[發明專利]一種狹窄空間內間隙磁性測量裝置及其測量方法

在審

• 申請號: 201811341617.4
• 申請日: 2018-11-12
• 公開（公告）號: CN109520406A
• 公開（公告）日: 2019-03-26
• 發明（設計）人: 謝炎武
• 申請（專利權）人: 縉云縣廣華科技有限公司
• 主分類號: G01B7/14
• 分類號: G01B7/14
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種狹窄空間內間隙磁性測量裝置及其測量方法，其包括手持基座以及設置在手持基座上的測針組件、驅動機構、磁性計數機構和控制器。本發明中采用驅動電機分別與測針組件和磁性計數機構相連接的方式，使得測針組件測量過程中產生的測量值轉換成磁片的位移值，進而避免了現有技術中需要手動調節測針進行測量工作導致測量裝置體積大、測量不便以及測量結果不準確的問題；其中，驅動電機和磁性計數機構均設置在手持基座的內部，進一步減小了測量裝置的整體體積；采用在第一磁片和第二磁片上均設置位移傳感器的方式，實現了對雙磁片均進行位移檢測的技術目的，提高了間隙測量精度。

技術領域

本發明涉及工業設備測量技術領域，特別是涉及一種狹窄空間內間隙磁性測量裝置及其測量方法。

背景技術

目前，工業的快速發展在促進制造業繁榮的同時，也對質量及尺寸精度要求越來越高，尤其是對總成件或單件產品的尺寸控制提出了更高的精度要求。尺寸檢查方式從產品抽檢逐步走向全檢，并要求實現自動數據采集、監控、分析和追溯的控制需求。

在傳統的測量方式，一般采用卡尺、止通規或塞尺等量具進行間隙和長腰孔尺寸的測量。采用卡尺測量時，由于卡腳位置限制、尺身長度等因素，對隱 蔽部位的測量幾乎不能實現；采用止通規測量只能滿足定性測量，不能進行定量測量；采用塞尺測量基本可行，但需要不停調整塞片的尺寸和數量，測量效率，測量精度低，重復性再現性差。以上各類方法都不能實現數據的自動采集和記錄功能，無法很好得滿足客戶提出對產品尺寸控制的實際需求。

發明內容

本發明的目的在于針對現有技術的缺陷和不足，提供一種便攜性好、測量精度高以及自動化程度好的狹窄空間內間隙磁性測量裝置及其測量方法。

為實現上述目的，本發明提供了如下方案：本發明提供一種狹窄空間內間隙磁性測量裝置，包括手持基座以及設置在所述手持基座上的測針組件、驅動機構、磁性計數機構和控制器，所述手持基座為中空結構，所述測針組件包括第一測針和第二測針，所述驅動機構包括驅動電機和驅動桿，所述驅動電機的一端輸出軸與所述驅動桿相連接，所述驅動桿與所述手持基座的內壁活動導向連接，所述驅動桿上設置有第三磁片，所述第一測針和/或所述第二測針與所述驅動電機的另一端輸出軸相連接，所述磁性計數機構包括磁室、第一磁片、第二磁片、連接桿、位移傳感器和顯示屏組件，所述磁室的兩端分別設置有第一電磁發生裝置和第二電磁發生裝置，所述第一電磁發生裝置和所述第二電磁發生裝置分別與所述第一磁片相排斥和相吸引，所述第一電磁發生裝置和所述第二電磁發生裝置均與所述控制器電聯接，所述第一磁片位于所述磁室內部，所述第一磁片與所述磁室的內壁活動導向連接，所述第二磁片設置在所述磁室外部，所述第一磁片與所述第二磁片通過所述連接桿相連接，所述第二磁片與所述第三磁片相對設置在所述手持基座的內部，所述第二磁片與所述第三磁片之間存在間隙，所述第二磁片與所述第三磁片相排斥，所述第一磁片和所述第二磁片上設置有所述位移傳感器，所述位移傳感器均與所述控制器電聯接，所述顯示器設置在所述手持基座的外壁上，所述顯示屏組件與所述控制器電聯接。

優選的，所述第一磁片與所述磁室的內壁活動導向連接，其中，所述磁室的內壁上設置有第一導向滑槽，所述第一磁片上設置有第一導向凸塊，或者所述磁室的內壁上設置有第一導向凸塊，所述第一磁片上設置有第一導向滑槽；所述驅動桿與所述手持基座的內壁活動導向連接，其中，所述手持基座的內壁上設置有第二導向滑槽，所述驅動桿上設置有第二導向凸塊，或者所述手持基座的內壁上設置有第二導向凸塊，所述驅動桿上設置有第二導向滑槽。

優選的，所述驅動電機的一端輸出軸和另一端輸出軸上均設置有齒輪，所述驅動桿、所述第一測針和/或所述第二測針上均設置有齒槽，所述齒輪與所述齒槽相嚙合。