[發明專利]一種掉電檢測方法及系統

在審

• 申請號: 201811336792.4
• 申請日: 2018-11-12
• 公開（公告）號: CN109188990A
• 公開（公告）日: 2019-01-11
• 發明（設計）人: 趙曉明;俞玉春
• 申請（專利權）人: 蘇州易德龍科技股份有限公司
• 主分類號: G05B19/042
• 分類號: G05B19/042;G05B19/048
• 代理公司: 蘇州創元專利商標事務所有限公司 32103
• 代理人: 范晴

本發明公開了一種掉電檢測方法及系統，通過計算正常工作電壓下、掉電檢測閾值電壓下和定期運行AD轉換任務這三種情況下的AD值，并進行三種AD值的比較，從而判斷系統是否存在掉電可能。通過該發明可在無需占用MCU管腳和無需額外硬件電路的前提下，實現控制系統的掉電檢測，降低了產品的成本。

技術領域

本發明涉及系統控制領域，具體涉及一種掉電檢測方法及系統。

背景技術

對于沒有備用電源的控制系統，若因某種原因導致該控制系統突然掉電，則控制系統的各種運行狀態數據將丟失。在下次重新上電后，控制系統會因運行數據的丟失而無法繼續執行掉電前的控制任務，甚至導致系統異常報錯。

以往的掉電檢測方案需要相對復雜的硬件電路及相應的MCU控制算法，不但占用更多MCU管件資源，且增加了硬件成本。

發明內容

本發明目的是：本發明提出了一種掉電檢測方法及系統，通過計算正常工作電壓下、掉電檢測閾值電壓下和定期運行AD轉換任務這三種情況下的AD值，并進行三種AD值的比較，從而判斷系統是否存在掉電可能。通過該發明可在無需占用MCU管腳和無需額外硬件電路的前提下，實現控制系統的掉電檢測，降低了產品的成本。

本發明的技術方案是：一種掉電檢測方法，包括以下步驟：

S1：使能MCU中內部參考電壓Vref的輸出；

S2：計算MCU在正常工作電壓下，其內部參考電壓Vref對應的第一AD值；

S3：設置掉電檢測閾值電壓，并計算MCU在掉電檢測閾值電壓下，其內部參考電壓Vref對應的第二AD值；

S4：將MCU的內部參考電壓Vref執行AD轉換任務，并在MCU軟件中定期運行該AD轉換任務，得到第三AD值；

S5：比較第三AD值與第一AD值，若第三AD值大于第一AD值，則系統有電壓降低的趨勢；比較第三AD值與第二AD值，若第三AD值大于第二AD值，則系統電壓已經降低到掉電檢測的閾值點，此時觸發掉電保護操作。

在一個實施例中，S1中所述的內部參考電壓Vref是為了使ADC模塊有更高的轉換精度值而設計的，該內部參考電壓輸出Vref是一個穩定、精確的電壓值。

在一個實施例中，S3中所述的掉電檢測閾值電壓是根據系統的工作電壓范圍，所設置合適的掉電檢測閾值電壓。

在一個實施例中，S5中所述的掉電保護操作進一步為啟動系統運行狀態數據保存任務。

本發明還提供一種掉電檢測系統，包括以下模塊：

使能模塊，用于使能MCU中內部參考電壓Vref的輸出；

第一計算模塊，用于計算MCU在正常工作電壓下，其內部參考電壓Vref對應的第一AD值；

第二計算模塊，用于設置掉電檢測閾值電壓，并計算MCU在掉電檢測閾值電壓下，其內部參考電壓Vref對應的第二AD值；

第三計算模塊，用于將MCU的內部參考電壓Vref執行AD轉換任務，并在MCU軟件中定期運行該AD轉換任務，得到第三AD值；

比較模塊，用于比較第三AD值與第一AD值，若第三AD值大于第一AD值，則系統有電壓降低的趨勢；比較第三AD值與第二AD值，若第三AD值大于第二AD值，則系統電壓已經降低到掉電檢測的閾值點，此時觸發掉電保護操作。

本發明的優點是：本發明改善現有的掉電檢測方式，既無需占用MCU管腳資源，也無需增加專門用于掉電檢測的硬件電路，以達到節省MCU資源、降低產品成本的目的。

附圖說明

下面結合附圖及實施例對本發明作進一步描述 ：