[發明專利]測試方法、裝置和存儲介質

有效

• 申請號: 201811341295.3
• 申請日: 2018-11-12
• 公開（公告）號: CN109272911B
• 公開（公告）日: 2019-08-30
• 發明（設計）人: 李超;張一凡
• 申請（專利權）人: 成都中電熊貓顯示科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G02F1/13
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 榮甜甜;劉芳

本發明提供一種測試方法、裝置和存儲介質，該方法包括：控制每個晶體管開關的柵極電壓在第一預設時間段內為第一電壓，并控制每個晶體管開關的柵極電壓在第二預設時間段內為關斷電壓，以將每個晶體管開關對應的像素塊在導通時的顯示亮度調整為第一亮度，第一預設時間段與第二預設時間段之和為晶體管開關的一個開關周期；控制每個晶體管開關的存儲電容的電壓在第一開關周期內為第二電壓，控制每個晶體管開關公共電壓在第一開關周期內為0V，使得測試面板中存在故障的像素塊在第一開關周期內顯示為第二亮度，第二電壓大于源極電壓。本發明的測試方法能夠使得故障的像素塊亮點化，使得操作人員便于在亮度暗的測試面板中檢出顯示為亮點的故障像素塊。

技術領域

本發明涉及液晶顯示器制造技術領域，尤其涉及一種測試方法、裝置和存儲介質。

背景技術

液晶顯示器是一種平面、超薄的顯示設備。液晶顯示器的功耗很低，并且具有高畫質、體積小、重量輕的特點，因此倍受大家青睞，成為顯示器的主流。目前液晶顯示器是以薄膜晶體管(Thin Film Transistor，TFT)液晶顯示器為主，而一般薄膜晶體管液晶顯示器的制作可大致分為三部分：薄膜晶體管陣列(TFT Array)制備過程、彩色濾光板制備工程、液晶顯示單元組裝(LC Cell Assembly)制備過程和液晶顯示模塊(Liquid Crystal Module，LCM)制備過程。液晶面板在制作的過程中，需要進行多個檢驗程序，其中一個很重要檢驗程序就是對切割完成的液晶面板進行測試，確認液晶面板是否存在缺陷。該測試過程是對液晶面板輸入測試信號，使其像素呈現色彩，接著通過缺陷檢測裝置逐一觀察各個像素是否良好，此過程稱為點燈測試(Light-on Test)。

現有技術中，在點燈測試的過程中，需要為液晶面板提供背光，使得液晶面板中的像素塊被點亮，操作人員在點亮的液晶面板中檢查每個像素塊是否正常顯示，排出具有缺陷的液晶面板。

但由于人眼感官的問題，操作人員在點亮的液晶面板中檢查有缺陷的黑點較為困難，且容易漏檢，使得檢查結果的準確率低。

發明內容

本發明提供一種測試方法、裝置和存儲介質，能夠使得故障的像素塊亮點化，使得操作人員便于在亮度暗的測試面板中檢出顯示為亮點的故障像素塊，提高檢出效率。

本發明的第一方面提供一種測試方法，應用于測試面板，所述測試面板包括多個像素塊，每個所述像素塊對應一個晶體管開關，包括：

控制每個所述晶體管開關的柵極電壓在第一預設時間段內為第一電壓，并控制每個所述晶體管開關的柵極電壓在第二預設時間段內為關斷電壓，以將每個所述晶體管開關對應的像素塊在導通時的顯示亮度調整為第一亮度，所述第一亮度的亮度值與所述晶體管開關的源極電壓的大小正相關，所述第一電壓為所述晶體管開關的導通電壓，所述第一預設時間段與所述第二預設時間段之和為所述晶體管開關的一個開關周期；

控制每個所述晶體管開關的存儲電容的電壓在第一開關周期內為第二電壓，控制每個所述晶體管開關公共電壓在所述第一開關周期內為0V，使得所述測試面板中存在故障的像素塊在所述第一開關周期內顯示為第二亮度，所述第二亮度的亮度值與所述第二電壓的大小正相關，所述第二電壓大于所述源極電壓。

可選的，所述方法還包括：

控制所述晶體管開關的源極電壓在所述第一開關周期內為0V，以將每個所述晶體管開關對應的像素塊在導通時的顯示亮度調整為第三亮度，所述第三亮度的亮度值為0。

可選的，所述方法還包括：

控制每個所述晶體管開關的存儲電容的電壓在第二開關周期內為第三電壓，控制每個所述晶體管開關公共電壓、源極電壓在所述第二開關周期內為0V，所述第二電壓和所述第三電壓的大小相等且方向相反，所述第一開關周期和所述第二開關周期為相鄰的開關周期。