[發明專利]電子元器件測試方法、裝置、系統和存儲介質

在審

• 申請號: 201811416586.4
• 申請日: 2018-11-26
• 公開（公告）號: CN109596914A
• 公開（公告）日: 2019-04-09
• 發明（設計）人: 賴燦雄;肖慶中;恩云飛;黃云;堯彬;路國光
• 申請（專利權）人: 中國電子產品可靠性與環境試驗研究所（（工業和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實驗室））
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 馮右明

1.一種電子元器件測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

在預設周期到來時，向信號采集設備發送同步信號，并接收所述信號采集設備基于所述同步信號反饋的各光信號；所述預設周期為用于傳輸給待測電子元器件的脈沖信號的脈沖周期；所述同步信號用于指示所述信號采集設備在相應的預設采集時長內、對所述待測電子元器件進行光信號采集；

對各所述光信號進行疊加處理，并依據所述疊加的結果定位所述待測電子元器件的靜電放電通道。

2.根據權利要求1所述的電子元器件測試方法，其特征在于，還包括步驟：

依據所述疊加的結果定位所述待測電子元器件的損傷點。

3.根據權利要求1或2所述的電子元器件測試方法，其特征在于，接收所述信號采集設備基于所述同步信號反饋的各光信號的步驟之后，還包括步驟：

在接收到的所述光信號的幀數等于預設幀數時，向所述信號采集設備傳輸停止采集指令；所述停止采集指令用于指示所述信號采集設備停止采集所述光信號。

4.根據權利要求3所述的電子元器件測試方法，其特征在于，在接收到的所述光信號的幀數等于預設幀數時，向所述信號采集設備傳輸停止采集指令的步驟之前，還包括步驟：

獲取接收到的所述光信號的幀數。

5.一種電子元器件測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

接收TLP測試設備在預設周期到來時傳輸的同步信號；所述預設周期為所述TLP測試設備傳輸給待測電子元器件的脈沖信號的脈沖周期；

基于所述同步信號，在相應的預設采集時長內、對所述待測電子元器件進行光信號采集；

將采集到的各所述光信號傳輸給所述TLP測試設備。

6.一種電子元器件測試裝置，其特征在于，包括：

信號收發模塊，用于在預設周期到來時，向信號采集設備發送同步信號，并接收所述信號采集設備基于所述同步信號反饋的各光信號；所述預設周期為用于傳輸給待測電子元器件的脈沖信號的脈沖周期；所述同步信號用于指示所述信號采集設備在相應的預設采集時長內、對所述待測電子元器件進行光信號采集；

靜電放電定位模塊，用于對各所述光信號進行疊加處理，并依據所述疊加的結果定位所述待測電子元器件的靜電放電通道。

7.一種電子元器件測試裝置，其特征在于，包括：

信號接收模塊，用于接收TLP測試設備在預設周期到來時傳輸的同步信號；所述預設周期為所述TLP測試設備傳輸給待測電子元器件的脈沖信號的脈沖周期；

信號采集模塊，用于基于所述同步信號，在相應的預設采集時長內、對所述待測電子元器件進行光信號采集；

信號傳輸模塊，用于將采集到的各所述光信號傳輸給所述TLP測試設備。

8.一種電子元器件測試系統，其特征在于，包括TLP測試設備以及連接所述TLP測試設備的信號采集設備；

所述TLP測試設備用于實現權利要求1至4任一項所述的電子元器件測試方法；

所述信號采集設備用于實現權利要求5所述的電子元器件測試方法。

9.根據權利要求8所述的電子元器件測試系統，其特征在于，所述信號采集設備為光電探測器。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1至5中任一項所述的方法的步驟。