[發(fā)明專利]一種掉電檢測方法及系統(tǒng)

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• 申請?zhí)枺?/td>: 201811336792.4
• 申請日: 2018-11-12
• 公開（公告）號: CN109188990A
• 公開（公告）日: 2019-01-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 趙曉明;俞玉春
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州易德龍科技股份有限公司
• 主分類號: G05B19/042
• 分類號: G05B19/042;G05B19/048
• 代理公司: 蘇州創(chuàng)元專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 32103
• 代理人: 范晴

1.一種掉電檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1：使能MCU中內(nèi)部參考電壓Vref的輸出；

S2：計算MCU在正常工作電壓下，其內(nèi)部參考電壓Vref對應(yīng)的第一AD值；

S3：設(shè)置掉電檢測閾值電壓，并計算MCU在掉電檢測閾值電壓下，其內(nèi)部參考電壓Vref對應(yīng)的第二AD值；

S4：將MCU的內(nèi)部參考電壓Vref執(zhí)行AD轉(zhuǎn)換任務(wù)，并在MCU軟件中定期運行該AD轉(zhuǎn)換任務(wù)，得到第三AD值；

S5：比較第三AD值與第一AD值，若第三AD值大于第一AD值，則系統(tǒng)有電壓降低的趨勢；比較第三AD值與第二AD值，若第三AD值大于第二AD值，則系統(tǒng)電壓已經(jīng)降低到掉電檢測的閾值點，此時觸發(fā)掉電保護操作。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的掉電檢測方法，其特征在于，S1中所述的內(nèi)部參考電壓Vref是為了使ADC模塊有更高的轉(zhuǎn)換精度值而設(shè)計的，該內(nèi)部參考電壓輸出Vref是一個穩(wěn)定、精確的電壓值。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的掉電檢測方法，其特征在于，S3中所述的掉電檢測閾值電壓是根據(jù)系統(tǒng)的工作電壓范圍，所設(shè)置合適的掉電檢測閾值電壓。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的掉電檢測方法，其特征在于，S5中所述的掉電保護操作進一步為啟動系統(tǒng)運行狀態(tài)數(shù)據(jù)保存任務(wù)。

5.一種掉電檢測系統(tǒng)，其特征在于，包括以下模塊：

使能模塊，用于使能MCU中內(nèi)部參考電壓Vref的輸出；

第一計算模塊，用于計算MCU在正常工作電壓下，其內(nèi)部參考電壓Vref對應(yīng)的第一AD值；

第二計算模塊，用于設(shè)置掉電檢測閾值電壓，并計算MCU在掉電檢測閾值電壓下，其內(nèi)部參考電壓Vref對應(yīng)的第二AD值；

第三計算模塊，用于將MCU的內(nèi)部參考電壓Vref執(zhí)行AD轉(zhuǎn)換任務(wù)，并在MCU軟件中定期運行該AD轉(zhuǎn)換任務(wù)，得到第三AD值；

比較模塊，用于比較第三AD值與第一AD值，若第三AD值大于第一AD值，則系統(tǒng)有電壓降低的趨勢；比較第三AD值與第二AD值，若第三AD值大于第二AD值，則系統(tǒng)電壓已經(jīng)降低到掉電檢測的閾值點，此時觸發(fā)掉電保護操作。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的掉電檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述的內(nèi)部參考電壓Vref是為了使ADC模塊有更高的轉(zhuǎn)換精度值而設(shè)計的，該內(nèi)部參考電壓輸出Vref是一個穩(wěn)定、精確的電壓值。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的掉電檢測方法，其特征在于，所述的掉電檢測閾值電壓是根據(jù)系統(tǒng)的工作電壓范圍，所設(shè)置合適的掉電檢測閾值電壓。

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的掉電檢測方法，其特征在于，所述的掉電保護操作進一步為啟動系統(tǒng)運行狀態(tài)數(shù)據(jù)保存任務(wù)。