[發(fā)明專(zhuān)利]重建粒子徑跡的方法和設(shè)備、以及檢查方法和檢查設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201811294703.4
• 申請(qǐng)日: 2018-11-01
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN109283588A
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-01-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 于昊;劉必成;易茜;王永強(qiáng);曾鳴;宮輝;李薦民;孫尚民;李元景;陳志強(qiáng)
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 同方威視技術(shù)股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01V5/00
• 分類(lèi)號(hào): G01V5/00;G01N23/10
• 代理公司: 中科專(zhuān)利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021
• 代理人: 張啟程

1.一種用于重建宇宙射線粒子的徑跡的方法，包括以下步驟：

利用宇宙射線粒子探測(cè)器探測(cè)宇宙射線粒子，所述宇宙射線粒子探測(cè)器包括至少一個(gè)閃爍體和多個(gè)漂移管，在所述宇宙射線粒子的作用下，所述多個(gè)漂移管中的至少2個(gè)漂移管中的帶電粒子產(chǎn)生漂移；

利用所述至少一個(gè)閃爍體，記錄宇宙射線粒子入射至所述宇宙射線粒子探測(cè)器的時(shí)間零點(diǎn)；

根據(jù)所述時(shí)間零點(diǎn)，計(jì)算所述至少2個(gè)漂移管中帶電粒子的漂移時(shí)間；

基于計(jì)算出的漂移時(shí)間，確定宇宙射線粒子入射至所述至少2個(gè)漂移管的位置；和

根據(jù)確定出的宇宙射線粒子入射至所述至少2個(gè)漂移管的位置，擬合出宇宙射線粒子的徑跡。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括：

響應(yīng)于所述至少2個(gè)漂移管中的帶電粒子的漂移，輸出至少2個(gè)漂移響應(yīng)信號(hào)；和

記錄產(chǎn)生所述至少2個(gè)漂移響應(yīng)信號(hào)的至少2個(gè)響應(yīng)時(shí)刻，

其中，根據(jù)所述時(shí)間零點(diǎn)，計(jì)算所述至少2個(gè)漂移管中帶電粒子的漂移時(shí)間，包括：

分別計(jì)算所述至少2個(gè)響應(yīng)時(shí)刻與所述時(shí)間零點(diǎn)的差值，將所述差值分別作為所述至少2個(gè)漂移管中帶電粒子的漂移時(shí)間。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述利用所述至少一個(gè)閃爍體，記錄宇宙射線粒子入射至所述宇宙射線粒子探測(cè)器的時(shí)間零點(diǎn)的步驟包括：

響應(yīng)于所述宇宙射線粒子入射至所述至少一個(gè)閃爍體，輸出至少一個(gè)閃爍體響應(yīng)信號(hào)；和

記錄產(chǎn)生所述至少一個(gè)閃爍體響應(yīng)信號(hào)的閃爍體響應(yīng)時(shí)刻，將該閃爍體響應(yīng)時(shí)刻確定為所述時(shí)間零點(diǎn)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的方法，還包括：利用所述至少一個(gè)閃爍體，測(cè)量宇宙射線粒子入射至所述閃爍體的位置，

其中，所述根據(jù)確定出的宇宙射線粒子入射至所述至少2個(gè)漂移管的位置，擬合出宇宙射線粒子的徑跡的步驟包括：

根據(jù)確定出的宇宙射線粒子入射至所述至少2個(gè)漂移管的位置以及測(cè)量出的宇宙射線粒子入射至所述閃爍體的位置，擬合出宇宙射線粒子的徑跡。

5.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的方法，其中，所述基于計(jì)算出的漂移時(shí)間，確定宇宙射線粒子入射至所述至少2個(gè)漂移管的位置的步驟包括：

基于預(yù)先建立的漂移時(shí)間與漂移距離之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系，確定所述至少2個(gè)漂移管中的帶電粒子的漂移距離；和

基于所述漂移距離，確定宇宙射線粒子入射至所述至少2個(gè)漂移管的位置。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，還包括：確定所述至少2個(gè)漂移管的編號(hào)；和根據(jù)所述編號(hào)，確定所述至少2個(gè)漂移管中每一個(gè)的中心位置，

其中，所述基于所述漂移距離，確定宇宙射線粒子入射至所述至少2個(gè)漂移管的位置的步驟包括：

基于所述漂移距離和所述中心位置，確定宇宙射線粒子入射至所述至少2個(gè)漂移管的位置。

7.一種檢查方法，包括以下步驟：

利用宇宙射線粒子探測(cè)器探測(cè)入射至被檢查物體的宇宙射線粒子和從被檢查物體出射的宇宙射線粒子，所述宇宙射線粒子探測(cè)器包括至少一個(gè)閃爍體和多個(gè)漂移管；

利用根據(jù)權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述的方法，重建入射至被檢查物體的宇宙射線粒子的入射徑跡；

利用根據(jù)權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述的方法，重建從被檢查物體出射的宇宙射線粒子的出射徑跡；

基于所述入射徑跡和所述出射徑跡，計(jì)算宇宙射線粒子在被檢查物體作用下的散射特性值；和

利用所述散射特性值，識(shí)別所述被檢查物體的材料屬性。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢查方法，還包括：利用所述至少一個(gè)閃爍體，測(cè)量宇宙射線粒子的平均動(dòng)量。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的檢查方法，其中，所述基于所述入射徑跡和所述出射徑跡，計(jì)算宇宙射線粒子在被檢查物體作用下的散射特性值的步驟包括：

計(jì)算所述入射徑跡與所述出射徑跡之間的散射角度；

計(jì)算散射角度的均方根；和

基于所述均方根和所述平均動(dòng)量，計(jì)算宇宙射線粒子在被檢查物體作用下的散射特性值。