[發明專利]用于校正模型化氨填充水平的方法有效
| 申請號： | 201811444942.3 | 申請日： | 2018-11-29 |
| 公開（公告）號： | CN109854347B | 公開（公告）日： | 2022-04-15 |
| 發明（設計）人： | F.施魏策 | 申請（專利權）人： | 羅伯特·博世有限公司 |
| 主分類號： | F01N11/00 | 分類號： | F01N11/00;F01N3/20;F01N9/00 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 方莉;李雪瑩 |
| 地址： | 德國斯*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 校正 模型 填充 水平 方法 | ||
1.用于校正SCR催化系統（20）中的下游SCR催化器（22）的模型化氨填充水平的方法，所述SCR催化系統具有相繼布置在排氣管路（11）中的兩個SCR催化器（21、22），其特征在于，將下游SCR催化器（22）下游的預期氮氧化物質量流量（qmin100）與在所述下游SCR催化器（22）的下游處測得的氮氧化物質量流量（q33）相比較，并基于比較結果進行校正，其中，所述預期氮氧化物質量流量（qmin100）表示當所述下游SCR催化器（22）填充有其最小額定填充水平的100%時在所述下游SCR催化器（22）下游的預期氮氧化物質量流量，其中，在所述最小額定填充水平的情況下不發生氨逸出。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述下游SCR催化器（22）下游的預期氮氧化物質量流量（qmin100）由所述兩個SCR催化器（21、22）之間的氮氧化物質量流量（32）和所述下游SCR催化器（22）的效率確定。
3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，校正由此進行，即，在對所述兩個SCR催化器（21、22）的共同調節中，根據所述預期氮氧化物質量流量（qmin100）和所述測得的氮氧化物質量流量（q33）之間的差來改變所述下游SCR催化器（22）的當前氨填充水平。
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，這樣進行調節，即，所述下游SCR催化器（22）的氨填充水平相對于預先確定的取決于溫度的氨填充水平最多偏離可預先確定的閾值，在所述預先確定的取決于溫度的氨填充水平下，在所述下游催化器處沒有發生氨逸出。
5.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，校正由此進行，即，在對所述兩個SCR催化器（21、22）的共同調節中，根據所述預期氮氧化物質量流量（qmin100）和所述測得的氮氧化物質量流量（q33）之間的差，以校正量改變所述測得的氮氧化物質量流量的值。
6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，這樣進行調節，即，所述下游SCR催化器（22）的氨填充水平相對于預先確定的取決于溫度的氨填充水平最多偏離可預先確定的閾值，在所述預先確定的取決于溫度的氨填充水平下，在所述下游催化器處沒有發生氨逸出。
7.可機讀的存儲介質，在所述存儲介質上存儲計算機程序，所述計算機程序設置用于執行根據權利要求1至6中任一項所述的方法的每個步驟。
8.電子控制設備（50），其設置用于借助根據權利要求1至6中任一項所述的方法校正下游SCR催化器（23）的模型化氨填充水平。
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