[發明專利]一種封閉殼體內金屬成份及位置的無損測定方法

在審

• 申請號: 201811420830.4
• 申請日: 2018-11-27
• 公開（公告）號: CN109342505A
• 公開（公告）日: 2019-02-15
• 發明（設計）人: 林俊明
• 申請（專利權）人: 愛德森（廈門）電子有限公司
• 主分類號: G01N27/00
• 分類號: G01N27/00;G01V3/08
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種封閉殼體內金屬成份及位置的無損測定方法，采用不同脈沖寬度的電磁脈沖串激勵及寬頻高靈敏度接收傳感器，對被檢封閉殼體部件外部進行周向及徑向掃描，獲取主動激勵/接收的電磁信息，重建被檢封閉部件外部的電磁場分布，與標準部件外部測得的電磁場分布進行比較，從而得到被檢封閉殼體部件內金屬成份及位置的變化情況，實現封閉殼體內金屬成份及位置的精確測量、快速定位。

技術領域

本發明涉及一種無損檢測方法，特別是涉及一種封閉殼體內金屬成份及位置的無損測定方法。

背景技術

運載火箭一般是在總裝廠進行水平組裝及測試后，通過運輸車水平運送到發射場，然后經過復雜的起豎過程，將其安裝到發射臺進行發射。然而水平組裝測試完好的運載火箭內部的金屬部件很可能在水平運送或在起豎過程中出現松動、移位甚至脫落或被掉包等不易察覺的問題，從而造成火箭發射失敗，嚴重時還會導致火箭發射爆炸的重大事故。

目前，針對于運載火箭攜帶的金屬部件等一些特殊用途的封閉部件內部工件金屬成份及所處位置是否移動的測定方法研究較少，可實現封閉殼體內金屬成份及位置的精確測量、快速定位的無損檢測方法尚不多見。

發明內容

本發明的目的在于通過一種封閉殼體內金屬成份及位置的無損測定方法，來解決以上背景技術部分提到的問題。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：一種封閉殼體內金屬成份及位置的無損測定方法，其特征在于：

采用放置式激勵線圈與接收傳感器圍繞被檢封閉殼體部件外部環形掃查，被檢封閉殼體部件沿著掃查中軸線移動的方式；或者，采用外穿式激勵線圈及沿著被檢封閉殼體部件外部周向陣列分布的接收傳感器，被檢封閉殼體部件沿著外穿式激勵線圈中軸線移動的方式；

采用不同脈沖寬度的電磁脈沖串激勵、采用寬頻高靈敏度接收傳感器接收的方法，對被檢封閉殼體部件外部進行周向及徑向掃描，獲取其電磁感應信號，重建封閉殼體外部的電磁場分布，與標準封閉殼體部件外部測得的電磁場分布進行比較，從而得出被檢封閉殼體部件內部不同電導率金屬材料組成的工件的金屬成份及位置相對于標準封閉殼體部件的變化情況。

本發明的有益效果是，一種封閉殼體內金屬成份及位置的無損測定方法，采用不同脈沖寬度的電磁脈沖串激勵及寬頻高靈敏度接收傳感器，對被檢封閉殼體部件外部進行周向及徑向掃描，獲取主動激勵/接收的電磁信息，重建被檢封閉部件外部的電磁場分布，與標準部件外部測得的電磁場分布進行比較，從而得到被檢封閉殼體部件內金屬成份及位置的變化情況，實現封閉殼體內金屬成份及位置的精確測量、快速定位。

以下結合實施例對本發明作進一步詳細說明，但本發明的一種封閉殼體內金屬成份及位置的無損測定方法不局限于實施例。

附圖說明

下面結合附圖和實施例對本發明進一步說明。

圖1為本發明實施例一的測定方法三維示意圖。

圖2為本發明實施例一的測定方法平面示意圖。

圖3為本發明實施例二的測定方法三維示意圖。

圖4為本發明實施例二的測定方法平面示意圖。

圖中，1-1.放置式激勵線圈,1-2.外穿式激勵線圈，2.接收傳感器，3.被檢封閉殼體部件，4. 不同電導率金屬材料組成的工件。

具體實施方式