[發明專利]透明硅膠性能測試方法

在審

• 申請號: 201811443208.5
• 申請日: 2018-11-29
• 公開（公告）號: CN109655432A
• 公開（公告）日: 2019-04-19
• 發明（設計）人: 余泓穎;魏水林
• 申請（專利權）人: 江西省晶瑞光電有限公司
• 主分類號: G01N21/59
• 分類號: G01N21/59
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種透明硅膠性能測試方法，其特征在于，包括：

S10制備多片待測試透明硅膠膜片；

S20在底板表面固晶至少一顆LED芯片，且在LED芯片表面涂覆熒光膠層得到測試光源；

S30將各透明硅膠膜片依次緊貼于測試光源中LED芯片的表面，測試得到LED芯片透過透明硅膠膜片的發光亮度，完成對各透明硅膠膜片的測試。

2.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，

在步驟S20中，在底板表面固晶一顆LED芯片，得到測試光源；

在步驟S30中，使用測試光源分別對各透明硅膠膜片的性能進行測試，且針對一片透明硅膠膜片，使用測試光源中的LED芯片依次測試透明硅膠膜片中不同的測試點，得到各測試點的發光亮度。

3.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，

在步驟S20中，在底板表面固晶多顆LED芯片，得到測試光源；

在步驟S30中，使用測試光源分別對各透明硅膠膜片的性能進行測試，且針對一片透明硅膠膜片，使用測試光源中的多顆LED芯片同時測試透明硅膠膜片中相應數量的測試點，得到各測試點的發光亮度之后，移動測試光源或透明硅膠膜片，測試透明硅膠膜片中的其他測試點，直到完成透明硅膠膜片中所有測試點的測試，得到各測試點的發光亮度。

4.如權利要求1-3任意一項所述的測試方法，其特征在于，在步驟S30之后，還包括：

S40篩選測試數據中的異常數據；

S50針對一透明硅膠膜片將剩余的測試數據取平均得到LED芯片透過透明硅膠膜片的發光亮度；

S60篩選發光更亮的透明硅膠膜片。

5.如權利要求4所述的測試方法，其特征在于，針對一測試目標，制備的多片待測試透明硅膠膜片厚度相同、硅膠種類不同。