[發明專利]決定集成電路之電壓及找出電壓與電路參數之關系的方法

有效

• 申請號: 201811365095.1
• 申請日: 2018-11-16
• 公開（公告）號: CN111274751B
• 公開（公告）日: 2023-07-25
• 發明（設計）人: 陳英杰;余美儷;羅幼嵐;林欣樟;高淑怡
• 申請（專利權）人: 瑞昱半導體股份有限公司
• 主分類號: G06F30/3315
• 分類號: G06F30/3315
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 梁麗超;田喜慶

本發明披露一種決定集成電路之電壓及找出電壓與電路參數之關系的方法。決定IC之電壓的方法包含：依據電路設計進行一靜態時序分析，以得到該電路設計之一關鍵路徑的數據，再據以產生一網表；依據一標準電壓及多個預設參數對網表執行電路參數模擬以及蒙特卡羅模擬，以分別得到電路參數參考值以及多個電路參數值的方差；依據預設電壓范圍執行適應性電壓調整分析，以得到電壓與電路參數關系，該電壓與電路參數關系指出該預設電壓范圍內多個預設電壓的每一個所關聯的電路參數偏移達到了多少個方差；以及依據該標準電壓測試IC，以得到該IC之電路參數測試值，并依據該電路參數測試值與該電路參數參考值之差以及該電壓與電路參數關系，決定IC之供應電壓。

技術領域

本發明是關于一種電壓決定方法，尤其是關于一種決定集成電路之電壓以及找出電壓與電路參數之關系的方法。

背景技術

分析制程飄移對生產良率(production?yield)/信號傳輸延遲之影響面臨下列問題：

(1)在固定電壓下，以不同的制程飄移值/模型(process?variance/model)進行模擬時，信號傳輸延遲的偏移量常會造成集成電路的功能失效或無法通過驗證。

(2)使用制程飄移值/模型來進行分析僅限于固定電壓的分析，無法以適應性電壓調整的方式來分析飄移值對信號傳輸延遲的影響。

(3)若針對電路之關鍵路徑上的每種元件，使用所有制程飄移值/模型來進行特性描述(characterization)，會非常耗時。

(4)使用特性描述參數庫模型(characterization?library?model)之分析與關鍵路徑電路模擬之間有0～5％左右的誤差。

另有一種采用適應性電壓調整的技術可見于下列文獻：專利號US8884685之美國專利。上述技術需要特定電路，不易被廣泛應用。

發明內容

本發明之一目的在于提供一種決定集成電路之電壓以及找出電壓與電路參數之關系的方法，以避免先前技術的問題。

本發明披露了一種決定集成電路之電壓的方法，包含：依據一電路設計進行一靜態時序分析，以得到該電路設計之一關鍵路徑的數據，再依據該關鍵路徑的該數據產生一網表；依據一標準電壓及多個預設參數對該網表執行一電路參數模擬以及一蒙特卡羅模擬，以分別得到一電路參數參考值以及多個電路參數值的一方差；依據一預設電壓范圍執行一適應性電壓調整分析，以得到一電壓與電路參數關系，其中該電壓與電路參數關系指出該預設電壓范圍內多個預設電壓的每一個所關聯的一電路參數偏移達到了多少個該方差；以及依據該標準電壓測試一實體集成電路，以得到該實體集成電路之一電路參數測試值，并依據該電路參數測試值與該電路參數參考值之一測試參數差以及該電壓與電路參數關系，決定該實體集成電路之一供應電壓。

本發明另披露一種找出電壓與電路參數之關系的方法，包含：依據一電路設計進行一靜態時序分析，以得到該電路設計之一關鍵路徑的數據，再依據該關鍵路徑的該數據產生一網表；依據一標準電壓及多個預設參數對該網表執行一電路參數模擬以及一蒙特卡羅模擬，以分別得到一電路參數參考值以及一方差；以及依據一預設電壓范圍執行一適應性電壓調整分析，以得到一電壓與電路參數關系，其中該電壓與電路參數關系指出該預設電壓范圍內多個預設電壓的每一個所關聯的一電路參數偏移達到了多少個該方差。

有關本發明的特征、實施方式與功效，茲配合圖式作較佳實施例詳細說明如下。

附圖說明

圖1顯示本發明之決定集成電路之電壓的方法的一實施例；

圖2顯示圖1所述之關鍵路徑的一實施例；

圖3顯示圖1所述之多個電路參數值的一實施例所構成的機率分布圖；以及

圖4顯示圖1所述之電壓與電路參數關系的一實施例。

具體實施方式