[發明專利]一種邊界掃描測試鏈路的設計及測試方法

有效

• 申請號: 201811273121.8
• 申請日: 2018-10-29
• 公開（公告）號: CN109164378B
• 公開（公告）日: 2020-10-16
• 發明（設計）人: 劉震;昌磊;楊成林;黃建國;周秀云
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G01R31/3185
• 分類號: G01R31/3185
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 溫利平

1.一種邊界掃描測試鏈路的設計及測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

(1)、設計邊界掃描測試鏈路并添加到被測電路板上

(1.1)、將被測電路板中引腳利用率低的數字芯片按照實現功能劃分為不同的功能模塊Mx，在每個功能模塊Mx的內部采用邊界掃描測試鏈路連接方式連接；

(1.2)、將單個的IC芯片與功能模塊Mx之間通過并、串混合的邊界掃描測試鏈路連接方式連接，形成完整的邊界掃描測試總鏈路；

(2)、對邊界掃描測試總鏈路進行第一級測試

(2.1)、使用外接的JTAG控制器將邊界掃描測試向量注入到邊界掃描測試總鏈路中，邊界掃描測試向量掃描每個IC芯片的全部引腳，再等待測試響應并接收測試響應向量，然后通過對理想響應向量和接收到的測試響應向量進行分析對比，找出具體某個IC芯片或某個功能模塊Mx出現互聯故障；

(2.2)、判斷找出的功能模塊Mx是否故障：根據功能模塊Mx與IC芯片具有互聯關系，通過帶有BS單元的IC芯片在capture狀態下捕獲找出的功能模塊Mx引腳上的值，然后在shift狀態下移出這部分測試響應向量作為找出的功能模塊Mx故障診斷的測試響應向量，然后反饋給上位機，并與上位機中預置的理想測試響應向量進行對比分析，從而判斷故障位置，其中，若故障位置不包括找出的功能模塊Mx，則測試結束，獲取到測試結果；若故障位置為找出的功能模塊Mx，則進入步驟(3)；

(3)、對找出的功能模塊Mx進行第二級測試

上位機控制找出的功能模塊Mx選通使能信號，再次通過JTAG控制器將找出的功能模塊Mx對應的測試向量注入至其中，然后獲取找出的功能模塊Mx的測試向量和測試響應向量，通過上位機對測試響應向量和預置的理想響應向量進行對比分析，判斷出具體的功能模塊Mx中的故障位置，再將故障進行隔離，從而得到具體的故障類型和故障位置，測試結束，獲取到測試結果；

(4)、測試結果分析及展示

根據獲取到的測試結果分析測試向量和測試響應向量，得到準確的故障點，并且能將故障隔離到具體的引腳，并且得到故障類型，最后發送給上位機顯示出故障位置和故障類型，打印測試報告。

2.根據權利要求1所述的一種邊界掃描測試鏈路的設計及測試方法，其特征在于，所述的邊界掃描測試鏈路連接方式為：每個功能模塊Mx通過JTAG總線接口利用一個使能信號CS連接到JTAG信號總線上，再通過編碼使能的方式，對每個功能模塊Mx進行編碼，采用編程的方式選擇相應的功能模塊Mx，通過使用JTAG控制器注入測試向量到相應的功能模塊Mx中進行邊界掃描測試。