[發(fā)明專利]測試方法、裝置和存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811341295.3
• 申請日: 2018-11-12
• 公開（公告）號(hào): CN109272911B
• 公開（公告）日: 2019-08-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李超;張一凡
• 申請（專利權(quán)）人: 成都中電熊貓顯示科技有限公司
• 主分類號(hào): G09G3/00
• 分類號(hào): G09G3/00;G02F1/13
• 代理公司: 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205
• 代理人: 榮甜甜;劉芳

1.一種測試方法，其特征在于，應(yīng)用于測試面板，所述測試面板包括多個(gè)像素塊，每個(gè)所述像素塊對應(yīng)一個(gè)晶體管開關(guān)，包括：

控制每個(gè)所述晶體管開關(guān)的柵極電壓在第一預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)為第一電壓，并控制每個(gè)所述晶體管開關(guān)的柵極電壓在第二預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)為關(guān)斷電壓，以將每個(gè)所述晶體管開關(guān)對應(yīng)的像素塊在導(dǎo)通時(shí)的顯示亮度調(diào)整為第一亮度，所述第一亮度的亮度值與所述晶體管開關(guān)的源極電壓的大小正相關(guān)，所述第一電壓為所述晶體管開關(guān)的導(dǎo)通電壓，所述第一預(yù)設(shè)時(shí)間段與所述第二預(yù)設(shè)時(shí)間段之和為所述晶體管開關(guān)的一個(gè)開關(guān)周期；

控制每個(gè)所述晶體管開關(guān)的存儲(chǔ)電容的電壓在第一開關(guān)周期內(nèi)為第二電壓，控制每個(gè)所述晶體管開關(guān)公共電壓在所述第一開關(guān)周期內(nèi)為0V，使得所述測試面板中存在故障的像素塊在所述第一開關(guān)周期內(nèi)顯示為第二亮度，所述第二亮度的亮度值與所述第二電壓的大小正相關(guān)，所述第二電壓大于所述源極電壓。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

控制所述晶體管開關(guān)的源極電壓在所述第一開關(guān)周期內(nèi)為0V，以將每個(gè)所述晶體管開關(guān)對應(yīng)的像素塊在導(dǎo)通時(shí)的顯示亮度調(diào)整為第三亮度，所述第三亮度的亮度值為0。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

控制每個(gè)所述晶體管開關(guān)的存儲(chǔ)電容的電壓在第二開關(guān)周期內(nèi)為第三電壓，控制每個(gè)所述晶體管開關(guān)公共電壓、源極電壓在所述第二開關(guān)周期內(nèi)為0V，所述第二電壓和所述第三電壓的大小相等且方向相反，所述第一開關(guān)周期和所述第二開關(guān)周期為相鄰的開關(guān)周期。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述第二電壓與所述源極電壓的差值大于電壓差值閾值，所述第三電壓與所述源極電壓的差值大于所述電壓差值閾值。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一預(yù)設(shè)時(shí)間段為像素塊完全放電的時(shí)間。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一預(yù)設(shè)時(shí)間段為500us。

7.一種測試裝置，其特征在于，包括：

第一亮度控制模塊，用于控制每個(gè)晶體管開關(guān)的柵極電壓在第一預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)為第一電壓，并控制每個(gè)所述晶體管開關(guān)的柵極電壓在第二預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)為關(guān)斷電壓，以將每個(gè)所述晶體管開關(guān)對應(yīng)的像素塊在導(dǎo)通時(shí)的顯示亮度調(diào)整為第一亮度，所述第一亮度的亮度值與所述晶體管開關(guān)的源極電壓的大小正相關(guān)，所述第一電壓為所述晶體管開關(guān)的導(dǎo)通電壓，所述第一預(yù)設(shè)時(shí)間段與所述第二預(yù)設(shè)時(shí)間段之和為所述晶體管開關(guān)的一個(gè)開關(guān)周期；

第二亮度控制模塊，用于控制每個(gè)所述晶體管開關(guān)的存儲(chǔ)電容的電壓在第一開關(guān)周期內(nèi)為第二電壓，控制每個(gè)所述晶體管開關(guān)公共電壓在所述第一開關(guān)周期內(nèi)為0V，使得所述測試面板中存在故障的像素塊在所述第一開關(guān)周期內(nèi)顯示為第二亮度，所述第二亮度的亮度值與所述第二電壓的大小正相關(guān)，所述第二電壓大于所述源極電壓。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：第三亮度控制模塊；

所述第三亮度控制模塊，用于控制所述晶體管開關(guān)的源極電壓在所述第一開關(guān)周期內(nèi)為0V，以將每個(gè)所述晶體管開關(guān)對應(yīng)的像素塊在導(dǎo)通時(shí)的顯示亮度調(diào)整為第三亮度，所述第三亮度的亮度值為0。

9.一種測試裝置，其特征在于，其特征在于，包括：至少一個(gè)處理器和存儲(chǔ)器；

所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)執(zhí)行指令；

所述至少一個(gè)處理器執(zhí)行所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)的計(jì)算機(jī)執(zhí)行指令，使得所述測試裝置執(zhí)行權(quán)利要求1-6任一項(xiàng)所述的方法。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)執(zhí)行指令，當(dāng)所述計(jì)算機(jī)執(zhí)行指令被處理器執(zhí)行時(shí)，實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-6任一項(xiàng)所述的方法。