示質(zhì)量，給用戶的視覺體驗(yàn)帶來不良的影響。

因此為了提高顯示面板中的畫面顯示質(zhì)量，技術(shù)人員需要及時地檢測陣列基板的錯充程度，以防止顯示面板中的畫面質(zhì)量出現(xiàn)極大幅度的下降；但是由于傳統(tǒng)技術(shù)中的檢測裝置一般體積較大，而陣列基板中驅(qū)動走線寬度極小，技術(shù)人員無法通過檢測裝置來獲取驅(qū)動走線中的驅(qū)動信號，進(jìn)而導(dǎo)致傳統(tǒng)技術(shù)無法精確地檢測出陣列基板的錯充程度，陣列基板的錯充現(xiàn)象會造成顯示面板畫面質(zhì)量極差，用戶視覺體驗(yàn)不佳。

發(fā)明內(nèi)容

本申請?zhí)峁┮环N錯充檢測方法及錯充檢測系統(tǒng)，旨在解決示例性技術(shù)無法精確地檢測出陣列基板的錯充程度，陣列基板的錯充現(xiàn)象將會造成顯示面板中畫面顯示不良，用戶的視覺體驗(yàn)較差，降低了顯示面板的實(shí)用價值的問題。

本申請第一方面提供一種錯充檢測方法，所述錯充檢測方法包括：

獲取待檢測的目標(biāo)子畫素，并得到與所述目標(biāo)子畫素連接的目標(biāo)掃描線、目標(biāo)數(shù)據(jù)線，以及與所述目標(biāo)子畫素相鄰的目標(biāo)公共電極線；

斷開所述目標(biāo)子畫素與垂直方向相鄰的子畫素之間的連接；

斷開所述目標(biāo)子畫素與所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線之間的連接；

將所述目標(biāo)掃描線、所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線、所述目標(biāo)公共電極線以及所述目標(biāo)子畫素中的像素電極依次連接；

在所述目標(biāo)子畫素的像素電極中獲取所述目標(biāo)掃描線的掃描信號；

根據(jù)所述目標(biāo)掃描線的掃描信號得到陣列基板的錯充程度；

顯示所述陣列基板的錯充程度。

在其中的一個實(shí)施例中，所述斷開所述目標(biāo)子畫素與垂直方向相鄰的子畫素之間的連接，具體為：

在所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線上選取第一斷點(diǎn)和第二斷點(diǎn)，所述第一斷點(diǎn)位于第一交叉點(diǎn)與第二交叉點(diǎn)之間，所述第二斷點(diǎn)位于所述第一交叉點(diǎn)與第三交叉點(diǎn)之間；

其中，所述第一交叉點(diǎn)為所述目標(biāo)掃描線在所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線上的投影點(diǎn)，與所述目標(biāo)子畫素在垂直方向相鄰的子畫素為：第一子畫素和第二子畫素，所述第一子畫素位于所述目標(biāo)子畫素的一側(cè)，所述第二子畫素位于所述目標(biāo)子畫素的另一側(cè)，所述第一子畫素與第一掃描線以及所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線連接，所述第二子畫素與第二掃描線以及所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線連接，所述第二交叉點(diǎn)為所述第一掃描線在所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線上的投影點(diǎn)，所述第三交叉點(diǎn)為所述第二掃描線在所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線上的投影點(diǎn)；

在所述第一斷點(diǎn)將所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線切斷，在所述第二斷點(diǎn)將所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線切斷。