[發(fā)明專利]一種適于基板電路氮-氫混合等離子清洗方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811448032.2 | 申請日: | 2018-11-29 |
| 公開(公告)號: | CN109671613A | 公開(公告)日: | 2019-04-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 尹國平 | 申請(專利權(quán))人: | 貴州振華風光半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02;H01J37/32 |
| 代理公司: | 貴陽中工知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 52106 | 代理人: | 劉安寧 |
| 地址: | 550000 貴*** | 國省代碼: | 貴州;52 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 等離子清洗 基板電路 清洗腔 清洗 清洗過程 倉門 電路 夾具 等離子清洗機 集成電路基板 射頻電源功率 腔體真空度 氬氫混合氣 薄膜基板 表面清洗 工藝氣體 化工試劑 環(huán)境影響 清洗程序 污漬去除 真空環(huán)境 電路件 規(guī)模化 混合氣 膜基板 氧化鈹 氧化鋁 等厚 配比 焊接 取出 消耗 配置 | ||
一種適于基板電路氮?氫混合等離子清洗方法,具體方法包括以下步驟:⑴將待清洗的集成電路基板電路平放在等離子清洗機清洗腔內(nèi),關(guān)好清洗腔倉門;⑵通入一定配比的氮?氫混合氣;⑶設(shè)置射頻電源功率、腔體真空度、清洗時間的參數(shù);⑷啟動清洗程序進行等離子清洗,結(jié)束后取出基板電路,關(guān)好清洗腔倉門。本方法優(yōu)點是:①清洗過程不使用化工試劑,對操作人員和環(huán)境影響小;②清洗過程在真空環(huán)境下進行,工藝氣體消耗少,成本低;③通過配置夾具可規(guī)模化清洗;④對分子尺寸級污漬去除效果優(yōu)于氬氫混合氣進行等離子清洗的方法。適用于氧化鋁、氧化鈹?shù)群衲せ咫娐泛捅∧せ咫娐芳附忧暗谋砻媲逑础?/p>
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件的處理方法,具體來說,涉及基板電路的清洗方法。
背景技術(shù)
眾所周知,等離子清洗是近年來發(fā)展起來的高新技術(shù)之一,等離子清洗方法是利用等離子體來達到常規(guī)清洗方法無法達到的效果。
在混合集成電路生產(chǎn)過程中,組裝前需對基板電路進行清潔,去除表面污漬和焊接部位金屬表面氧化層,以提高焊接的可靠性。通常使用氬氣通入等離子清洗機低壓腔室,在射頻電源的激勵下使氬氣發(fā)生電離,形成激活的氬原子、自由電子和未反應(yīng)氣體等離子化的混合物——即等離子體,再轟擊到基板電路表面,達到去除表面氧化物的目的。在這種工藝中,因氬氣是隨性氣體,電離后的氬原子本身活性差,在清洗過程中,只是通過撞擊這一物理過程去除氧化物,清洗時間長,氧化物去除不徹底,影響電路組裝的焊接強度。
中國專利數(shù)據(jù)庫中,集成電路領(lǐng)域中利用等離子清洗的專利申請件還不多,僅有2015103098896號《金屬圓殼封裝單片集成電路生產(chǎn)過程中的等離子清洗方法》、2017110424117號《一種集成電路封裝鍵合前等離子清洗方法及裝置》兩件,均采用氬氫混合氣進行等離子清洗。對于基板電路,這種清洗方法效果未必理想。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在提供一種適于基板電路氮-氫混合等離子清洗方法,以克服現(xiàn)有技術(shù)清洗時間長、氧化物去除不徹底的缺陷。
發(fā)明人在研究中得出以下結(jié)論:氫氣化學(xué)性質(zhì)活潑,是強還原性氣體,但因其具有可燃性,容易發(fā)生爆炸,所以純氫有一定危險性;同時純氫等離子與金屬外殼的金屬反應(yīng)過于激烈,會使表面金屬刻蝕。為保證使用安全,同時也為了抑制等離子清洗時氫還原的反應(yīng)速度,發(fā)明人采用氮氣為底氣混入一定比例的氫氣配制成氮-氫混合氣體,通過對不同組分的氮-氫混合氣,以及射頻電源的功率、腔體真空度和清洗時間等主要工藝參數(shù)不同組合對基板電路進行清洗,組裝最后對器件焊接強度進行檢測,優(yōu)化氮-氫混合氣體組分和等離子清洗主要工藝參數(shù)。
發(fā)明人提供的適于基板電路氮-氫混合等離子清洗的工藝方法,是使用氮-氫混合氣體作介質(zhì),在等離子清洗機低壓腔室中,經(jīng)射頻電源激勵,形成激活的氫原子、氮原子、自由電子和未反應(yīng)氣體的等離子體,當這些等離子體轟擊到基板電路表面時,除撞擊這一物理過程外,同時伴隨離子化氫氣以及電離的氫原子與基板電路的氧化層發(fā)生化學(xué)還原反應(yīng),從而達到基板電路表面包含氧化物的分子級污漬的去除作用;具體的方法包括以下步驟:
第一步 將待清洗的基板電路平放在等離子清洗機清洗腔內(nèi),關(guān)好清洗腔倉門;
第二步 通入一定配比的氮-氫混合氣;
第三步 設(shè)置射頻電源功率、腔體真空度、清洗時間的參數(shù);
第四步 啟動清洗程序進行等離子清洗,結(jié)束后取出基板電路,關(guān)好清洗腔倉門。
上述方法的第一步中,所述等離子清洗機的型號是PINK V15-G;該清洗機的清洗腔內(nèi)安設(shè)有網(wǎng)狀隔板,所述基板電路放置在隔板之上。
上述方法的第二步中,所述氮-氫混合氣的體積比例是7%∶93%。
上述方法的第三步中,所述設(shè)置的射頻電源功率為200W,腔體真空度為160mTorr,清洗時間為120s;設(shè)置的參數(shù)通過電腦芯片控制。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





