[發明專利]重建粒子徑跡的方法和設備、以及檢查方法和檢查設備在審
| 申請號: | 201811294703.4 | 申請日: | 2018-11-01 |
| 公開(公告)號: | CN109283588A | 公開(公告)日: | 2019-01-29 |
| 發明(設計)人: | 于昊;劉必成;易茜;王永強;曾鳴;宮輝;李薦民;孫尚民;李元景;陳志強 | 申請(專利權)人: | 同方威視技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G01V5/00 | 分類號: | G01V5/00;G01N23/10 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 張啟程 |
| 地址: | 100084 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 宇宙射線 漂移管 粒子 漂移 粒子探測器 入射 方法和設備 帶電粒子 檢查設備 閃爍體 徑跡 粒子徑跡 重建 擬合 檢查 探測 記錄 | ||
公開了一種用于重建宇宙射線粒子的徑跡的方法和設備、以及檢查方法和檢查設備。所述方法包括:利用宇宙射線粒子探測器探測宇宙射線粒子,所述宇宙射線粒子探測器包括至少一個閃爍體和多個漂移管,在所述宇宙射線粒子的作用下,所述多個漂移管中的至少2個漂移管中的帶電粒子產生漂移;利用所述至少一個閃爍體,記錄宇宙射線粒子入射至所述宇宙射線粒子探測器的時間零點;根據所述時間零點,計算所述至少2個漂移管中帶電粒子的漂移時間;基于計算出的漂移時間,確定宇宙射線粒子入射至所述至少2個漂移管的位置;和根據確定出的宇宙射線粒子入射至所述至少2個漂移管的位置,擬合出宇宙射線粒子的徑跡。
技術領域
本公開涉及對輻射檢測技術,具體涉及一種用于重建宇宙射線粒子的徑跡的方法和設備、以及對諸如集裝箱卡車之類的被檢查物體進行檢查的設備和方法。
背景技術
宇宙射線成像技術利用自然界天然存在的宇宙射線為輻射源,穿透力強,無外加輻射,已被證實可用于檢查核燃料、核廢料、屏蔽體等高原子序數材料,以及毒品、爆炸物等中-低原子序數材料。
宇宙射線檢查與物質識別的關鍵在于宇宙射線粒子的徑跡重建方法。目前的徑跡重建方法,主要通過線性擬合和迭代算法來獲取最優解,迭代初值為經驗選取。這種徑跡重建方法過于依賴經驗,當初值偏離較多或漂移管性能差異大時,會產生較大誤差,定位準確度和重建效果不佳。
發明內容
考慮到現有技術中的一個或多個問題,提出了一種用于重建宇宙射線粒子的徑跡的方法和設備、以及對諸如集裝箱卡車之類的被檢查物體進行檢查的設備和方法。
在一個方面,提供一種用于重建宇宙射線粒子的徑跡的方法,包括以下步驟:
利用宇宙射線粒子探測器探測宇宙射線粒子,所述宇宙射線粒子探測器包括至少一個閃爍體和多個漂移管,在所述宇宙射線粒子的作用下,所述多個漂移管中的至少2個漂移管中的帶電粒子產生漂移;
利用所述至少一個閃爍體,記錄宇宙射線粒子入射至所述宇宙射線粒子探測器的時間零點;
根據所述時間零點,計算所述至少2個漂移管中帶電粒子的漂移時間;
基于計算出的漂移時間,確定宇宙射線粒子入射至所述至少2個漂移管的位置;和
根據確定出的宇宙射線粒子入射至所述至少2個漂移管的位置,擬合出宇宙射線粒子的徑跡。
可選地,所述方法還可以包括:
響應于所述至少2個漂移管中的帶電粒子的漂移,輸出至少2個漂移響應信號;和
記錄產生所述至少2個漂移響應信號的至少2個響應時刻,
其中,根據所述時間零點,計算所述至少2個漂移管中帶電粒子的漂移時間,包括:
分別計算所述至少2個響應時刻與所述時間零點的差值,將所述差值分別作為所述至少2個漂移管中帶電粒子的漂移時間。
可選地,所述利用所述至少一個閃爍體,記錄宇宙射線粒子入射至所述宇宙射線粒子探測器的時間零點的步驟包括:
響應于所述宇宙射線粒子入射至所述至少一個閃爍體,輸出至少一個閃爍體響應信號;和
記錄產生所述至少一個閃爍體響應信號的閃爍體響應時刻,將該閃爍體響應時刻確定為所述時間零點。
可選地,所述方法還包括:利用所述至少一個閃爍體,測量宇宙射線粒子入射至所述閃爍體的位置,
其中,所述根據確定出的宇宙射線粒子入射至所述至少2個漂移管的位置,擬合出宇宙射線粒子的徑跡的步驟包括:
根據確定出的宇宙射線粒子入射至所述至少2個漂移管的位置以及測量出的宇宙射線粒子入射至所述閃爍體的位置,擬合出宇宙射線粒子的徑跡。
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