[發(fā)明專利]一種IC芯片測(cè)試系統(tǒng)和方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811326449.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-11-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109324281B | 公開(公告)日: | 2020-11-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張浩亮;譚鑫 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 珠海格力電器股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京同達(dá)信恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291 | 代理人: | 黃志華 |
| 地址: | 519070*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 ic 芯片 測(cè)試 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種IC芯片測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,包括:測(cè)試機(jī)臺(tái),時(shí)鐘模塊和控制模塊;所述控制模塊分別與所述時(shí)鐘模塊和所述測(cè)試機(jī)臺(tái)連接;
所述測(cè)試機(jī)臺(tái),用于根據(jù)預(yù)先保存的每種測(cè)試模式對(duì)應(yīng)的信息,確定IC芯片當(dāng)前進(jìn)入的目標(biāo)測(cè)試模式對(duì)應(yīng)的目標(biāo)信息,并發(fā)送給所述控制模塊;
所述時(shí)鐘模塊,用于計(jì)時(shí);
所述控制模塊,用于接收測(cè)試機(jī)臺(tái)發(fā)送的所述目標(biāo)信息;根據(jù)所述目標(biāo)信息,確定IC芯片當(dāng)前進(jìn)入的目標(biāo)測(cè)試模式對(duì)應(yīng)的高電平的第一時(shí)長(zhǎng)和低電平的第二時(shí)長(zhǎng);根據(jù)所述高電平的第一時(shí)長(zhǎng)和所述低電平的第二時(shí)長(zhǎng),以及所述時(shí)鐘模塊的計(jì)時(shí)時(shí)間,確定目標(biāo)脈沖序列;將所述目標(biāo)脈沖序列輸出給所述測(cè)試機(jī)臺(tái),其中,不同的測(cè)試模式對(duì)應(yīng)的脈沖序列不同;
所述測(cè)試機(jī)臺(tái),還用于顯示所述目標(biāo)脈沖序列。
2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其特征在于,所述測(cè)試機(jī)臺(tái),具體用于根據(jù)預(yù)先保存的每種測(cè)試模式對(duì)應(yīng)的高電平的時(shí)長(zhǎng)和低電平的時(shí)長(zhǎng),確定IC芯片當(dāng)前進(jìn)入的目標(biāo)測(cè)試模式對(duì)應(yīng)的高電平的目標(biāo)時(shí)長(zhǎng)和低電平的目標(biāo)時(shí)長(zhǎng),并發(fā)送給所述控制模塊;
所述控制模塊,具體用于將接收到的測(cè)試機(jī)臺(tái)發(fā)送的IC芯片當(dāng)前進(jìn)入的目標(biāo)測(cè)試模式對(duì)應(yīng)的高電平的目標(biāo)時(shí)長(zhǎng)和低電平的目標(biāo)時(shí)長(zhǎng),確定為高電平的第一時(shí)長(zhǎng)和低電平的第二時(shí)長(zhǎng)。
3.如權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng),其特征在于,所述時(shí)鐘模塊包括:脈沖時(shí)鐘產(chǎn)生單元;
脈沖時(shí)鐘產(chǎn)生單元,用于產(chǎn)生第一脈沖時(shí)鐘信號(hào);
所述測(cè)試機(jī)臺(tái),具體用于根據(jù)預(yù)先保存的每種測(cè)試模式、高電平對(duì)應(yīng)的時(shí)鐘周期的第一數(shù)量和低電平對(duì)應(yīng)的時(shí)鐘周期的第二數(shù)量的對(duì)應(yīng)關(guān)系,確定IC芯片當(dāng)前進(jìn)入的所述目標(biāo)測(cè)試模式對(duì)應(yīng)的高電平對(duì)應(yīng)的第一目標(biāo)數(shù)量和低電平對(duì)應(yīng)的第二目標(biāo)數(shù)量,并發(fā)送給所述控制模塊;
所述控制模塊,具體用于根據(jù)高電平對(duì)應(yīng)的時(shí)鐘周期第一目標(biāo)數(shù)量和低電平對(duì)應(yīng)的時(shí)鐘周期第二目標(biāo)數(shù)量,在每個(gè)目標(biāo)脈沖序列的周期中采用所述第一目標(biāo)數(shù)量和所述第二目標(biāo)數(shù)量,對(duì)時(shí)鐘周期的數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù);并在采用所述第一目標(biāo)數(shù)量對(duì)時(shí)鐘周期的數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù)期間,向所述測(cè)試機(jī)臺(tái)輸出高電平,在采用所述第二目標(biāo)數(shù)量對(duì)時(shí)鐘周期的數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù)期間,向所述測(cè)試機(jī)臺(tái)輸出低電平。
4.如權(quán)利要求3所述的系統(tǒng),其特征在于,所述控制模塊包括:第一控制單元和與門;
所述脈沖時(shí)鐘產(chǎn)生單元與所述與門的輸入端連接,用于向所述與門輸出第一脈沖時(shí)鐘信號(hào);
所述第一控制單元分別與所述與門的輸入端,所述脈沖時(shí)鐘產(chǎn)生單元和所述測(cè)試機(jī)臺(tái)連接;
所述測(cè)試機(jī)臺(tái),具體用于將高電平對(duì)應(yīng)的第一目標(biāo)數(shù)量和低電平對(duì)應(yīng)的第二目標(biāo)數(shù)量發(fā)送給所述第一控制單元;
所述第一控制單元,用于接收所述測(cè)試機(jī)臺(tái)發(fā)送的高電平對(duì)應(yīng)的第一目標(biāo)數(shù)量和低電平對(duì)應(yīng)的第二目標(biāo)數(shù)量,在每個(gè)目標(biāo)脈沖序列的周期中采用所述第一目標(biāo)數(shù)量和所述第二目標(biāo)數(shù)量,對(duì)時(shí)鐘周期的數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù);在采用所述第一目標(biāo)數(shù)量對(duì)時(shí)鐘周期的數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù)期間,向所述與門輸出高電平,在采用所述第二目標(biāo)數(shù)量對(duì)時(shí)鐘周期的數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù)期間,向所述與門輸出低電平;
所述與門的輸出端,用于與所述測(cè)試機(jī)臺(tái)連接,向所述測(cè)試機(jī)臺(tái)輸出脈沖序列。
5.如權(quán)利要求4所述的系統(tǒng),其特征在于,所述第一控制單元,還用于在未接收到測(cè)試機(jī)臺(tái)發(fā)送的啟動(dòng)計(jì)數(shù)指令之前,向所述與門輸出低電平,以及在接收到啟動(dòng)計(jì)數(shù)指令時(shí),在每個(gè)目標(biāo)脈沖序列的周期先采用所述第一目標(biāo)數(shù)量對(duì)時(shí)鐘周期的數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù)。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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