[發明專利]一種測試設備及測試方法

在審

• 申請號: 201811376498.6
• 申請日: 2018-11-19
• 公開（公告）號: CN109542702A
• 公開（公告）日: 2019-03-29
• 發明（設計）人: 董術永;高陽;宋開鑫
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王寶筠

1.一種測試設備，其特征在于，包括：

連接單元和處理單元，所述連接單元與所述處理單元連接；

所述連接單元用于連接至少兩個待測外插卡，所述處理單元通過所述連接單元同時獲取所述至少兩個待測外插卡對應的目標信息，并對所述至少兩個待測外插卡對應的目標信息進行處理，以得到分析結果。

2.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，

所述連接單元包括第一芯片、至少兩個插槽、第二芯片和至少兩個狀態指示燈，其中，所述第一芯片與所述至少兩個插槽連接，所述第二芯片與所述至少兩個狀態指示燈連接；

所述第一芯片用于控制所述至少兩個插槽，所述第二芯片用于控制所述至少兩個狀態指示燈，所述至少兩個插槽與所述至少兩個狀態指示燈的數量相同，所述至少兩個插槽與所述至少兩個狀態指示燈一一對應，所述至少兩個插槽用于連接所述至少兩個待測外插卡，所述至少兩個狀態指示燈用于指示所述至少兩個待測外插卡的連接LINK狀態。

3.根據權利要求2所述的測試設備，其特征在于，

當所述至少兩個狀態指示燈中的一個常亮時，指示對應的插槽連接的待測外插卡的所述LINK狀態正常；

當所述至少兩個狀態指示燈中的一個閃爍時，指示對應的插槽連接的待測外插卡的所述LINK狀態異常。

4.根據權利要求1-3任一所述的測試設備，其特征在于，所述待測外插卡包括高速外圍組件互連PCIE外插卡。

5.根據權利要求1-3任一所述的測試設備，其特征在于，所述目標信息包括LINK狀態信息和帶寬信息。

6.一種測試方法，其特征在于，包括：

測試設備控制連接單元連接至少兩個待測外插卡；

所述測試設備控制處理單元通過所述連接單元同時獲取所述至少兩個待測外插卡對應的目標信息；

所述測試設備控制所述處理單元對所述至少兩個待測外插卡對應的目標信息進行處理，以得到分析結果。

7.根據權利要求6所述的測試方法，其特征在于，

所述連接單元包括第一芯片、至少兩個插槽、第二芯片和至少兩個狀態指示燈，并且，所述第一芯片與所述至少兩個插槽連接，所述第二芯片與所述至少兩個狀態指示燈連接；

所述測試設備控制連接單元連接至少兩個待測外插卡，包括：

所述測試設備通過所述第一芯片控制所述至少兩個插槽連接所述至少兩個待測外插卡；

所述測試方法還包括：

所述測試設備通過所述第二芯片控制所述至少兩個狀態指示燈。

8.根據權利要求7所述的測試方法，其特征在于，所述測試方法還包括：

當所述測試設備通過所述第二芯片控制所述至少兩個狀態指示燈中的一個常亮時，指示對應的插槽連接的待測外插卡的連接LINK狀態正常；

當所述測試設備通過所述第二芯片控制所述至少兩個狀態指示燈中的一個閃爍時，指示對應的插槽連接的待測外插卡的所述LINK狀態異常。

9.根據權利要求6-8任一所述的測試方法，其特征在于，所述待測外插卡包括高速外圍組件互連PCIE外插卡。

10.根據權利要求6-8任一所述的測試方法，其特征在于，所述目標信息包括LINK狀態信息和帶寬信息。