[發明專利]驅動裝置和半導體裝置

在審

• 申請號: 201811246108.3
• 申請日: 2018-10-25
• 公開（公告）號: CN109936280A
• 公開（公告）日: 2019-06-25
• 發明（設計）人: 松原邦夫;長野剛
• 申請（專利權）人: 富士電機株式會社
• 主分類號: H02M1/08
• 分類號: H02M1/08
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 周爽;金玉蘭

1.一種驅動裝置，其特征在于，具備：

柵極驅動部，其驅動半導體元件；

采樣部，其在所述半導體元件的導通期間，對根據流通所述半導體元件的導通電流而變化的觀測值進行采樣；

變更部，其根據在所述半導體元件的導通期間采樣到的所述觀測值，變更在關斷所述半導體元件時所述柵極驅動部驅動所述半導體元件的柵極的驅動條件。

2.根據權利要求1所記載的驅動裝置，其特征在于，所述采樣部保持采樣到的所述觀測值，

所述變更部根據保持的所述觀測值，變更在關斷所述半導體元件時所述柵極驅動部驅動所述柵極的驅動條件。

3.根據權利要求1或2所記載的驅動裝置，其特征在于，所述采樣部在所述半導體元件的導通期間對所述觀測值進行采樣。

4.根據權利要求3所記載的驅動裝置，其特征在于，所述采樣部對與從所述半導體元件的導通期間的開始起算到所述半導體元件的元件電壓成為基準電壓為止的時間對應的所述觀測值進行采樣。

5.根據權利要求3或4所記載的驅動裝置，其特征在于，所述采樣部具有：

比較電路，其比較所述半導體元件的元件電壓和基準電壓；

采樣電路，其在從所述半導體元件的導通期間的開始起算經過了第一基準時間的時刻，對與所述比較電路的比較結果對應的所述觀測值進行采樣。

6.根據權利要求3所記載的驅動裝置，其特征在于，所述采樣部在從所述半導體元件的導通期間的開始起算經過了第二基準時間的時刻，對與所述半導體元件的柵極電壓或者柵極電流對應的所述觀測值進行采樣。

7.根據權利要求6所記載的驅動裝置，其特征在于，所述采樣部在所述半導體元件的導通期間中的米勒平臺，對與所述半導體元件的柵極電壓或者柵極電流對應的所述觀測值進行采樣。

8.根據權利要求1～7中任一項所記載的驅動裝置，其特征在于，所述變更部能夠切換第一驅動條件及第二驅動條件，所述第二驅動條件與所述第一驅動條件相比，使所述半導體元件的柵極的電荷量更緩慢地變化，

在示出在所述半導體元件的導通期間采樣到的所述觀測值為基準電流以下的導通電流的情況下，變更部在所述半導體元件的關斷期間將所述柵極驅動部的驅動條件維持為所述第一驅動條件，

在示出在所述半導體元件的導通期間采樣到的所述觀測值為超過基準電流的導通電流的情況下，變更部在所述半導體元件的關斷期間的中途將所述柵極驅動部的驅動條件從所述第一驅動條件切換為所述第二驅動條件。

9.根據權利要求8所記載的驅動裝置，其特征在于，還具備超時檢測部，其檢測所述半導體元件的導通期間是否超過預先設定的第三基準時間，

在所述半導體元件的導通期間超過了所述第三基準時間的情況下，所述變更部不管所述觀測值的大小如何，都在所述半導體元件的關斷期間的中途將所述柵極驅動部的驅動條件從所述第一驅動條件切換為所述第二驅動條件。

10.根據權利要求1～9中任一項所記載的驅動裝置，其特征在于，所述半導體元件為寬帶隙半導體元件。

11.一種半導體裝置，其特征在于，具備：

權利要求1～10中任一項所記載的驅動裝置；以及

所述半導體元件。