[發明專利]氣體分析裝置的校正、壓力修正及檢查方法和氣體分析系統

有效

• 申請號: 201811294511.3
• 申請日: 2018-11-01
• 公開（公告）號: CN109752485B
• 公開（公告）日: 2023-02-21
• 發明（設計）人: 水谷尚登;日下竹史;茂原治久;篠原政良
• 申請（專利權）人: 株式會社堀場制作所
• 主分類號: G01N33/00
• 分類號: G01N33/00
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 周善來;李雪春

本發明提供氣體分析裝置的校正方法、氣體分析系統和壓力變動裝置。將壓力變動裝置與氣體分析裝置的試樣氣體導入口和氣體排出口連接，通過所述壓力變動裝置對所述試樣氣體導入口和所述氣體排出口進行減壓或加壓，在所述減壓或加壓的狀態下，從所述氣體分析裝置的標準氣體導入口導入標準氣體，使用所述氣體分析裝置的所述標準氣體的測定結果，計算所述氣體分析裝置的壓力修正系數。

技術領域

本發明涉及氣體分析裝置的校正方法、氣體分析系統和壓力變動裝置。

背景技術

近年，當進行從路上行駛中的車輛排出的排氣的成分分析和車輛測試時，使用車輛搭載型的排氣分析裝置。所述排氣分析裝置例如具有用于分析氮氧化物(NO_X)、一氧化碳(CO)、二氧化碳(CO₂)等成分的分析儀。

設于所述排氣分析裝置的各分析儀，由于伴隨路上行駛中的海拔等的氣壓變動，其測定值會受到壓力影響。因此，排氣分析裝置通過使用用于修正壓力影響的壓力修正系數，對各分析儀的測定值進行壓力修正，計算換算為基準壓力(例如校正曲線制作時的壓力)的各成分濃度。

此外，用于所述排氣分析裝置的壓力修正系數，是利用以下的步驟制作的共通的系數。

具體地說，將數臺的排氣分析裝置搬入減壓/加壓試驗室，在減壓/加壓下由數臺的排氣分析裝置測定濃度已知的標準氣體(calibration gas)。此外，從由數臺的排氣分析裝置得到的多個測定值的平均值與標準氣體測定時的壓力的關系求出壓力修正系數。將這樣求出的壓力修正系數用作多個排氣分析裝置的壓力修正系數。

可是，由于排氣分析裝置各自的壓力變動特性存在不均，所以在使用共通的壓力修正系數的情況下，存在產生修正精度低的排氣分析裝置的可能性。另一方面，為了確保修正精度，需要對每個排氣分析裝置采用固有的壓力修正系數。因此，需要使用上述的減壓/加壓試驗室，伴隨有向減壓/加壓試驗室搬入排氣分析裝置的大規模作業。此外，對于不具備減壓試驗室的廠家或用戶來說，需要借用或購買減壓/加壓試驗室，生產率降低。

現有技術文獻

專利文獻1：日本專利公開公報特開2004-117261號

發明內容

本發明是用于解決上述問題而做出發明，本發明的主要目的是能夠在不使用減壓/加壓試驗室的情況下求出每個排氣分析裝置的壓力修正系數。

即，本發明提供一種氣體分析裝置的校正方法，其將壓力變動裝置與氣體分析裝置的試樣氣體導入口和氣體排出口連接，通過所述壓力變動裝置將所述試樣氣體導入口和所述氣體排出口減壓或加壓為同一壓力，并且將所述試樣氣體導入口和所述氣體排出口減壓或加壓為多個壓力，在所述多個壓力各自的壓力下，從所述氣體分析裝置的標準氣體導入口導入標準氣體，使用所述氣體分析裝置的所述標準氣體的測定結果，計算所述氣體分析裝置的壓力修正系數。

按照本發明，由于將壓力變動裝置與氣體分析裝置的試樣氣體導入口和氣體排出口連接，所以不使用加壓/減壓試驗室，就能夠對氣體分析裝置再現減壓或加壓的狀態。因此，可以利用低價且簡易的手法單獨計算多個氣體分析裝置各自的壓力修正系數。其結果，與現有的使用共通的壓力修正系數的氣體分析裝置相比較，能夠提高壓力修正的精度。此外，能夠容易地針對出貨后的氣體分析裝置在收貨人處等對每個氣體分析裝置更新氣壓修正系數。

為了高精度地求出壓力修正系數，優選的是，以使所述多個壓力下的所述標準氣體的測定結果分別與基準壓力下的標準氣體的測定結果一致的方式，計算所述氣體分析裝置的壓力修正系數。另外，作為基準壓力，可以考慮氣體分析裝置的校正曲線制作時的壓力、或零點校正和量程校正等校正時的壓力。

優選的是，從所述標準氣體導入口過量導入標準氣體，邊使標準氣體從所述試樣氣體導入口溢流邊測定所述標準氣體。按照該構成，能夠在不稀釋標準氣體的情況下向氣體分析裝置的分析儀導入標準氣體。