[發明專利]芯片測試方法、裝置、電子設備及計算機可讀介質

有效

• 申請號: 201811261790.3
• 申請日: 2018-10-26
• 公開（公告）號: CN111105839B
• 公開（公告）日: 2022-04-15
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 長鑫存儲技術有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京律智知識產權代理有限公司 11438
• 代理人: 袁禮君;闞梓瑄

本公開涉及一種芯片測試方法、裝置、電子設備及計算機可讀介質。涉及芯片測試領域，該方法包括：確定待測試的芯片的語言規則；確定待測試的芯片的產品及時序規格；根據所述語言規則與所述產品及時序規格由測試模板庫中確定待測試模板；根據所述產品及時序規則與所述待測試模板生成測試編碼；以及通過所述測試編碼對待測試的芯片進行自動化測試。本公開涉及的芯片測試方法、裝置、電子設備及計算機可讀介質，能夠自動生成大數據復雜存儲器測試編碼，采用正規化方式快速地產生不同規格的DDR4存儲器測試編碼，提升芯片產品驗證分析效率。

技術領域

本公開涉及芯片測試領域，具體而言，涉及一種芯片測試方法、裝置、電子設備及計算機可讀介質。

背景技術

隨著當前存儲技術的快速發展和存儲市場的高速擴大，存儲器芯片以其容量大、讀寫速度快、價格低廉等絕對優勢迅速崛起，同時，為了保證存儲器能長期可靠的工作，存儲器產品出廠前需要做各種高速、細致的測試。

在相關技術中，對于存儲器產品的測試，大部分工作需要測試人員手工完成，測試人員需要先確認待測試存儲器的對應型號、速度，然后選擇適合與該儲存器型號的測試項目。在確定了測試項目之后，測試人員還需要手動編寫測試代碼，對于每一個測試指令，都要依次編寫代碼，然后通過編寫完成的代碼進行存儲器測試。

這種通過手工編寫代碼進行芯片測試的方式，極大的浪費了人力物力，降低了存儲器測試的效率。而且，隨著時代的發展，越來越多的快速大容量的存儲器問世，對于存儲器的測試代碼的復雜度和編碼數量的需求也越來越高，而對于大數據的測試代碼，繼續通過人工編寫逐行生成編碼的方式，也已經制約了存儲器測試行業的發展。

因此，需要一種新的芯片測試方法、裝置、電子設備及計算機可讀介質。

在所述背景技術部分公開的上述信息僅用于加強對本公開的背景的理解，因此它可以包括不構成對本領域普通技術人員已知的現有技術的信息。

發明內容

有鑒于此，本公開提供一種芯片測試方法、裝置、電子設備及計算機可讀介質，能夠自動生成大數據復雜存儲器測試編碼，提高芯片測試效率。

本公開的其他特性和優點將通過下面的詳細描述變得顯然，或部分地通過本公開的實踐而習得。

根據本公開的一方面，提出一種芯片測試方法，該方法包括：確定待測試的芯片的語言規則；確定待測試的芯片的產品及時序規格；根據所述語言規則與所述產品及時序規格由測試模板庫中確定待測試模板；根據所述產品及時序規則與所述待測試模板生成測試編碼；以及通過所述測試編碼對待測試的芯片進行自動化測試。

在本公開的一種示例性實施例中，還包括：通過多個測試模板生成所述測試模板庫；所述多個測試模板包括：快速讀操作測試模板，快速寫操作測試模板，快速讀寫操作測試模板、自更新測試模板、更新測試模板、ZQ校準測試模板、模式寄存器設置測試模板、以及掉電預充電測試模板。

在本公開的一種示例性實施例中，所述芯片包括：存儲器芯片。

在本公開的一種示例性實施例中，所述存儲器芯片是DDR4芯片。

在本公開的一種示例性實施例中，根據待測試芯片的規范文檔確定待測試的芯片的語言規則。

在本公開的一種示例性實施例中，確定待測試的芯片的產品規則包括：確定待測試芯片的存儲器單元地址、存儲器行地址、存儲器列地址、以及存儲器頁面大小。

在本公開的一種示例性實施例中，確定待測試的芯片的時序規格包括：確定待測試的存儲器的型號識別標識、產品標識、以及參數。

在本公開的一種示例性實施例中，根據所述語言規則與所述產品及時序規則由測試模板庫中確定待測試模板包括：根據所述產品及時序規則確定待測試芯片的資料庫；以及根據所述語言規則與所述資料庫由測試模板庫中隨機確定待測試模板。