[發(fā)明專利]帶寬壓縮中的預(yù)測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811260555.4 | 申請日: | 2018-10-26 |
| 公開(公告)號: | CN109451305B | 公開(公告)日: | 2021-05-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 田林海;岳慶冬;李雯 | 申請(專利權(quán))人: | 西安科銳盛創(chuàng)新科技有限公司 |
| 主分類號: | H04N19/103 | 分類號: | H04N19/103;H04N19/132;H04N19/182;H04N19/129;H04N19/42 |
| 代理公司: | 西安嘉思特知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 孫濤濤 |
| 地址: | 710065 陜西省西安市高新區(qū)高新路86號*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 帶寬 壓縮 中的 預(yù)測 方法 | ||
1.一種帶寬壓縮中的預(yù)測方法,其特征在于,包括:
將圖像分成大小為m×n的多個(gè)MB;其中,m、n分別為每個(gè)所述MB的行分辨率、列分辨率;
采用自適應(yīng)紋理漸變預(yù)測方法對所述多個(gè)MB進(jìn)行預(yù)測以獲取第一殘差主觀和;包括:選取N種采樣方式對當(dāng)前MB進(jìn)行采樣并預(yù)測,以獲取所述當(dāng)前MB的第一預(yù)測殘差,其中N的取值為大于1的自然數(shù);根據(jù)當(dāng)前MB中每個(gè)像素的第一預(yù)測殘差分別計(jì)算當(dāng)前MB的第一殘差絕對值和與第一殘差和;根據(jù)所述第一殘差絕對值和與第一殘差和計(jì)算所述第一殘差主觀和;其中,N種采樣方式包括全采樣、1/2采樣、1/4采樣、1/8采樣和1/16采樣;
采用雙向跳塊掃描多方向預(yù)測方法對所述多個(gè)MB進(jìn)行預(yù)測以獲取第二殘差主觀和;包括:采用P種標(biāo)記符號依次循環(huán)對所述多個(gè)MB進(jìn)行標(biāo)記;其中,P為大于1的自然數(shù);采取雙向掃描方式掃描與所述當(dāng)前MB的標(biāo)記符號相同的MB;確定所述當(dāng)前MB的參考方向;通過所述參考方向計(jì)算所述當(dāng)前MB中每個(gè)像素的參考像素;通過所述參考像素確定每個(gè)像素的第二預(yù)測殘差;根據(jù)當(dāng)前MB中每個(gè)像素的第二預(yù)測殘差分別計(jì)算當(dāng)前MB的第二殘差絕對值和與第二殘差和;根據(jù)所述第二殘差絕對值和與第二殘差和計(jì)算所述第二殘差主觀和;
若所述第一殘差主觀和小于所述第二殘差主觀和,則選擇所述第一預(yù)測殘差作為所述當(dāng)前MB中每個(gè)像素的最終預(yù)測殘差;若所述第一殘差主觀和大于所述第二殘差主觀和,則選擇所述第二預(yù)測殘差作為所述當(dāng)前MB中每個(gè)像素的最終預(yù)測殘差;
其中,所述第一殘差主觀和與第二殘差主觀和的計(jì)算公式為:
SUBDk=a1×SADk+a2×SDk
k為預(yù)測模式的序號,取值為1或2;SUBD1為第一殘差主觀和,SUBD2為第二殘差主觀和;a1與a2為按場景配置的權(quán)重系數(shù);SAD1為當(dāng)前MB中每個(gè)像素的第一殘差絕對值和,SAD2為當(dāng)前MB中每個(gè)像素的第二殘差絕對值和;SD1為當(dāng)前MB中每個(gè)像素的第一殘差和,SD2為當(dāng)前MB中每個(gè)像素的第二殘差和。
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