[發明專利]一種測試RAM的方法在審
| 申請號： | 201811307894.3 | 申請日： | 2018-11-05 |
| 公開（公告）號： | CN109545268A | 公開（公告）日： | 2019-03-29 |
| 發明（設計）人： | 尹文芹;段媛媛;賈紅;程顯志;陳維新;韋嶔 | 申請（專利權）人： | 西安智多晶微電子有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/18 | 分類號： | G11C29/18;G11C29/36;G11C29/42 |
| 代理公司： | 西安嘉思特知識產權代理事務所(普通合伙) 61230 | 代理人： | 劉長春 |
| 地址： | 710075 陜西省西安*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試 校驗數據 第一數據 地址單元 隨機數 讀取 測試覆蓋率 測試數據 校驗 有效地 檢測 寫入 | ||
1.一種測試RAM的方法，其特征在于，包括步驟：
將第一數據寫入待測試RAM的地址單元；
讀取所述地址單元，得到第二數據；
校驗所述第一數據和所述第二數據，分別得到第一校驗數據和第二校驗數據；
比較所述第一校驗數據與所述第二校驗數據是否一致。
2.如權利要求1所述的測試RAM的方法，其特征在于，比較所述第一校驗數據與所述第二校驗數據是否一致，包括：
若所述第一校驗數據與所述第二校驗數據不一致，則停止測試；
若所述第一校驗數據與所述第二校驗數據一致，則判斷每個所述地址單元是否均完成測試。
3.如權利要求2所述的測試RAM的方法，其特征在于，判斷每個所述地址單元是否均完成測試，包括：
若判斷每個所述地址單元未均完成測試，則對未完成測試的地址單元進行測試；
若判斷每個所述地址單元均完成測試，則輸出產品合格信息。
4.如權利要求1所述的測試RAM的方法，其特征在于，所述第一數據包括隨機數。
5.如權利要求4所述的測試RAM的方法，其特征在于，還包括：
根據所述RAM的位寬產生所述隨機數。
6.如權利要求1所述的測試RAM的方法，其特征在于，校驗所述第一數據和所述第二數據，包括：
使用循環校驗碼CRC算法校驗所述第一數據和第二數據。
7.一種測試RAM的裝置，包括：
數據寫入單元，用于將所述第一數據寫入待測試RAM的地址單元中；
數據讀取單元，用于讀取所述地址單元，得到第二數據；
數據校驗單元，用于校驗所述第一數據與所述第二數據，分別得到第一校驗數據和第二校驗數據；
數據比較單元，用于比較所述第一校驗數據與所述第二校驗數據是否一致。
8.如權利要求7所述的測試RAM的裝置，其特征在于，還包括：
判斷單元，用于判斷每個所述地址單元是否均完成測試。
9.如權利要求7所述的測試RAM的裝置，其特征在于，所述第一數據包括隨機數。
10.如權利要求9所述的測試RAM的裝置，其特征在于，還包括：
數據產生單元，用于根據所述RAM的位寬產生所述隨機數。
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