[發(fā)明專利]車燈外形檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811262107.8
• 申請日: 2018-10-26
• 公開（公告）號: CN109341579B
• 公開（公告）日: 2020-10-27
• 發(fā)明（設計）人: 張振普;畢輝;李杰誠;鄭楨才;歐彪;陳永鑫;韓煥麗;廖玉城
• 申請（專利權）人: 巨輪(廣州)機器人與智能制造有限公司
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 顏希文;黃華蓮

本發(fā)明涉及車燈檢測領域，具體涉及了一種車燈外形檢測方法，先根據(jù)車身仿形塊的三維模型得出間隙值測量的位置和角度，再根據(jù)上述位置和角度單獨測量車身仿形塊以及待測車燈，在分別測量車身仿形塊和待測車燈時，用于測量上述二者的二維輪廓數(shù)據(jù)的光電傳感器可分別采用兩種曝光測量參數(shù)，以適應透明的待測車燈和非透明的車身仿形塊，進而解決傳統(tǒng)的光電傳感器測量方式難以同時對車燈和車身仿形塊進行準確的曝光測量的問題。

技術領域

本發(fā)明涉及車燈檢測領域，特別是涉及一種車燈外形檢測方法。

背景技術

現(xiàn)有汽車車燈裝車之前，車燈和車身之間間隙的測量一般采用人工檢測，人工檢測的方式是將車燈和車身仿形塊一同裝在檢具上，再利用測量工具對車燈和車身仿形塊之間的間隙進行測量。人工檢測存在很多弊端，主要體現(xiàn)在檢測效率低，車燈、仿形塊和檢具的安裝過程和測量都需要很長時間，而且測量結(jié)果容易受到人為因素影響。若考慮通過某些光電傳感器來檢測車燈和車身仿形塊之間的間隙，會出現(xiàn)如下問題：由于車燈被檢部分是三維的透明物體，且為了確保車燈的透明表面不受破壞，在檢測過程中不能對車燈的表面做任何處理。這會導致光電傳感器難以同時對透明的車燈和非透明的車身仿形塊進行準確的曝光測量。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決上述問題，本發(fā)明的目的是提供一種車燈外形檢測方法，以解決光電傳感器難以同時對車燈和車身仿形塊進行準確的曝光測量的問題。

基于此，本發(fā)明提供了一種車燈外形檢測方法，包括如下步驟：

步驟S1、根據(jù)車身仿形塊的三維模型計算出間隙值測量所需要的測量位置和測量角度；

步驟S2、在檢具上安裝所述車身仿形塊，根據(jù)所述測量位置和測量角度測量出所述車身仿形塊的邊緣的二維輪廓數(shù)據(jù)，并記為參照數(shù)據(jù)；

步驟S3、將所述車身仿形塊拆下并在所述檢具上安裝待測車燈，根據(jù)所述測量位置和測量角度測量出所述待測車燈的邊緣的二維輪廓數(shù)據(jù)，并記為測量數(shù)據(jù)；

步驟S4、根據(jù)所述參照數(shù)據(jù)和測量數(shù)據(jù)計算出所述測量位置的間隙值。

作為優(yōu)選的，所述步驟S2還包括：采用激光輪廓傳感器檢測所述車身仿形塊的邊緣的二維輪廓數(shù)據(jù)，所述激光輪廓傳感器在每個所述測量位置的檢測曝光時間小于或等于240μs。

作為優(yōu)選的，所述步驟S3還包括：采用激光輪廓傳感器檢測所述待測車燈的邊緣的二維輪廓數(shù)據(jù)，所述激光輪廓傳感器在每個所述測量位置的檢測曝光時間大于或等于10ms。

作為優(yōu)選的，所述步驟S2和步驟S3之間還包括步驟S23：根據(jù)所述檢具上的定位孔相對檢具底座的偏移量計算出第一補償數(shù)據(jù)；

所述步驟S3和步驟S4之間還包括步驟S34：根據(jù)所述待測車燈上的安裝孔相對于所述檢具的偏移量計算出第二補償數(shù)據(jù)；

所述步驟S4還包括：根據(jù)所述第一補償數(shù)據(jù)對所述參照數(shù)據(jù)進行校正并產(chǎn)生參照校正數(shù)據(jù)，根據(jù)所述第二補償數(shù)據(jù)對所述測量數(shù)據(jù)進行校正并產(chǎn)生測量校正數(shù)據(jù)，根據(jù)所述參照校正數(shù)據(jù)和測量校正數(shù)據(jù)計算出所述測量位置的間隙值。

作為優(yōu)選的，所述步驟S1還包括：根據(jù)所述待測車燈的三維模型計算出面差值測量的檢測位置；

所述步驟S2還包括：在所述檢測位置上檢測所述車身仿形塊的外壁面，并記為面差參照數(shù)據(jù)；

所述步驟S3還包括：在所述檢測位置上檢測所述待測車燈的外壁面，將所述待測車燈的外壁面與所述面差參照數(shù)據(jù)進行比對產(chǎn)生面差數(shù)據(jù)。

作為優(yōu)選的，所述步驟S2還包括：交替檢測所述車身仿形塊的參照數(shù)據(jù)和所述車身仿形塊的面差參照數(shù)據(jù)；

所述步驟S3還包括：交替檢測所述待測車燈的測量數(shù)據(jù)和所述待測車燈的面差數(shù)據(jù)。