[發明專利]一種狹窄空間內間隙磁性測量裝置及其測量方法

在審

• 申請號: 201811341617.4
• 申請日: 2018-11-12
• 公開（公告）號: CN109520406A
• 公開（公告）日: 2019-03-26
• 發明（設計）人: 謝炎武
• 申請（專利權）人: 縉云縣廣華科技有限公司
• 主分類號: G01B7/14
• 分類號: G01B7/14
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種狹窄空間內間隙磁性測量裝置，其特征在于，包括手持基座以及設置在所述手持基座上的測針組件、驅動機構、磁性計數機構和控制器，所述手持基座為中空結構，所述測針組件包括第一測針和第二測針，所述驅動機構包括驅動電機和驅動桿，所述驅動電機的一端輸出軸與所述驅動桿相連接，所述驅動桿與所述手持基座的內壁活動導向連接，所述驅動桿上設置有第三磁片，所述第一測針和/或所述第二測針與所述驅動電機的另一端輸出軸相連接，所述磁性計數機構包括磁室、第一磁片、第二磁片、連接桿、位移傳感器和顯示屏組件，所述磁室的兩端分別設置有第一電磁發生裝置和第二電磁發生裝置，所述第一電磁發生裝置和所述第二電磁發生裝置分別與所述第一磁片相排斥和相吸引，所述第一電磁發生裝置和所述第二電磁發生裝置均與所述控制器電聯接，所述第一磁片位于所述磁室內部，所述第一磁片與所述磁室的內壁活動導向連接，所述第二磁片設置在所述磁室外部，所述第一磁片與所述第二磁片通過所述連接桿相連接，所述第二磁片與所述第三磁片相對設置在所述手持基座的內部，所述第二磁片與所述第三磁片之間存在間隙，所述第二磁片與所述第三磁片相排斥，所述第一磁片和所述第二磁片上設置有所述位移傳感器，所述位移傳感器均與所述控制器電聯接，所述顯示器設置在所述手持基座的外壁上，所述顯示屏組件與所述控制器電聯接。

2.根據權利要求1所述的狹窄空間內間隙磁性測量裝置，其特征在于，所述第一磁片與所述磁室的內壁活動導向連接，其中，所述磁室的內壁上設置有第一導向滑槽，所述第一磁片上設置有第一導向凸塊，或者所述磁室的內壁上設置有第一導向凸塊，所述第一磁片上設置有第一導向滑槽；所述驅動桿與所述手持基座的內壁活動導向連接，其中，所述手持基座的內壁上設置有第二導向滑槽，所述驅動桿上設置有第二導向凸塊，或者所述手持基座的內壁上設置有第二導向凸塊，所述驅動桿上設置有第二導向滑槽。

3.根據權利要求1所述的狹窄空間內間隙磁性測量裝置，其特征在于，所述驅動電機的一端輸出軸和另一端輸出軸上均設置有齒輪，所述驅動桿、所述第一測針和/或所述第二測針上均設置有齒槽，所述齒輪與所述齒槽相嚙合。

4.根據權利要求3所述的狹窄空間內間隙磁性測量裝置，其特征在于，所述第一測針和/或所述第二測針與所述驅動電機的另一端輸出軸相連接，其中，當所述第一測針為固定測針，所述第二測針為活動測針時，所述第一測針與所述手持基座固定連接，所述第二測針與所述手持基座活動連接，所述第二測針通過一設置有齒槽的連接板與所述驅動電機的另一端輸出軸嚙合連接；所述第二測針為固定測針，所述第一測針為活動測針時，所述第二測針與所述手持基座固定連接，所述第一測針與所述手持基座活動連接，所述第一測針通過一設置有齒槽的連接板與所述驅動電機的另一端輸出軸嚙合連接；當所述第一測針和所述第二測針均為活動測針時，所述第一測針和所述第二測針均與所述手持基座活動連接，所述第一測針和所述第二測針均通過一設置有齒槽的連接板與所述驅動電機的另一端輸出軸嚙合連接。

5.根據權利要求4所述的狹窄空間內間隙磁性測量裝置，其特征在于，所述活動測針上設置有壓力傳感器，所述壓力傳感器與所述控制器電聯接。

6.根據權利要求1所述的狹窄空間內間隙磁性測量裝置，其特征在于，所述顯示屏組件包括相連接的顯示屏和終端處理器，當所述第一磁片和所述第二磁片上均設置有所述位移傳感器時，所述位移傳感器將所述第一磁片和所述第二磁片的位移信息傳遞給所述控制器，所述控制器根據所述第一磁片和所述第二磁片的位移信息傳遞給所述終端處理器，所述終端處理器對所述第一磁片和所述第二磁片的位移信息進行平均值處理后得到平均位移值，并將所述平均位移值顯示在所述顯示屏上。

7.根據權利要求1-6中任一項所述的狹窄空間內間隙磁性測量裝置，其特征在于，所述第一磁片、所述第二磁片和所述第三磁片均為永磁體，所述第一電磁發生裝置和所述第二電磁發生裝置均為電磁線圈。

8.根據權利要求1-6中任一項所述的狹窄空間內間隙磁性測量裝置，其特征在于，所述第一測針和所述第二測針的數量均為一個或兩個。