[發明專利]一種線損校準方法及系統

有效

• 申請號: 201811249044.2
• 申請日: 2018-10-25
• 公開（公告）號: CN109309749B
• 公開（公告）日: 2020-06-26
• 發明（設計）人: 張磊
• 申請（專利權）人: 廈門美圖移動科技有限公司
• 主分類號: H04M1/24
• 分類號: H04M1/24;H04B17/20;H04B17/29
• 代理公司: 北京思睿峰知識產權代理有限公司 11396
• 代理人: 謝建云;趙愛軍

本發明公開了一種線損校準方法，該方法包括：通過測試儀器測量接口板的線損值，接口板至少包括測試座和與測試座連接的無線電天線接頭SMA接頭；通過測試儀器和的已知線損值的射頻線測量測試儀器的端口誤差；基于接口板的線損值、射頻線的線損值和測試儀器的的端口誤差，確定測試座與測試儀器端口之間的線損值。該方案可以準確地校準射頻測試過程中的路徑損耗，以便對移動終端的射頻參數進行測試。

技術領域

本發明涉及通信技術領域，尤其涉及一種線損校準方法及系統、射頻參數測試方法及系統。

背景技術

在手機生產過程中，需要對手機射頻參數，如發射功率、頻率誤差、相位誤差、接收靈敏度等進行測試。在通過綜合測試儀對手機射頻信號進行檢測時需要通過射頻線連接手機，其中，夾具的插損和測試儀器的不確定度稱為路徑的系統損耗，簡稱線損，可以通過校準來消除。為了提高手機射頻參數測試的準確性，需要對測試座到測試儀器之間的線損進行校準。

現有技術中進行線損校準的方法，一種是利用金機校準線損，即校準射頻線、測試夾具、測試儀器等的損耗。金機是將各項指標和參數調到固定的最佳值，在測試時金機通過射頻線連接綜合測試儀，以金機的指標對射頻線和綜合測試儀同時進行校準。這種方法有一定的缺陷，隨著放置時間的變長和溫度的變化，金機的功率可能會有變化，易損壞。第二種是定期用矢量網絡分析儀校準線損，這種方法精度高但是只能測試兩端都是SMA接口的射頻線的線損，而夾具一般接口是頂針，線損無法測試。且這種方式無法對測試儀器的偏差進行一致性校準。

因此，需要一種線損校準方法，能夠準確校準射頻測試過程中的路徑損耗，以便對移動終端的射頻參數進行測試。

發明內容

為此，本發明提供了一種線損校準方法及系統、射頻參數測試方法及系統，以力圖解決或者至少緩解上面存在的至少一個問題。

根據本發明的一個方面，提供了一種線損校準方法，在該方法中，首先通過測試儀器測量接口板的線損值，其中接口板包括測試座和與測試座連接的SMA接頭。接著通過測試儀器和已知線損值的射頻線測量測試儀器的端口誤差。最后基于接口板的線損值、射頻線的線損值和測試儀器的的端口誤差，確定測試座與測試儀器端口之間的線損值。

可選地，在上述方法中，射頻線的兩端具有SMA接頭。

可選地，在上述方法中，測試座可以包括主集測試座和分集測試座，SMA接頭可以包括主集SMA接頭和分集SMA接頭，主集SMA接頭和分集SMA接頭分別通過衰減網絡與主集測試座和分集測試座連接。

可選地，在上述方法中，可以使測試儀器的一端通過扣線連接主集測試座，另一端通過射頻線連接主集SMA接頭，從而測得二端口網絡的主集線損值。然后基于二端口網絡的主集線損值、扣線的線損值和射頻線的線損值，計算接口板的主集線損值。同樣地，可以使測試儀器的一端通過扣線連接分集測試座，另一端通過射頻線連接分集SMA接頭，測得二端口網絡的分集線損值。然后基于二端口網絡的分集線損值、接扣線的線損值和射頻線的線損值，計算接口板的分集線損值。

可選地，在上述方法中，測試儀器可以包括主集發射端口、分集發射端口和接收端口。可以通過射頻線連接主集發射端口和接收端口，使主集發射端口發射第一預定功率，測量接收端口的第一接收功率。并通過射頻線連接分集發射端口和接收端口，使分集發射端口發射第一預定功率，測量接收端口的第二接收功率。然后基于第一預定功率、第一接收功率和射頻線的線損值，計算測試儀器的主集端口誤差。基于第一預定功率、第二接收功率和射頻線的線損值，計算測試儀器的分集端口誤差。