[發(fā)明專利]一種基于模板輔助的透射電鏡樣品制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811375833.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-11-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109298000A | 公開(公告)日: | 2019-02-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馮宗強(qiáng);羅旋;張玲;吳桂林 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 重慶大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N23/2202 | 分類號(hào): | G01N23/2202 |
| 代理公司: | 重慶市信立達(dá)專利代理事務(wù)所(普通合伙) 50230 | 代理人: | 包曉靜 |
| 地址: | 400044 *** | 國(guó)省代碼: | 重慶;50 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 透射電鏡樣品 減薄 輔助的 制備 孔洞 減薄區(qū)域 薄區(qū) 透射電鏡薄膜 透射電鏡技術(shù) 電化學(xué)腐蝕 電解雙噴儀 激光切割 金屬模板 金屬圓片 模板孔洞 模板中心 設(shè)備要求 晾干 耐腐蝕 疊放 基材 清洗 取出 同心 加工 | ||
本發(fā)明屬于透射電鏡技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種基于模板輔助的透射電鏡樣品制備方法,根據(jù)待減薄透射電鏡樣品的電化學(xué)腐蝕特性、初始規(guī)格和擬獲得薄區(qū)的位置和范圍,選取耐腐蝕特性優(yōu)于待減薄樣品的金屬模板基材,采用機(jī)械和激光切割方法加工成中心具有孔洞的直徑3mm金屬圓片模板,其中模板中心孔洞略小于樣品擬減薄區(qū)域;將待減薄樣品疊放于模板上,調(diào)整樣品擬減薄區(qū)域與模板孔洞同心并做好固定,整體置于電解雙噴儀中進(jìn)行雙噴減薄;結(jié)束后取出樣品,經(jīng)清洗晾干后獲得具有特定薄區(qū)的透射電鏡薄膜樣品。本發(fā)明首次提出基于模板輔助的透射電鏡樣品制備方法,該方法工藝簡(jiǎn)單,操作便捷,設(shè)備要求低,適用材料廣泛。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于透射電鏡技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種基于模板輔助的透射電鏡樣品制備方法。
背景技術(shù)
目前,業(yè)內(nèi)常用的現(xiàn)有技術(shù)是這樣的:
透射電子顯微鏡是以電子束作為光源,利用電磁透鏡對(duì)穿透樣品的入射電子聚焦成像而獲得樣品形貌與結(jié)構(gòu)信息的電子光學(xué)儀器,在材料科學(xué)、生命科學(xué)和化學(xué)等領(lǐng)域中具有廣泛的應(yīng)用。制備出電子束可以穿透的、具有較大薄區(qū)范圍的透射電鏡薄膜樣品是成功實(shí)施透射電鏡顯微分析的前提條件,是得到高質(zhì)量研究成果的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一。金屬材料透射電鏡薄膜樣品通常可通過機(jī)械研磨、沖孔制片和電解雙噴減薄三個(gè)步驟制備。其中,電解雙噴減薄方法是將沖孔制備的直徑3mm圓片懸于對(duì)噴化學(xué)腐蝕液柱之間,并在樣品和液柱之間加電場(chǎng),通過電化學(xué)腐蝕方法在液柱觸及范圍內(nèi)獲得適宜薄區(qū)。目前商用電解雙噴儀噴射液柱直徑較粗(一般大于2mm),加之局部瞬時(shí)噴射流速、工作電壓和電流變化,腐蝕獲得薄區(qū)的位置和范圍難以精確控制,極易出現(xiàn)有孔洞無薄區(qū)的現(xiàn)象,致使樣品制備成功率降低。對(duì)于非標(biāo)準(zhǔn)3mm直徑金屬圓片如樣品尺寸小于液柱直徑的樣品,以及需要特定薄區(qū)位置的樣品如截面梯度結(jié)構(gòu)樣品、異質(zhì)多層結(jié)構(gòu)樣品等,受樣品尺寸、形態(tài)和結(jié)構(gòu)所限,采用傳統(tǒng)電解雙噴減薄方法難以精確控制薄區(qū)位置和范圍,且操作便捷性差、成功率低。離子減薄方法雖可用于此類樣品制備,但流程較為繁瑣,效率相對(duì)較低,成本相對(duì)較高。因此,迫切需要開發(fā)一種成本低、效率高、精度好、薄區(qū)大、操作簡(jiǎn)單、適用范圍廣的改進(jìn)型雙噴減薄制樣方法。
綜上所述,現(xiàn)有技術(shù)存在的問題是:對(duì)于非標(biāo)準(zhǔn)3mm直徑金屬圓片樣品以及需要特定薄區(qū)位置的樣品,由于受樣品尺寸、形態(tài)和結(jié)構(gòu)所限,采用現(xiàn)有電解雙噴減薄方法難以精確控制薄區(qū)位置和范圍,且操作便捷性差、成功率低。
解決上述技術(shù)問題的難度和意義:難度在于基于傳統(tǒng)電解雙噴減薄方法精確控制樣品電解腐蝕區(qū)域,進(jìn)而精確控制薄區(qū)位置和范圍,實(shí)現(xiàn)對(duì)非標(biāo)準(zhǔn)3mm直徑金屬圓片樣品以及需要特定薄區(qū)位置的樣品的雙噴減薄。發(fā)展基于模板輔助的透射電鏡樣品制備方法,可以在不改變現(xiàn)有電解雙噴儀構(gòu)造的基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)對(duì)非標(biāo)準(zhǔn)3mm直徑金屬圓片樣品以及需要特定薄區(qū)位置的樣品的雙噴減薄,具有低成本、高效率、易操作和適用范圍廣等特點(diǎn),對(duì)于采用傳統(tǒng)電解雙噴減薄方法精確制備異形復(fù)雜結(jié)構(gòu)透射電鏡樣品的技術(shù)難題具有重要意義。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為了解決非標(biāo)準(zhǔn)3mm直徑金屬圓片以及需要特定薄區(qū)位置的樣品采用電解雙噴減薄過程中難以精確控制薄區(qū)位置和范圍、操作便捷性差和成功率低等問題。
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的問題,本發(fā)明提供了一種基于模板輔助的透射電鏡樣品制備方法。
本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的,一種基于模板輔助的透射電鏡樣品制備方法,用于非標(biāo)準(zhǔn)3mm直徑金屬圓片樣品以及需要特定薄區(qū)位置的樣品的雙噴減薄。具體包括以下步驟:
步驟一:根據(jù)待減薄透射電鏡樣品的電化學(xué)腐蝕特性、初始規(guī)格和擬獲得薄區(qū)的位置和范圍,選取耐腐蝕特性優(yōu)于待減薄樣品的金屬模板基材,采用機(jī)械切割方法切取直徑3mm、厚度300-500μm的圓片,采用激光切割方法在樣品中心加工不同規(guī)格孔洞,制備成中心具有孔洞的直徑3mm金屬圓片模板;
步驟二:將待減薄樣品疊放于模板上,調(diào)整樣品擬減薄區(qū)域與模板孔洞同心并做好固定,然后將樣品和模板整體置于電解雙噴儀中進(jìn)行雙噴減薄;
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