[發明專利]決定集成電路之電壓及找出電壓與電路參數之關系的方法有效
| 申請號： | 201811365095.1 | 申請日： | 2018-11-16 |
| 公開（公告）號： | CN111274751B | 公開（公告）日： | 2023-07-25 |
| 發明（設計）人： | 陳英杰;余美儷;羅幼嵐;林欣樟;高淑怡 | 申請（專利權）人： | 瑞昱半導體股份有限公司 |
| 主分類號： | G06F30/3315 | 分類號： | G06F30/3315 |
| 代理公司： | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人： | 梁麗超;田喜慶 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 決定 集成電路 電壓 找出 電路 參數 關系 方法 | ||
1.一種決定集成電路之電壓的方法，包含：
依據一電路設計進行一靜態時序分析，以得到該電路設計之一關鍵路徑的數據，再依據該關鍵路徑的該數據產生一網表；
依據一標準電壓及多個預設參數對該網表執行一電路參數模擬以及一蒙特卡羅模擬，以分別得到一電路參數參考值以及多個電路參數值的一方差；
依據一預設電壓范圍執行一適應性電壓調整分析，以得到一電壓與電路參數關系，其中該電壓與電路參數關系指出該預設電壓范圍內多個預設電壓的每一個所關聯的一電路參數偏移達到了多少個該方差；以及
依據該標準電壓測試一實體集成電路，以得到該實體集成電路之一電路參數測試值，并依據該電路參數測試值與該電路參數參考值之一測試參數差以及該電壓與電路參數關系，決定該實體集成電路之一供應電壓，
其中該標準電壓與該供應電壓之一電壓差正比于該測試參數差，其中該多個預設參數包含多個制程參數。
2.如權利要求1所述的決定集成電路之電壓的方法，其中該標準電壓位于該預設電壓范圍內。
3.如權利要求1所述的決定集成電路之電壓的方法，其中該電路參數模擬是一制程角落模擬。
4.如權利要求3所述的決定集成電路之電壓的方法，其中該電路參數模擬是一典型-典型角落模擬。
5.如權利要求1所述的決定集成電路之電壓的方法，其中該電路參數參考值與該電路參數測試值均為該關鍵路徑的信號傳輸延遲值。
6.如權利要求1所述的決定集成電路之電壓的方法，其中該多個預設參數還包含下列參數的至少其中之一：該關鍵路徑之一回轉參數；
該關鍵路徑之一負載參數；以及一電壓下降參數。
7.如權利要求1所述的決定集成電路之電壓的方法，其中該實體集成電路于該供應電壓下的一電路參數實際值、該電路參數測試值與該電路參數參考值為同一類型的參數值，且該電路參數實際值與該電路參數參考值之一實際參數差小于該電路參數測試值與該電路參數參考值之該測試參數差。
8.一種找出電壓與電路參數之關系的方法，包含：
依據一電路設計進行一靜態時序分析，以得到該電路設計之一關鍵路徑的數據，再依據該關鍵路徑的該數據產生一網表；
依據一標準電壓及多個預設參數對該網表執行一電路參數模擬以及一蒙特卡羅模擬，以分別得到一電路參數參考值以及一方差；以及
依據一預設電壓范圍執行一適應性電壓調整分析，以得到一電壓與電路參數關系，其中該電壓與電路參數關系指出該預設電壓范圍內多個預設電壓的每一個所關聯的一電路參數偏移達到了多少個該方差，
其中該標準電壓是適用于該電路設計及其制程的電壓，其中該多個預設參數包含多個制程參數。
9.如權利要求8所述的找出電壓與電路參數之關系的方法，其中該電路參數模擬是一制程角落模擬。
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