[發明專利]提升電子設備ESD性能的方法及檢測裝置在審
| 申請號： | 201811436629.5 | 申請日： | 2018-11-28 |
| 公開（公告）號： | CN109324249A | 公開（公告）日： | 2019-02-12 |
| 發明（設計）人： | 李妹;羅杰;甘萬勇;馮宇玉;張坤;許傳停 | 申請（專利權）人： | 晶晨半導體（上海）股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00;H02H9/00 |
| 代理公司： | 上海申新律師事務所 31272 | 代理人： | 俞滌炯 |
| 地址： | 201203 上海市浦東新區中國*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 電子設備 目標電子設備 檢測裝置 電子技術領域 處理方式 定位目標 故障類型 故障位置 故障原因 | ||
1.一種提升電子設備ESD性能的方法，其特征在于，包括下述步驟：
識別目標電子設備的故障類型，每一故障類型對應一至少一種處理方式；
根據所述故障類型選擇相應的處理方式對所述目標電子設備進行相應操作。
2.根據權利要求1所述的提升電子設備ESD性能的方法，其特征在于：所述故障類型包括：
在進行ESD測試時，所述目標電子設備的至多兩個測試點的測試出現異常；和/或
在進行ESD測試時，所述目標電子設備的至少三個測試點的測試出現異常；和/或
在進行ESD測試時，轉換工作模式后，所述目標電子設備的測試出現異常；和/或
在進行ESD測試時，所述目標電子設備的局部區域測試正常，且所述目標電子設備的整體測試出現異常。
3.根據權利要求2所述的提升電子設備ESD性能的方法，其特征在于：在進行ESD測試時，與所述目標電子設備的至多兩個測試點的測試出現異常對應的處理方式為：
將測試出現異常對應的所述測試點的狀態修改為輸出高電平，或
在所述測試點增加靜電保護器件。
4.根據權利要求2所述的提升電子設備ESD性能的方法，其特征在于：在進行ESD測試時，與所述目標電子設備的至少三個測試點的測試出現異常的處理方式為：
所述目標電子設備識別接收到的校驗碼是否異常，若異常，則保留靜電來前一次有效數據；或
對所述目標電子設備增加屏蔽罩。
5.根據權利要求2所述的提升電子設備ESD性能的方法，其特征在于：在進行ESD測試時，與轉換工作模式后，所述目標電子設備的測試出現異常的處理方式為：
在所述目標電子設備上增加ESD元器件。
6.根據權利要求2所述的提升電子設備ESD性能的方法，其特征在于：在進行ESD測試時，與所述目標電子設備的局部區域測試正常，且所述目標電子設備的整體測試出現異常的處理方式為：
在所述目標電子設備上增加陶瓷散熱片；或
在所述目標電子設備上增加金屬散熱片，且所述金屬散熱片接地。
7.一種檢測裝置，用于檢測電子設備的ESD性能，其特征在于，包括：
識別單元，用于識別目標電子設備的故障類型，每一故障類型對應一至少一種處理方式；
處理單元，用于根據所述故障類型選擇相應的處理方式對所述目標電子設備進行相應操作。
8.根據權利要求7所述的檢測裝置，其特征在于：所述故障類型包括：
在進行ESD測試時，所述目標電子設備的至多兩個測試點的測試出現異常；和/或
在進行ESD測試時，所述目標電子設備的至少三個測試點的測試出現異常；和/或
在進行ESD測試時，轉換工作模式后，所述目標電子設備的測試出現異常；和/或
在進行ESD測試時，所述目標電子設備的局部區域測試正常，且所述目標電子設備的整體測試出現異常。
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