[發(fā)明專利]錯充檢測方法及錯充檢測系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811452652.3
• 申請日: 2018-11-30
• 公開（公告）號: CN109272912B
• 公開（公告）日: 2020-05-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 楊艷娜
• 申請（專利權(quán)）人: 惠科股份有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳中一專利商標(biāo)事務(wù)所 44237
• 代理人: 高星

1.一種錯充檢測方法，其特征在于，所述錯充檢測方法包括：

獲取待檢測的目標(biāo)子畫素，并得到與所述目標(biāo)子畫素連接的目標(biāo)掃描線、目標(biāo)數(shù)據(jù)線，以及與所述目標(biāo)子畫素相鄰的目標(biāo)公共電極線；

斷開所述目標(biāo)子畫素與垂直方向相鄰的子畫素之間的連接；

斷開所述目標(biāo)子畫素與所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線之間的連接；

將所述目標(biāo)掃描線、所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線、所述目標(biāo)公共電極線以及所述目標(biāo)子畫素中的像素電極依次連接；

在所述目標(biāo)子畫素的像素電極中獲取所述目標(biāo)掃描線的掃描信號；

根據(jù)所述目標(biāo)掃描線的掃描信號得到陣列基板的錯充程度；

顯示所述陣列基板的錯充程度。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的錯充檢測方法，其特征在于，所述斷開所述目標(biāo)子畫素與垂直方向相鄰的子畫素之間的連接，具體為：

在所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線上選取第一斷點和第二斷點，所述第一斷點位于第一交叉點與第二交叉點之間，所述第二斷點位于所述第一交叉點與第三交叉點之間；

其中，所述第一交叉點為所述目標(biāo)掃描線在所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線上的投影點，與所述目標(biāo)子畫素在垂直方向相鄰的子畫素為：第一子畫素和第二子畫素，所述第一子畫素位于所述目標(biāo)子畫素的一側(cè)，所述第二子畫素位于所述目標(biāo)子畫素的另一側(cè)，所述第一子畫素與第一掃描線以及所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線連接，所述第二子畫素與第二掃描線以及所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線連接，所述第二交叉點為所述第一掃描線在所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線上的投影點，所述第三交叉點為所述第二掃描線在所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線上的投影點；

在所述第一斷點將所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線切斷，在所述第二斷點將所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線切斷。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的錯充檢測方法，其特征在于，所述目標(biāo)子畫素包括第一像素電極和第一開關(guān)管，其中所述第一開關(guān)管的第一導(dǎo)通極接所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線，所述第一開關(guān)管的第二導(dǎo)通極接所述第一像素電極，所述第一開關(guān)管的控制端接所述目標(biāo)掃描線；所述斷開所述目標(biāo)子畫素與所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線之間的連接，具體為：

切斷所述第一開關(guān)管的第一導(dǎo)通極與所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線之間的連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的錯充檢測方法，其特征在于，所述將所述目標(biāo)掃描線、所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線、所述目標(biāo)公共電極線以及所述目標(biāo)子畫素中的像素電極依次連接，具體為：

將所述目標(biāo)掃描線和所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線的重疊處焊接；

將所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線和所述目標(biāo)公共電極線的重疊處焊接；

將所述目標(biāo)公共電極線和所述目標(biāo)子畫素中像素電極的重疊處焊接。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的錯充檢測方法，其特征在于，所述在所述目標(biāo)子畫素的像素電極中獲取所述目標(biāo)掃描線的掃描信號，具體為：

將顯微鏡探針扎在所述目標(biāo)子畫素中的像素電極，以獲取所述目標(biāo)掃描線上的掃描信號。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的錯充檢測方法，其特征在于，所述根據(jù)所述目標(biāo)掃描線的掃描信號得到所述陣列基板的錯充程度，具體為：

將所述目標(biāo)掃描線的掃描信號輸出至示波器中，以獲取所述目標(biāo)掃描線的掃描信號的延遲狀況；

根據(jù)所述目標(biāo)掃描線的掃描信號的延遲狀況得到所述陣列基板的錯充程度。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的錯充檢測方法，其特征在于，所述顯示所述陣列基板的錯充程度，具體為：

在所述示波器中顯示所述陣列基板的錯充程度。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的錯充檢測方法，其特征在于，根據(jù)所述目標(biāo)掃描線的掃描信號得到所述陣列基板的錯充程度以后；所述錯充檢測方法還包括：

若所述陣列基板的錯充程度大于所述陣列基板的安全運行幅度，則發(fā)出故障報警信號。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的錯充檢測方法，其特征在于，所述目標(biāo)子畫素為：紅色子畫素、綠色子畫素以及藍(lán)色子畫素中的任意一種。

10.一種錯充檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述錯充檢測系統(tǒng)包括：

目標(biāo)畫素獲取單元，獲取待檢測的目標(biāo)子畫素，并得到與所述目標(biāo)子畫素連接的目標(biāo)掃描線、目標(biāo)數(shù)據(jù)線，以及與所述目標(biāo)子畫素相鄰的目標(biāo)公共電極線；

第一切斷單元，斷開所述目標(biāo)子畫素與垂直方向相鄰的子畫素之間的連接；

第二切斷單元，斷開所述目標(biāo)子畫素與所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線之間的連接；

焊接單元，將所述目標(biāo)掃描線、所述目標(biāo)數(shù)據(jù)線、所述目標(biāo)公共電極線以及所述目標(biāo)子畫素中的像素電極依次連接；

信號獲取單元，在所述目標(biāo)子畫素的像素電極中獲取所述目標(biāo)掃描線的掃描信號；

狀態(tài)獲取單元，根據(jù)所述目標(biāo)掃描線的掃描信號得到陣列基板的錯充程度；

狀態(tài)顯示單元，顯示所述陣列基板的錯充程度。