[發明專利]一種井壁微電阻率掃描成像測井儀的分段刻度方法

有效

• 申請號: 201811384773.9
• 申請日: 2018-11-20
• 公開（公告）號: CN109577965B
• 公開（公告）日: 2022-07-05
• 發明（設計）人: 李劍浩;周軍;劉昱晟;李國軍;王偉;倪路橋;陳小磊
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣集團有限公司;中國石油集團測井有限公司
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 徐文權

1.一種井壁微電阻率掃描成像測井儀的分段刻度方法，其特征在于，該方法將井壁微電阻率掃描成像測井儀置入已知不同電阻率的標準地層中，通過所述井壁微電阻率掃描成像測井儀的陣列電極向標準地層中發射電流I，測量不同電阻率R_i下儀器各電極的響應讀數N_i；根據R_i與N_i確定所述井壁微電阻率掃描成像測井儀響應讀數與真電阻率數值的函數關系，實現井壁微電阻率掃描成像測井儀測量的視電阻率向真電阻率的刻度；其中i＝1,2,…,n為電極編號；

該方法的具體實現步驟如下：

將井壁微電阻率掃描成像測井儀置入電阻率為R₁的標準地層中，測量井壁微電阻率掃描成像測井儀在標準地層中各電極的視電阻率讀數

將井壁微電阻率掃描成像測井儀置入電阻率為R₂的標準地層中，測量井壁微電阻率掃描成像測井儀在標準地層中各電極的視電阻率讀數

對每個電極n，分別建立當電阻率位于R₁至R₂間時視電阻率與真電阻率的關系函數：

其中：

式中，為電極n在該電阻率區間下的任一視電阻率讀數，為視電阻率刻度后的真電阻率，為電極n在該電阻率區間下的乘因子，為電極n在該電阻率區間下的加因子；

相應的乘因子和加因子計算公式為：

其中：

重復上述步驟，直至所有待測電阻率下井壁微電阻率掃描成像測井儀各電極測量的視電阻率與真電阻率的函數關系都建立完成；

將以上函數關系合并，形成刻度函數組：

其中，

完成井壁微電阻率掃描成像測井儀刻度后，在使用井壁微電阻率掃描成像測井儀進行測井時，通過刻度函數組，直接將測量的視電阻率數值刻度為地層真電阻率數值。

2.根據權利要求1所述的一種井壁微電阻率掃描成像測井儀的分段刻度方法，其特征在于，已知不同電阻率的標準地層為不同深度段電阻率數值已知的標準井，或為能夠自由調節電阻率數值的地層模擬裝置。

3.根據權利要求1所述的一種井壁微電阻率掃描成像測井儀的分段刻度方法，其特征在于，標準地層可模擬的電阻率數值范圍包含井壁微電阻率掃描成像測井儀測量范圍。

4.根據權利要求1所述的一種井壁微電阻率掃描成像測井儀的分段刻度方法，其特征在于，井壁微電阻率掃描成像測井儀的響應讀數為視電阻率數值。

5.根據權利要求1所述的一種井壁微電阻率掃描成像測井儀的分段刻度方法，其特征在于，根據電阻率R_i與響應讀數N_i確定井壁微電阻率掃描成像測井儀響應讀數與真電阻率數值的函數關系，由于井壁微電阻率掃描成像測井儀響應讀數與真電阻率數值關系并不存在固定形態，因此選擇采用分段刻度的方法確定井壁微電阻率掃描成像測井儀響應讀數與真電阻率數值的函數關系。

6.根據權利要求5所述的一種井壁微電阻率掃描成像測井儀的分段刻度方法，其特征在于，分段刻度的方法為：根據連續兩次測量使用的標準地層電阻率數值與儀器響應讀數，根據線性或對數刻度下R與N在局部范圍內近似線性相關的關系，得到乘因子k及加因子b，根據乘因子k及加因子b即可將測量得到的指定電阻率區間內井壁微電阻率掃描成像測井儀響應度數刻度為真電阻率數值。