[發明專利]一種線損校準方法及系統

有效

• 申請號: 201811249044.2
• 申請日: 2018-10-25
• 公開（公告）號: CN109309749B
• 公開（公告）日: 2020-06-26
• 發明（設計）人: 張磊
• 申請（專利權）人: 廈門美圖移動科技有限公司
• 主分類號: H04M1/24
• 分類號: H04M1/24;H04B17/20;H04B17/29
• 代理公司: 北京思睿峰知識產權代理有限公司 11396
• 代理人: 謝建云;趙愛軍

1.一種線損校準方法，適用于移動終端，其中，所述方法包括：

通過測試儀器測量接口板的線損值，所述接口板至少包括測試座和與測試座連接的無線電天線接頭SMA接頭，所述測試座包括主集測試座和分集測試座，所述SMA接頭包括主集SMA接頭和分集SMA接頭，所述主集SMA接頭和分集SMA接頭分別通過衰減網絡與主集測試座和分集測試座連接，所述通過測試儀器測量接口板的線損值的步驟包括：

使所述測試儀器的一端通過扣線連接所述主集測試座，另一端通過射頻線連接所述主集SMA接頭，測得二端口網絡的主集線損值；

基于二端口網絡的主集線損值、扣線的線損值和射頻線的線損值，計算所述接口板的主集線損值；以及

使所述測試儀器的一端通過扣線連接所述分集測試座，另一端通過射頻線連接所述分集SMA接頭，測得二端口網絡的分集線損值；

基于二端口網絡的分集線損值、接扣線的線損值和射頻線的線損值，計算所述接口板的分集線損值；

通過測試儀器和已知線損值的射頻線測量測試儀器的端口誤差；以及

基于所述接口板的線損值、所述射頻線的線損值和所述測試儀器的端口誤差，確定所述測試座與測試儀器端口之間的線損值；

根據所述測試座與測試儀器端口之間的線損值對手機進行校準。

2.如權利要求1所述的方法，其中，所述射頻線的兩端具有SMA接頭。

3.如權利要求1所述的方法，所述測試儀器至少包括主集發射端口、分集發射端口和接收端口，其中，所述通過測試儀器和具有SMA接頭的射頻線測量測試儀器的端口誤差的步驟包括：

通過射頻線連接所述主集發射端口和接收端口，使所述主集發射端口發射第一預定功率，測量接收端口的第一接收功率；

通過射頻線連接所述分集發射端口和接收端口，使所述分集發射端口發射第一預定功率，測量接收端口的第二接收功率；

基于所述第一預定功率、第一接收功率和射頻線的線損值，計算測試儀器的主集端口誤差；以及

基于所述第一預定功率、第二接收功率和射頻線的線損值，計算測試儀器的分集端口誤差。

4.如權利要求3所述的方法，其中，

所述主集端口誤差為所述第一接收功率與所述第一預定功率、射頻線的線損值的差值；

所述分集端口誤差為所述第二接收功率與所述第一預定功率、射頻線的線損值的差值。

5.如權利要求4所述的方法，其中，所述基于所述接口板的線損值、所述射頻線的線損值和所述測試儀器的端口誤差，確定所述測試座與測試儀器端口之間的線損值的步驟包括：

通過射頻線連接主集SMA接頭和接收端口，使所述主集發射端口發射第二預定功率，測量接收端口的第三接收功率；

通過射頻線連接分集SMA接頭和接收端口，使所述分集發射端口發射第二預定功率，測量接收端口的第四接收功率；以及

基于所述第三接收功率、所述主集端口誤差、射頻線的線損值、接口板的主集線損值以及第二預定功率，計算所述測試座與測試儀器端口之間的主集線損值；

基于所述第四接收功率、所述分集端口誤差、射頻線的線損值、接口板的分集線損值以及第二預定功率，計算所述測試座與測試儀器端口之間的分集線損值。

6.如權利要求5所述的方法，其中，

所述測試座與測試儀器端口之間的主集線損值為所述第三接收功率與第二預定功率、接口板的主集線損值、射頻線的線損值、主集端口誤差的差值；

所述測試座與測試儀器端口之間的分集線損值為所述第四接收功率與第二預定功率、接口板的分集線損值、射頻線的線損值、分集端口誤差的差值。

7.如權利要求5所述的方法，其中，當所述第一預定功率等于第二預定功率，并且所述射頻線的線損值相同，

所述測試座與測試儀器端口之間的主集線損值為所述第三接收功率與第一接收功率、接口板的主集線損值的差值；

所述測試座與測試儀器端口之間的分集線損值為所述第四接收功率與第二接收功率、接口板的分集線損值的差值。