[發明專利]一種測試設備及測試方法

在審

• 申請號: 201811376498.6
• 申請日: 2018-11-19
• 公開（公告）號: CN109542702A
• 公開（公告）日: 2019-03-29
• 發明（設計）人: 董術永;高陽;宋開鑫
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王寶筠

本申請公開了一種測試設備，包括：連接單元和處理單元，該連接單元與該處理單元連接；該連接單元用于連接至少兩個待測外插卡，該處理單元通過該連接單元同時獲取該至少兩個待測外插卡對應的目標信息，并對該至少兩個待測外插卡對應的目標信息進行處理，以得到分析結果。本申請實施例還提供相應的測試方法。本申請技術方案由于可以同時連接多個外插卡進行測試，提高了外插卡的測試效率。

技術領域

本申請涉及測試技術領域，具體涉及一種測試設備及測試方法。

背景技術

高速外圍組件互連(peripheral component interconnect express，PCIE)外插卡是服務器系統和存儲系統必不可少的關鍵部件。

在PCIE外插卡的研發和生產過程中，PCIE外插卡的測試一般是直接在所需配備PCIE外插卡的服務器主板或者存儲主板上進行測試，而這些主板上的PCIE插槽數量較少，面對PCIE外插卡的批量化測試則表現出測試效率較低問題。由此可見，如何提高外插卡的測試效率是一個需要解決的問題。

發明內容

本申請實施例提供一種測試設備及測試方法，可以同時連接多個待測外插卡進行測試，可以提高外插卡的測試效率。

為了達到上述目的，本申請實施例提供了如下技術方案：

本申請第一方面提供一種測試設備，該測試設備可以包括：連接單元和處理單元，所述連接單元與所述處理單元連接；所述連接單元用于連接至少兩個待測外插卡，所述處理單元通過所述連接單元同時獲取所述至少兩個待測外插卡對應的目標信息，并對所述至少兩個待測外插卡對應的目標信息進行處理，以得到分析結果。

可選地，結合上述第一方面，在第一種可能的實現方式中，所述連接單元包括第一芯片、至少兩個插槽、第二芯片和至少兩個狀態指示燈，其中，所述第一芯片與所述至少兩個插槽連接，所述第二芯片與所述至少兩個狀態指示燈連接；所述第一芯片用于控制所述至少兩個插槽，所述第二芯片用于控制所述至少兩個狀態指示燈，所述至少兩個插槽與所述至少兩個狀態指示燈的數量相同，所述至少兩個插槽與所述至少兩個狀態指示燈一一對應，所述至少兩個插槽用于連接所述至少兩個待測外插卡，所述至少兩個狀態指示燈用于指示所述至少兩個待測外插卡的連接(LINK)狀態。

可選地，結合上述第一方面第一種可能的實現方式，在第二種可能的實現方式中，當所述至少兩個狀態指示燈中的一個常亮時，指示對應的插槽連接的待測外插卡的所述LINK狀態正常；當所述至少兩個狀態指示燈中的一個閃爍時，指示對應的插槽連接的待測外插卡的所述LINK狀態異常。

可選地，結合上述第一方面、第一方面第一種和第二種中任意一種可能的實現方式，在第三種可能的實現方式中，所述待測外插卡包括高速外圍組件互連PCIE外插卡。

可選地，結合上述第一方面、第一方面第一種和第二種中任意一種可能的實現方式，在第四種可能的實現方式中，所述目標信息包括LINK狀態信息和帶寬信息。

本申請第二方面提供一種測試方法，該測試方法可以包括：測試設備控制連接單元連接至少兩個待測外插卡；所述測試設備控制處理單元通過所述連接單元同時獲取所述至少兩個待測外插卡對應的目標信息；所述測試設備控制所述處理單元對所述至少兩個待測外插卡對應的目標信息進行處理，以得到分析結果。

可選地，結合上述第二方面，在第一種可能的實現方式中，所述連接單元包括第一芯片、至少兩個插槽、第二芯片和至少兩個狀態指示燈，并且，所述第一芯片與所述至少兩個插槽連接，所述第二芯片與所述至少兩個狀態指示燈連接；所述測試設備控制連接單元連接至少兩個待測外插卡，包括：所述測試設備通過所述第一芯片控制所述至少兩個插槽連接所述至少兩個待測外插卡；所述測試方法還包括：所述測試設備通過所述第二芯片控制所述至少兩個狀態指示燈。