[發明專利]基于多角度拍攝的背光面板缺陷檢測系統及方法有效
| 申請號: | 201811253119.4 | 申請日: | 2018-10-25 |
| 公開(公告)號: | CN109490311B | 公開(公告)日: | 2021-09-10 |
| 發明(設計)人: | 洪志坤;張勝森;歐昌東;鄭增強 | 申請(專利權)人: | 武漢精立電子技術有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88 |
| 代理公司: | 武漢開元知識產權代理有限公司 42104 | 代理人: | 黃行軍;李滿 |
| 地址: | 430070 湖北省武*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 角度 拍攝 背光 面板 缺陷 檢測 系統 方法 | ||
本發明公開了一種基于多角度拍攝的背光面板缺陷檢測系統,它包括正視相機和圖像處理器,正視相機用于拍攝整個背光面板的正視缺陷檢測圖像,它還包括高位側視相機和低位側視相機,高位側視相機用于拍攝背光面板的上半區缺陷檢測圖像,上半區缺陷檢測圖像為背光面板的頂邊至中心區域的缺陷檢測圖像,低位側視相機用于拍攝背光面板的下半區缺陷檢測圖像,下半區缺陷檢測圖像為背光面板的中心區域至底邊的缺陷檢測圖像;本發明能進行低漏檢率,低過檢率的缺陷目標檢測。
技術領域
本發明涉及顯示面板的自動化缺陷檢測技術領域,具體地指一種基于多角度拍攝的背光面板缺陷檢測系統及方法。
背景技術
在AOI(Automatic Optic Inspection,自動光學檢測)背光面板缺陷檢測中,面板的臟污異物、白點、劃傷、刮傷和毛屑等缺陷等級評判至關重要,是最基本的檢測內容。AOI背光面板的表面缺陷檢測結果直接影響了最終背光面板等級判定結果。傳統的表面缺陷等級劃分是通過人眼觀察背光缺陷去評級,人眼檢測的過程存在很強的主觀性,受個體因素影響大,直接導致檢測效率不穩定。同時隨著工作時間的延長,工人精力下降,人眼也會出現疲勞,加劇了檢測結果的不可靠性,導致檢測效率降低;另外,由于勞動成本的上升,企業雇傭大量工人無疑會給企業帶來沉重壓力。
針對上述問題,目前設計出了基于特定光學方法的背光面板缺陷檢測方案,該檢測方案的結構,如圖1所示,它通過單獨一個正視相機拍攝背光面板表面。這種背光面板缺陷檢測方式,只能檢測到正視臟污異物和白點這兩類缺陷,對于刮傷,劃傷和毛屑這種損傷類型的缺陷,無法被觀察到。
其次,由于背光面板本身存在微弱的亮度不均問題(這部分不會被判為缺陷)以及正視相機的噪聲問題,正視相機拍攝的畫面可能存在細微的噪點,在保證低漏檢率的條件下,這些噪點會導致大量的過檢測問題,過檢測即會導致檢測結果的誤判,降低了生產效率。這是由于單相機成像,圖片拍攝樣本單一,無法對比比較產生的。
發明內容
本發明的目的就是要提供一種基于多角度拍攝的背光面板缺陷檢測系統及方法,該系統和方法通過在現有方案上添加側視相機,并且在檢測邏輯上對多只相機拍攝圖片進行歸納處理,實現低漏檢率,低過檢率的缺陷目標檢測。
本發明所設計的一種基于多角度拍攝的背光面板缺陷檢測系統,它包括正視相機和圖像處理器,正視相機用于拍攝整個背光面板的正視缺陷檢測圖像,其特征在于:它還包括高位側視相機和低位側視相機,高位側視相機用于拍攝背光面板的上半區缺陷檢測圖像,上半區缺陷檢測圖像為背光面板的頂邊至中心區域的缺陷檢測圖像,低位側視相機用于拍攝背光面板的下半區缺陷檢測圖像,下半區缺陷檢測圖像為背光面板的中心區域至底邊的缺陷檢測圖像;圖像處理器用于利用正視缺陷檢測圖像、上半區缺陷檢測圖像和下半區缺陷檢測圖像并結合對應的正視基準圖像、上半區基準圖像和下半區基準圖像進行背光面板缺陷檢測。
一種上述檢測系統的背光面板缺陷檢測方法,它包括如下步驟:
步驟1:在檢測位點亮一張無缺陷的基準背光板,并利用正視相機、高位側視相機和低位側視相機同時拍攝,其中,正視相機對基準背光板進行正視拍攝得到正視基準圖像,高位側視相機對基準背光板的頂邊至中心區域進行拍攝得到上半區基準圖像,低位側視相機對基準背光板的中心區域至底邊進行拍攝得到下半區基準圖像;
步驟2:將待檢測的背光板放入檢測位并點亮,利用正視相機、高位側視相機和低位側視相機同時拍攝,正視相機對待檢測背光板進行正視拍攝得到正視缺陷檢測圖像,高位側視相機對待檢測背光板的頂邊至中心區域進行拍攝得到上半區缺陷檢測圖像,低位側視相機對待檢測背光板的中心區域至底邊進行拍攝得到下半區缺陷檢測圖像;
步驟3:圖像處理器利用正視缺陷檢測圖像、上半區缺陷檢測圖像和下半區缺陷檢測圖像并結合對應的正視基準圖像、上半區基準圖像和下半區基準圖像進行背光面板缺陷檢測。
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