[發明專利]電子元件穩定裝置及其適用的外觀檢測設備

在審

• 申請號: 201811331846.8
• 申請日: 2018-11-09
• 公開（公告）號: CN110954550A
• 公開（公告）日: 2020-04-03
• 發明（設計）人: 陳正鍇;高嘉鴻;林軒民;張仁明
• 申請（專利權）人: 臺達電子工業股份有限公司
• 主分類號: G01N21/892
• 分類號: G01N21/892;B07C5/342
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 聶慧荃;鄭特強

本發明提供一種電子元件穩定裝置及其適用的外觀檢測設備。外觀檢測設備的旋轉盤承載由下料軌道落下的電子元件并使其沿材料行走線移動。電子元件穩定裝置包含導料輪，設置于材料行走線的外側且具有圓弧面；馬達，與導料輪連接以驅動導料輪的旋轉；及負壓產生器，設置于導料輪的底部，可產生吸力使得自下料軌道落下的電子元件被吸往導料輪而貼附于導料輪的圓弧面，并隨導料輪的旋轉往前推送。導料輪的線速度與電子元件在旋轉盤上的行走線速度相同，當電子元件不再受負壓產生器的吸力吸引而脫離導料輪時，電子元件可穩定地于旋轉盤上沿著材料行走線前進。

技術領域

本發明涉及一種電子元件穩定裝置，特別涉及一種適用于外觀檢測設備的電子元件穩定裝置。

背景技術

現有的電子元件外觀檢測設備一般是通過震動盤將電子元件整列后，排列至一旋轉盤上，旋轉盤將電子元件輸送至鏡頭前取像以供檢測外觀，再通過一集料裝置依據檢測結果分類收集。

圖1顯示現有外觀檢測設備的輸送機制示意圖，圖2顯示圖1落料處的局部剖面圖。如圖1及圖2所示，現有外觀檢測設備包含供料裝置11、下料軌道12、低震動塊13、玻璃圓盤14及導料塊15。供料裝置11將電子元件10經下料軌道12送出，且下料軌道12底部設置有低震動塊13，是由固定螺絲131鎖固于下料軌道12下方，提供承接電子元件10由下料軌道12落于玻璃圓盤14的橋梁。當電子元件10由下料軌道12震動前進落到低震動塊13后，低震動塊13上的電子元件10經由后方推擠前進掉落到旋轉的玻璃圓盤14上，玻璃圓盤14承接落下的電子元件10，且玻璃圓盤14的線速度大于下料軌道12送料的速度，使電子元件10落至玻璃圓盤14上后，可拉開彼此間距，以利后端的鏡頭取像進行外觀檢測，最后再將電子元件10收集至集料裝置16中。

由于玻璃圓盤14旋轉的速度大于下料軌道12送料的速度，使得電子元件10落于玻璃圓盤14上容易有落料歪斜不穩定的問題，故玻璃圓盤14上方另設置有導料塊15，其是固設于落料處附近且具有弧面，通過玻璃圓盤14的旋轉，電子元件10邊緣碰觸到導料塊14的弧面，進而使電子元件10導正于一切線方向上。

此現有技術對于玻璃圓盤14在低轉速(5rpm以下)產能的外觀檢測設備而言，可以克服材料歪斜不穩定問題，但當玻璃圓盤14的轉速大于目前產能轉速二倍以上時，材料歪斜不穩定問題即無法克服，且歪斜比例會隨轉速增加而升高。

此外，現有技術為了將電子元件10吸附在玻璃圓盤14以利輸送，會使玻璃圓盤14帶電，以使電子元件10通過靜電吸附力吸附在玻璃圓盤14。然而無論是通過靜電刷、電離器或導電板等裝置來提供靜電，皆會使得設備成本提高，且操作人員也可能被靜電電到而有安全性的問題。此外，靜電提供裝置也容易沾黏灰塵，從而增加清潔的難度。

因此，為了改善現有技術的缺陷，有必要提供一種電子元件穩定裝置，以克服落料歪斜不穩定的問題，進而提升外觀檢測設備的產能。

發明內容

本發明的目的在于提供一種電子元件穩定裝置及其適用的外觀檢測設備，其是架構于提升落料穩定度，克服現有技術落料歪斜不穩定的問題，進而提升外觀檢測設備的產能。

本發明的另一目的在于提供一種電子元件穩定裝置及其適用的外觀檢測設備，可通過落料穩定度的提升而免除靜電提供裝置的配置，故可降低設備成本、增加操作人員的安全性、及避免靜電提供裝置的清潔問題。