[發明專利]重建粒子徑跡的方法和設備、以及檢查方法和檢查設備

在審

• 申請號: 201811294703.4
• 申請日: 2018-11-01
• 公開（公告）號: CN109283588A
• 公開（公告）日: 2019-01-29
• 發明（設計）人: 于昊;劉必成;易茜;王永強;曾鳴;宮輝;李薦民;孫尚民;李元景;陳志強
• 申請（專利權）人: 同方威視技術股份有限公司
• 主分類號: G01V5/00
• 分類號: G01V5/00;G01N23/10
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 張啟程

1.一種用于重建宇宙射線粒子的徑跡的方法，包括以下步驟：

利用宇宙射線粒子探測器探測宇宙射線粒子，所述宇宙射線粒子探測器包括至少一個閃爍體和多個漂移管，在所述宇宙射線粒子的作用下，所述多個漂移管中的至少2個漂移管中的帶電粒子產生漂移；

利用所述至少一個閃爍體，記錄宇宙射線粒子入射至所述宇宙射線粒子探測器的時間零點；

根據所述時間零點，計算所述至少2個漂移管中帶電粒子的漂移時間；

基于計算出的漂移時間，確定宇宙射線粒子入射至所述至少2個漂移管的位置；和

根據確定出的宇宙射線粒子入射至所述至少2個漂移管的位置，擬合出宇宙射線粒子的徑跡。

2.根據權利要求1所述的方法，還包括：

響應于所述至少2個漂移管中的帶電粒子的漂移，輸出至少2個漂移響應信號；和

記錄產生所述至少2個漂移響應信號的至少2個響應時刻，

其中，根據所述時間零點，計算所述至少2個漂移管中帶電粒子的漂移時間，包括：

分別計算所述至少2個響應時刻與所述時間零點的差值，將所述差值分別作為所述至少2個漂移管中帶電粒子的漂移時間。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，所述利用所述至少一個閃爍體，記錄宇宙射線粒子入射至所述宇宙射線粒子探測器的時間零點的步驟包括：

響應于所述宇宙射線粒子入射至所述至少一個閃爍體，輸出至少一個閃爍體響應信號；和

記錄產生所述至少一個閃爍體響應信號的閃爍體響應時刻，將該閃爍體響應時刻確定為所述時間零點。

4.根據權利要求1-3中任一項所述的方法，還包括：利用所述至少一個閃爍體，測量宇宙射線粒子入射至所述閃爍體的位置，

其中，所述根據確定出的宇宙射線粒子入射至所述至少2個漂移管的位置，擬合出宇宙射線粒子的徑跡的步驟包括：

根據確定出的宇宙射線粒子入射至所述至少2個漂移管的位置以及測量出的宇宙射線粒子入射至所述閃爍體的位置，擬合出宇宙射線粒子的徑跡。

5.根據權利要求1-3中任一項所述的方法，其中，所述基于計算出的漂移時間，確定宇宙射線粒子入射至所述至少2個漂移管的位置的步驟包括：

基于預先建立的漂移時間與漂移距離之間的對應關系，確定所述至少2個漂移管中的帶電粒子的漂移距離；和

基于所述漂移距離，確定宇宙射線粒子入射至所述至少2個漂移管的位置。

6.根據權利要求5所述的方法，還包括：確定所述至少2個漂移管的編號；和根據所述編號，確定所述至少2個漂移管中每一個的中心位置，

其中，所述基于所述漂移距離，確定宇宙射線粒子入射至所述至少2個漂移管的位置的步驟包括：

基于所述漂移距離和所述中心位置，確定宇宙射線粒子入射至所述至少2個漂移管的位置。

7.一種檢查方法，包括以下步驟：

利用宇宙射線粒子探測器探測入射至被檢查物體的宇宙射線粒子和從被檢查物體出射的宇宙射線粒子，所述宇宙射線粒子探測器包括至少一個閃爍體和多個漂移管；

利用根據權利要求1-6中任一項所述的方法，重建入射至被檢查物體的宇宙射線粒子的入射徑跡；

利用根據權利要求1-6中任一項所述的方法，重建從被檢查物體出射的宇宙射線粒子的出射徑跡；

基于所述入射徑跡和所述出射徑跡，計算宇宙射線粒子在被檢查物體作用下的散射特性值；和

利用所述散射特性值，識別所述被檢查物體的材料屬性。

8.根據權利要求7所述的檢查方法，還包括：利用所述至少一個閃爍體，測量宇宙射線粒子的平均動量。

9.根據權利要求8所述的檢查方法，其中，所述基于所述入射徑跡和所述出射徑跡，計算宇宙射線粒子在被檢查物體作用下的散射特性值的步驟包括：

計算所述入射徑跡與所述出射徑跡之間的散射角度；

計算散射角度的均方根；和

基于所述均方根和所述平均動量，計算宇宙射線粒子在被檢查物體作用下的散射特性值。