[發明專利]測試程序生成方法、裝置、存儲介質及電子設備

有效

• 申請號: 201811367342.1
• 申請日: 2018-11-16
• 公開（公告）號: CN111198787B
• 公開（公告）日: 2021-11-02
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 長鑫存儲技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京律智知識產權代理有限公司 11438
• 代理人: 袁禮君;闞梓瑄

1.一種測試程序生成方法，所述測試程序用于對存儲器進行功能測試，其特征在于，所述方法包括：

獲取待測試的所述存儲器的配置信息，并獲取針對所述存儲器的測試任務信息以及所述存儲器的歷史測試記錄；

基于所述測試任務信息和所述歷史測試記錄生成針對所述存儲器的測試邏輯；

根據所述測試邏輯從預設的測試程序組件庫中獲取至少一種測試程序組件；

對多個所述測試程序組件進行組合得到與所述配置信息相匹配的測試程序，其中，多個所述測試程序組件的組合順序與時序條件有關，所述時序條件包括在所述測試邏輯中。

2.根據權利要求1所述的測試程序生成方法，其特征在于，對多個所述測試程序組件進行組合得到與所述配置信息相匹配的測試程序，包括：

根據所述配置信息確定所述存儲器中的多個待測試的存儲單元；

根據所述測試邏輯確定所述測試程序組件與所述存儲單元的匹配關系；

基于所述匹配關系對各個所述測試程序組件進行參數配置；

對經過所述參數配置后的多個所述測試程序組件進行組合以得到所述測試程序。

3.根據權利要求2所述的測試程序生成方法，其特征在于，對經過所述參數配置后的多個所述測試程序組件進行組合以得到所述測試程序，包括：

根據所述測試邏輯確定各個所述存儲單元的測試類型以及各個所述測試類型的測試順序；

基于所述測試類型和所述測試順序確定經過所述參數配置后的多個所述測試程序組件的排列順序；

按照所述排列順序對多個所述測試程序組件進行組合以得到所述測試程序。

4.根據權利要求1所述的測試程序生成方法，其特征在于，對多個所述測試程序組件進行組合得到與所述配置信息相匹配的測試程序，包括：

根據所述配置信息確定所述存儲器中的多個存儲通道以及所述存儲通道中的多個待測試的存儲單元；

根據所述測試邏輯確定所述測試程序組件與每個所述存儲通道中的所述存儲單元的匹配關系；

基于所述匹配關系對各個所述測試程序組件進行參數配置；

對經過所述參數配置后的多個所述測試程序組件進行組合以得到與各個所述存儲通道相對應的通道測試子程序；

對多個所述通道測試子程序進行組合以得到所述測試程序。

5.根據權利要求4所述的測試程序生成方法，其特征在于，對經過所述參數配置后的多個所述測試程序組件進行組合以得到與各個所述存儲通道相對應的通道測試子程序，包括：

根據所述測試邏輯確定每個所述存儲通道中的各個所述存儲單元的測試類型以及各個所述測試類型的測試順序；

基于所述測試類型和所述測試順序確定與各個所述存儲通道相對應的經過所述參數配置后的多個所述測試程序組件的排列順序；

按照所述排列順序對多個所述測試程序組件進行組合以得到與各個所述存儲通道相對應的通道測試子程序。

6.根據權利要求1-5中任意一項所述的測試程序生成方法，其特征在于，在對多個所述測試程序組件進行組合得到與所述配置信息相匹配的測試程序之后，所述方法還包括：

獲取與所述測試邏輯相對應的時序間隔信息；

基于所述時序間隔信息，調整所述測試程序中的各個所述測試程序組件之間的時序間隔。

7.一種測試程序生成裝置，所述測試程序用于對存儲器進行功能測試，其特征在于，所述裝置包括：

信息獲取模塊，被配置為獲取待測試的所述存儲器的配置信息，并獲取針對所述存儲器的測試任務信息以及所述存儲器的歷史測試記錄；

組件獲取模塊，被配置為基于所述測試任務信息和所述歷史測試記錄生成針對所述存儲器的測試邏輯，根據所述測試邏輯從預設的測試程序組件庫中獲取至少一種測試程序組件；

組件組合模塊，被配置為對多個所述測試程序組件進行組合得到與所述配置信息相匹配的測試程序，其中，多個所述測試程序組件的組合順序與時序條件有關，所述時序條件包括在所述測試邏輯中。