[發明專利]測試程序生成方法、裝置、存儲介質及電子設備有效

申請號：	201811367342.1	申請日：	2018-11-16
公開（公告）號：	CN111198787B	公開（公告）日：	2021-11-02
發明（設計）人：	不公告發明人	申請（專利權）人：	長鑫存儲技術有限公司
主分類號：	G06F11/22	分類號：	G06F11/22
代理公司：	北京律智知識產權代理有限公司 11438	代理人：	袁禮君;闞梓瑄
地址：	230000 安徽省合肥市***	國省代碼：	安徽;34
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摘要：
搜索關鍵詞：	測試程序生成方法裝置存儲介質電子設備
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【說明書】：

本公開涉及一種測試程序生成方法、測試程序生成裝置、計算機可讀存儲介質及電子設備。本公開實施例中的測試程序生成方法包括：獲取待測試的所述存儲器的配置信息，并獲取針對所述存儲器的測試邏輯；根據所述測試邏輯從預設的測試程序組件庫中獲取至少一種測試程序組件；對多個所述測試程序組件進行組合得到與所述配置信息相匹配的測試程序。本公開實施例所提供的測試程序生成方法可以滿足不同的測試需求并適應不同的測試條件，而且可以避免編寫出錯的問題，提高了存儲器測試程序的生成效率和準確率。

技術領域

本公開涉及存儲器技術領域，具體涉及一種測試程序生成方法、測試程序生成裝置、計算機可讀存儲介質及電子設備。

背景技術

一般而言，存儲器生產廠商會提供標準的存儲器測試編碼程序，然而標準的存儲器測試編碼程序只能按照固定的時序規格和測試內容對存儲器產品進行測試，存在產品驗證分析效率低的問題。針對特殊的測試需求和測試條件，只能采用人工撰寫的方式進行程序編碼，對于數據量較大的復雜的測試程序往往容易出現編寫錯誤。因此，如何按照存儲器語言規則進行大數據測試編碼程序撰寫是目前亟待解決的問題。

需要說明的是，在上述背景技術部分公開的信息僅用于加強對本公開的背景的理解，因此可以包括不構成對本領域普通技術人員已知的現有技術的信息。

發明內容

本公開的目的在于提供一種測試程序生成方法、測試程序生成裝置、計算機可讀存儲介質及電子設備，進而至少在一定程度上克服由于相關技術的限制而導致的程序編碼效率低且容易出錯的技術問題。

根據本公開的一個方面，提供一種測試程序生成方法，所述測試程序用于對存儲器進行功能測試，其特殊之處在于，所述方法包括：

獲取待測試的所述存儲器的配置信息，并獲取針對所述存儲器的測試邏輯；

根據所述測試邏輯從預設的測試程序組件庫中獲取至少一種測試程序組件；

對多個所述測試程序組件進行組合得到與所述配置信息相匹配的測試程序。

在本公開的一種示例性實施方式中，對多個所述測試程序組件進行組合得到與所述配置信息相匹配的測試程序，包括：

根據所述配置信息確定所述存儲器中的多個待測試的存儲單元；

根據所述測試邏輯確定所述測試程序組件與所述存儲單元的匹配關系；

基于所述匹配關系對各個所述測試程序組件進行參數配置；

對經過參數配置后的多個所述測試程序組件進行組合以得到所述測試程序。