[發(fā)明專利]一種測試方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811273707.4 | 申請日： | 2018-10-30 |
| 公開（公告）號： | CN109461469A | 公開（公告）日： | 2019-03-12 |
| 發(fā)明（設計）人： | 劉定星;唐侃毅;程博鋒 | 申請（專利權(quán)）人： | 新華三技術有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/50 | 分類號： | G11C29/50;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 孟維娜;馬敬 |
| 地址： | 310052 浙*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 存儲設備 測試點 測試方法及裝置 測試環(huán)境 存儲介質(zhì) 測試 構(gòu)建 讀取 測試技術領域 存儲單元 閾值電壓 申請 應用 | ||
本申請實施例提供了一種測試方法及裝置，涉及測試技術領域，其中，上述方法包括：確定對以Flash顆粒為存儲介質(zhì)的存儲設備進行測試的測試點，其中，所述測試點包括：用于構(gòu)建測試環(huán)境的第一類參數(shù)、用于描述測試目的的第二類參數(shù)、所述第一類參數(shù)的取值和所述第二類參數(shù)的取值；按照所述第一類參數(shù)的取值對所述存儲設備進行第一類參數(shù)所指示的操作，進而構(gòu)建所述測試點對應的測試環(huán)境；按照所述第二類參數(shù)的取值對所述存儲設備進行第二類參數(shù)所指示的操作；讀取所述存儲設備的各個存儲單元的閾值電壓，得到所述存儲設備針對所述測試點的測試結(jié)果。應用本申請實施例提供的方案，能夠?qū)崿F(xiàn)對以Flash顆粒為存儲介質(zhì)的存儲設備的測試。
技術領域
本申請涉及測試技術領域，特別是涉及一種測試方法及裝置。
背景技術
隨著硬件技術的快速發(fā)展，以Flash顆粒作為存儲介質(zhì)的存儲設備得到了越來越廣泛的應用。下面以SSD(Solid State Disk，固態(tài)硬盤)為例進行說明。
SSD是用固態(tài)電子存儲芯片陣列而制成的硬盤，由控制單元和存儲介質(zhì)組成。SSD的接口規(guī)范和定義、功能及使用方法與普通硬盤完全相同，在產(chǎn)品外形和尺寸上也與普通硬盤一致。目前，SSD已被廣泛應用于軍事、車載、工控、視頻監(jiān)控、網(wǎng)絡監(jiān)控、網(wǎng)絡終端、電力、醫(yī)療、航空等領域。可以看出，SSD的應用范圍已非常廣泛，因此為保障使用SSD過程中，從SSD中所讀取的數(shù)據(jù)準確，在生產(chǎn)過程中對SSD進行嚴格的測試。
鑒于上述情況，需要提供一種對以Flash顆粒作為存儲介質(zhì)的存儲設備進行測試的方法。
發(fā)明內(nèi)容
本申請實施例的目的在于提供一種測試方法及裝置，以實現(xiàn)對以Flash顆粒為存儲介質(zhì)的存儲設備進行測試。具體技術方案如下：
第一方面，本申請實施例提供了一種測試方法，所述方法包括：
確定對以Flash顆粒為存儲介質(zhì)的存儲設備進行測試的測試點，其中，所述測試點包括：用于構(gòu)建測試環(huán)境的第一類參數(shù)、用于描述測試目的的第二類參數(shù)、所述第一類參數(shù)的取值和所述第二類參數(shù)的取值；
按照所述第一類參數(shù)的取值對所述存儲設備進行所述第一類參數(shù)所指示的操作，進而構(gòu)建所述測試點對應的測試環(huán)境；
按照所述第二類參數(shù)的取值對所述存儲設備進行所述第二類參數(shù)所指示的操作；
讀取所述存儲設備的Flash顆粒中各個存儲單元的閾值電壓，得到所述存儲設備針對所述測試點的測試結(jié)果。
第二方面，本申請實施例提供了一種測試裝置，所述裝置包括：
測試點確定模塊，用于確定對以Flash顆粒為存儲介質(zhì)的存儲設備進行測試的測試點，其中，所述測試點包括：用于構(gòu)建測試環(huán)境的第一類參數(shù)、用于描述測試目的的第二類參數(shù)、所述第一類參數(shù)的取值和所述第二類參數(shù)的取值；
第一存儲設備操作模塊，用于按照所述第一類參數(shù)的取值對所述存儲設備進行所述第一類參數(shù)所指示的操作，進而構(gòu)建所述測試點對應的測試環(huán)境；
第二存儲設備操作模塊，用于按照所述第二類參數(shù)的取值對所述存儲設備進行所述第二類參數(shù)所指示的操作；
電壓讀取模塊，用于讀取所述存儲設備的Flash顆粒中各個存儲單元的閾值電壓，得到所述存儲設備針對所述測試點的測試結(jié)果。
第三方面，本申請實施例提供了一種電子設備，包括處理器和機器可讀存儲介質(zhì)，所述機器可讀存儲介質(zhì)存儲有能夠被所述處理器執(zhí)行的機器可執(zhí)行指令，所述處理器被所述機器可執(zhí)行指令促使：實現(xiàn)本申請實施例所述的方法步驟。
第四方面，本申請實施例提供了一種機器可讀存儲介質(zhì)，存儲有機器可執(zhí)行指令，在被處理器調(diào)用和執(zhí)行時，所述機器可執(zhí)行指令促使所述處理器：實現(xiàn)本申請實施例所述的方法步驟。
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