[發明專利]驅動裝置和半導體裝置

在審

• 申請號: 201811246108.3
• 申請日: 2018-10-25
• 公開（公告）號: CN109936280A
• 公開（公告）日: 2019-06-25
• 發明（設計）人: 松原邦夫;長野剛
• 申請（專利權）人: 富士電機株式會社
• 主分類號: H02M1/08
• 分類號: H02M1/08
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 周爽;金玉蘭

隨著半導體元件的開關速度變快，從關斷的開始起到結束為止的期間檢測電壓等的異常而改變驅動條件逐漸變難。本發明提供一種驅動裝置，其具備：驅動半導體元件的柵極驅動部；采樣部，其在半導體元件的導通期間對根據流向半導體元件的導通電流而變化的觀測值進行采樣；變更部，其根據在半導體元件的導通期間采樣到的觀測值，變更關斷半導體元件時柵極驅動部驅動半導體元件的柵極的驅動條件。

技術領域

本發明涉及驅動裝置和半導體裝置。

背景技術

一直以來，在驅動半導體元件的柵極的驅動裝置中，提出了降低關斷損耗、浪涌電壓等的同時用于關斷半導體元件的各種技術(例如，參照專利文獻1～9)。在這樣的技術中，例如，在關斷的半導體元件的電壓達到電源電壓時改變驅動條件。

專利文獻1：日本專利第5516705號說明書

專利文獻2：日本特開2015-204659號公報

專利文獻3：日本專利第4742828號說明書

專利文獻4：日本專利第6168253號說明書

專利文獻5：日本特開2008-78816號公報

專利文獻6：日本特開2009-195017號公報

專利文獻7：日本特開2008-193717號公報

專利文獻8：日本特開2014-176228號公報

專利文獻9：日本特開2016-77110號公報

發明內容

技術問題

但是，隨著半導體元件的開關速度變快，在從關斷的開始到結束期間根據電壓等測定值檢測異常來改變驅動條件變得越發困難。

技術方案

為了解決上述問題，在本發明的第一實施方式中，可以提供驅動裝置。驅動裝置可以具備驅動半導體元件的柵極驅動部。驅動裝置可以具備采樣部，所述采樣部在半導體元件的導通期間對根據流向半導體元件的導通電流而變化的觀測值進行采樣。驅動裝置還具備變更部，所述變更部根據在半導體元件的導通期間采樣到的觀測值，變更關斷半導體元件時柵極驅動部驅動半導體元件的柵極的驅動條件。

采樣部可以保持采樣到的觀測值。變更部可以根據保持的觀測值，變更在關斷半導體元件時柵極驅動部驅動柵極的驅動條件。

采樣部可以在半導體元件的導通期間對觀測值進行采樣。

采樣部可以對與從半導體元件的導通期間開始起到半導體元件的元件電壓成為基準電壓為止的時間對應的觀測值進行采樣。

采樣部可以具有比較半導體元件的元件電壓與基準電壓的比較電路。采樣部具有采樣電路，所述采樣電路在從半導體元件的導通期間開始起經過了第一基準時間的時刻，對與比較電路的比較結果對應的觀測值進行采樣。

采樣部可以在從半導體元件的導通期間開始起經過了第二基準時間的時刻，對與半導體元件的柵極電壓或者柵極電流對應的觀測值進行采樣。

采樣部可以在半導體元件的導通期間內的米勒平臺，對與半導體元件的柵極電壓或者柵極電流對應的觀測值進行采樣。

變更部能夠切換第一驅動條件和第二驅動條件，所述第二驅動條件與第一驅動條件相比，使半導體元件的柵極的電荷量更緩慢地變化。在表示在半導體元件的導通期間采樣到的觀測值為基準電流以下的導通電流的情況下，變更部可以在半導體元件的關斷期間將柵極驅動部的驅動條件維持為第一驅動條件。在表示在半導體元件的導通期間采樣到的觀測值為超過基準電流的導通電流的情況下，變更部可以在半導體元件的關斷期間的中途將柵極驅動部的驅動條件從第一驅動條件切換為第二驅動條件。