[發(fā)明專利]提升電子設(shè)備ESD性能的方法及檢測裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811436629.5 | 申請日： | 2018-11-28 |
| 公開（公告）號： | CN109324249A | 公開（公告）日： | 2019-02-12 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 李妹;羅杰;甘萬勇;馮宇玉;張坤;許傳停 | 申請（專利權(quán)）人： | 晶晨半導(dǎo)體（上海）股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00;H02H9/00 |
| 代理公司： | 上海申新律師事務(wù)所 31272 | 代理人： | 俞滌炯 |
| 地址： | 201203 上海市浦東新區(qū)中國*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 電子設(shè)備 目標電子設(shè)備 檢測裝置 電子技術(shù)領(lǐng)域 處理方式 定位目標 故障類型 故障位置 故障原因 | ||
本發(fā)明公開了提升電子設(shè)備ESD性能的方法及檢測裝置，屬于電子技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明根據(jù)故障類型選擇相應(yīng)的處理方式對目標電子設(shè)備進行相應(yīng)操作，實現(xiàn)快速的定位目標電子設(shè)備的故障位置或故障原因的目的，從而達到提高目標電子設(shè)備的ESD性能的效果。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及提升電子設(shè)備ESD(Electro-Staticdischarge，靜電釋放)性能的方法及檢測裝置。
背景技術(shù)
靜電是一種客觀存在的自然現(xiàn)象，產(chǎn)生的方式多種，如接觸、摩擦、電器間感應(yīng)等。靜電的特點是高電位、強電場、寬帶電磁干擾、低電量、小電流、作用時間短、復(fù)現(xiàn)性差、瞬間現(xiàn)象多、受環(huán)境影響大。目前ESD是業(yè)界硬件設(shè)計一個難題，通常很難定位導(dǎo)致電子元器件的ESD異常故障位置或原因。
發(fā)明內(nèi)容
針對上述問題，現(xiàn)提供一種旨在可根據(jù)不同的情況采用不同的處理方式提高ESD性能的提升電子設(shè)備ESD性能的方法及檢測裝置。
一種提升電子設(shè)備ESD性能的方法，包括下述步驟：
識別目標電子設(shè)備的故障類型，每一故障類型對應(yīng)一至少一種處理方式；
根據(jù)所述故障類型選擇相應(yīng)的處理方式對所述目標電子設(shè)備進行相應(yīng)操作。
優(yōu)選的，所述故障類型包括：
在進行ESD測試時，所述目標電子設(shè)備的至多兩個測試點的測試出現(xiàn)異常；和/或
在進行ESD測試時，所述目標電子設(shè)備的至少三個測試點的測試出現(xiàn)異常；和/或
在進行ESD測試時，轉(zhuǎn)換工作模式后，所述目標電子設(shè)備的測試出現(xiàn)異常；和/或
在進行ESD測試時，所述目標電子設(shè)備的局部區(qū)域測試正常，且所述目標電子設(shè)備的整體測試出現(xiàn)異常。
優(yōu)選的，在進行ESD測試時，與所述目標電子設(shè)備的至多兩個測試點的測試出現(xiàn)異常對應(yīng)的處理方式為：
將測試出現(xiàn)異常對應(yīng)的所述測試點的狀態(tài)修改為輸出高電平，或
在所述測試點增加靜電保護器件。
優(yōu)選的，在進行ESD測試時，與所述目標電子設(shè)備的至少三個測試點的測試出現(xiàn)異常的處理方式為：
所述目標電子設(shè)備識別接收到的校驗碼是否異常，若異常，則保留靜電來前一次有效數(shù)據(jù)；或
對所述目標電子設(shè)備增加屏蔽罩。
優(yōu)選的，在進行ESD測試時，與轉(zhuǎn)換工作模式后，所述目標電子設(shè)備的測試出現(xiàn)異常的處理方式為：
在所述目標電子設(shè)備上增加ESD元器件。
優(yōu)選的，在進行ESD測試時，與所述目標電子設(shè)備的局部區(qū)域測試正常，且所述目標電子設(shè)備的整體測試出現(xiàn)異常的處理方式為：
在所述目標電子設(shè)備上增加陶瓷散熱片；或
在所述目標電子設(shè)備上增加金屬散熱片，且所述金屬散熱片接地。
本發(fā)明還提供了一種檢測裝置，用于檢測電子設(shè)備的ESD性能，包括：
識別單元，用于識別目標電子設(shè)備的故障類型，每一故障類型對應(yīng)一至少一種處理方式；
處理單元，用于根據(jù)所述故障類型選擇相應(yīng)的處理方式對所述目標電子設(shè)備進行相應(yīng)操作。
優(yōu)選的，所述故障類型包括：
在進行ESD測試時，所述目標電子設(shè)備的至多兩個測試點的測試出現(xiàn)異常；和/或
在進行ESD測試時，所述目標電子設(shè)備的至少三個測試點的測試出現(xiàn)異常；和/或
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