[發(fā)明專利]半導(dǎo)體器件有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811441585.5 | 申請日： | 2018-11-29 |
| 公開（公告）號： | CN110739024B | 公開（公告）日： | 2023-08-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 李政桓 | 申請（專利權(quán)）人： | 愛思開海力士有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/44 | 分類號： | G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京弘權(quán)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11363 | 代理人： | 許偉群;郭放 |
| 地址： | 韓國*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 半導(dǎo)體器件 | ||
1.一種半導(dǎo)體器件，包括：
軟修復(fù)控制電路，所述軟修復(fù)控制電路配置為響應(yīng)于軟修復(fù)控制信號來生成使能信號，其中，當(dāng)在刷新操作中計數(shù)的第一內(nèi)部地址和第二內(nèi)部地址具有與第一故障地址和第二故障地址相同的組合時，所述使能信號被使能；以及
核心電路，所述核心電路包括第一區(qū)域、第二區(qū)域、第三區(qū)域和第四區(qū)域，每個區(qū)域包括基于所述第一內(nèi)部地址、所述第二內(nèi)部地址、第三內(nèi)部地址和第四內(nèi)部地址的組合而被激活的多個字線，其中，所述核心電路配置為響應(yīng)于所述使能信號來修復(fù)如下字線：所述字線中已經(jīng)發(fā)生故障、并且所述字線被包括在所述第一區(qū)域、所述第二區(qū)域、所述第三區(qū)域和所述第四區(qū)域之中的通過所述第三內(nèi)部地址和所述第四內(nèi)部地址而選擇的區(qū)域中。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件，其中，在所述刷新操作期間，所述軟修復(fù)控制信號被使能為進(jìn)入對已經(jīng)發(fā)生故障的字線進(jìn)行修復(fù)的軟修復(fù)操作。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件，其中，當(dāng)所述使能信號被禁止時，所述核心電路基于所述第一故障地址和所述第二故障地址的組合，來修復(fù)所述多個字線之中的已經(jīng)發(fā)生故障的字線。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件，其中，所述第一內(nèi)部地址和所述第二內(nèi)部地址表示用于激活所述字線的比特位，并且所述第三內(nèi)部地址和所述第四內(nèi)部地址表示用于選擇所述第一區(qū)域、所述第二區(qū)域、所述第三區(qū)域和所述第四區(qū)域中的至少一個的比特位。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件，其中，所述軟修復(fù)控制電路包括：
比較信號發(fā)生電路，所述比較信號發(fā)生電路配置為響應(yīng)于所述軟修復(fù)控制信號來儲存所述第一故障地址和所述第二故障地址，并且配置為通過比較儲存的所述第一故障地址和所述第二故障地址的組合與所述第一內(nèi)部地址和所述第二內(nèi)部地址的組合來生成第一比較信號和第二比較信號；以及
使能信號發(fā)生電路，所述使能信號發(fā)生電路配置為生成所述使能信號，其中，當(dāng)所述第一比較信號和所述第二比較信號二者被使能時，所述使能信號被使能。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的半導(dǎo)體器件，其中，所述第一比較信號在所述第一故障地址和所述第一內(nèi)部地址的邏輯電平相同時被使能，并且所述第二比較信號在所述第二故障地址和所述第二內(nèi)部地址的邏輯電平相同時被使能。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件，其中，所述第一區(qū)域包括：
第一檢測電路，所述第一檢測電路配置為：響應(yīng)于刷新信號和所述使能信號，當(dāng)所述第三內(nèi)部地址和所述第四內(nèi)部地址具有第一組合時，通過比較所述第一故障地址和所述第二故障地址與所述第一內(nèi)部地址和所述第二內(nèi)部地址來生成第一修復(fù)信號；
第一修復(fù)電路，所述第一修復(fù)電路配置為：響應(yīng)于所述第一修復(fù)信號，利用冗余字線來替換由所述第一內(nèi)部地址和所述第二內(nèi)部地址激活的字線；
第一字線組，所述第一字線組包括由所述第一內(nèi)部地址和所述第二內(nèi)部地址選擇的所述多個字線；以及
第一冗余字線組，所述第一冗余字線組包括冗余字線，所述冗余字線替換所述第一字線組的所述多個字線之中的已經(jīng)發(fā)生故障的字線。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件，其中，所述第二區(qū)域包括：
第二檢測電路，所述第二檢測電路配置為：響應(yīng)于刷新信號和所述使能信號，當(dāng)所述第三內(nèi)部地址和所述第四內(nèi)部地址具有第二組合時，通過比較所述第一故障地址和所述第二故障地址與所述第一內(nèi)部地址和第二內(nèi)部地址來生成第二修復(fù)信號；
第二修復(fù)電路，所述第二修復(fù)電路配置為：響應(yīng)于所述第二修復(fù)信號，利用冗余字線來替換由所述第一內(nèi)部地址和所述第二內(nèi)部地址激活的字線；
第二字線組，所述第二字線組包括由所述第一內(nèi)部地址和所述第二內(nèi)部地址選擇的所述多個字線；以及
第二冗余字線組，所述第二冗余字線組包括冗余字線，所述冗余字線替換所述第二字線組的所述多個字線之中的已經(jīng)發(fā)生故障的字線。
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