[發明專利]一種井壁微電阻率掃描成像測井儀的分段刻度方法

有效

• 申請號: 201811384773.9
• 申請日: 2018-11-20
• 公開（公告）號: CN109577965B
• 公開（公告）日: 2022-07-05
• 發明（設計）人: 李劍浩;周軍;劉昱晟;李國軍;王偉;倪路橋;陳小磊
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣集團有限公司;中國石油集團測井有限公司
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 徐文權

本發明公開了一種井壁微電阻率掃描成像測井儀的分段刻度方法，包括：將井壁微電阻率掃描成像測井儀置入已知不同電阻率的標準地層中；通過所述井壁微電阻率掃描成像測井儀的陣列電極向標準地層中發射電流，測量不同電阻率環境下儀器各電極的響應讀數；根據標準地層電阻率數值與電極響應讀數，確定所述井壁微電阻率掃描成像測井儀在不同電阻率區間下響應讀數與真電阻率的函數關系，實現井壁微電阻率掃描成像測井儀測量得到的視電阻率向真電阻率的刻度。本發明解決了井壁微電阻率掃描成像測井儀無法直接獲取地層真電阻率的問題。

技術領域

本發明屬于石油測井工程技術領域，具體涉及一種井壁微電阻率掃描成像測井儀的分段刻度方法。

背景技術

井壁微電阻率掃描成像測井儀在測井時將多個極板推靠在井壁上，由地面設備控制儀器通過極板上的陣列電極向地層中發射電流，由于電極接觸的巖石成分、結構及流體性質不同，由此引起電流變化，從而反映井壁各處巖石電阻率的變化。

目前，井壁微電阻率掃描成像測井儀測量的電阻率均未經過刻度，因此，測井得到的數據僅能反映電阻率的相對變化趨勢，即視電阻率。為了得到真電阻率，需使用常規測井得到的淺側向電阻率對微電阻率掃描成像測井儀測得的視電阻率進行刻度。這種方法需要依賴常規測井數據及測井解釋軟件，處理流程復雜且容易產生錯誤。

發明專利CN201110455303.9公開了一種電阻率測井儀的刻度校驗方法及裝置，該方法通過測量電阻率測井儀暴露于空氣時信號的幅度比及相位差和置于不同電阻率模擬地層時信號的幅度比與相位差，并通過測量的幅度比與相位差確定該電阻率測井儀的幅度比函數關系和相位差函數關系。此方法中，確定的函數關系的方式為根據最小二乘擬合原理，得到幅度比、相位差與電阻率的一元多次函數。該方法需要將儀器分別置于空氣和模擬地層兩種介質中測量，測量過程較為繁瑣。特別的，對于井壁微電阻率成像測井儀，視電阻率與真電阻率的關系無法通過一元多次函數表述，因此該方法不適用于井壁微電阻率成像測井儀。

發明專利CN201710866241.8公開了一種電成像測井圖像刻度方法及裝置，該方法根據電成像測井資料獲取電成像測井圖像；根據電成像測井圖像計算待分析井段中不同深度點對應的平均電流；結合常規測井資料中的淺側向電阻率數據，建立深度點平均電流與淺側向電阻率的響應函數；根據響應函數與電成像測井圖像，計算得到深度窗平均電流；根據深度窗平均電流和常規測井資料，計算得到刻度系數；根據刻度系數對電成像圖像進行刻度。該方法刻度仍需依賴常規測井數據及測井解釋軟件，處理流程較為復雜。

文獻[1]公開了一種直線型四探針法刻度微電阻率成像測井電阻率的方法及電成像測井電阻率刻度流程，該方法將全直徑巖心做洗油、洗鹽處理，并配置與地層水相同水型、相同礦化度的鹽水將其飽和；在全直徑巖心上布設測線和測點，利用直線型四探針設備對其進行測量，并對數據進行整理；將測點做三次樣條插值，插值間隔與測井數據間隔相同；將成像測井數據同四探針數據建立對應關系，利用方位曲線或互相關算法精確找到對應數據列；利用回歸分析對電成像電阻率進行刻度。該方法需要依賴巖心數據及額外的直線型四探針設備，處理流程較為復雜。

[1]郭懷志,潘保芝,劉文斌,張明楊.利用直線型四探針法刻度微電阻率成像測井電阻率[J].物探與化探,2017,41(4):715-718.

發明內容

本發明的目的是針對井壁微電阻率成像測井儀無法直接測得地層真電阻率，需借助常規測井的淺側向電阻率資料及測井解釋軟件進行刻度的問題，提供了一種井壁微電阻率掃描成像測井儀的分段刻度方法，該方法根據井壁微電阻率掃描測井儀在不同電阻率標準地層中測得的視電阻率數值分段建立函數組，使其能夠直接獲取地層真電阻率。

本發明采用如下技術方案來實現的：