[發(fā)明專利]評估光學(xué)模塊的測試設(shè)備和方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811242497.2
• 申請日: 2018-10-24
• 公開（公告）號: CN109708843B
• 公開（公告）日: 2022-06-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 入江剛;荒川敬;高橋克征
• 申請（專利權(quán)）人: 住友電工光電子器件創(chuàng)新株式會(huì)社
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 北京天昊聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11112
• 代理人: 李銘;盧吉輝

能夠同時(shí)評估兩個(gè)或更多光學(xué)模塊的測試設(shè)備，光學(xué)模塊均處理多路復(fù)用屬于彼此不同的波長的光學(xué)信號的波長多路復(fù)用信號。測試設(shè)備提供第一測試站和第二測試站。在選擇所述波長中的一個(gè)之后，第一測試站執(zhí)行屬于所述波長中的一個(gè)波長且來自第一光學(xué)模塊的光學(xué)信號的第一評估，且第二站同時(shí)執(zhí)行具有波長中的一個(gè)的且來自第二光學(xué)模塊的光學(xué)信號的第二評估。隨后，第一測試站執(zhí)行來自第二光學(xué)模塊的光學(xué)信號的第一評估，而第二測試站執(zhí)行來自第一光學(xué)模塊的光學(xué)信號的第二評估。

相關(guān)申請交叉引用

本申請基于在2017年10月25日提交的日本專利申請No.2017-206163的優(yōu)先權(quán)的權(quán)益并對其進(jìn)行保護(hù)，其全部內(nèi)容通過引用并入本文。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及用于評估光學(xué)模塊的測試設(shè)備，具體地，涉及用于評估具有發(fā)送和接收波長多路復(fù)用信號的功能的光學(xué)模塊的測試設(shè)備。

背景技術(shù)

有必要在發(fā)送信號之前使用測試設(shè)備對生成光學(xué)信號的光學(xué)發(fā)射器進(jìn)行評估。日本專利特開No.JP2007-271590A已經(jīng)公開了這種測試設(shè)備。在光學(xué)模塊內(nèi)實(shí)現(xiàn)的發(fā)光器件生成光學(xué)信號，測試設(shè)備通過該光學(xué)信號對光學(xué)模塊進(jìn)行評估。一種類型的光學(xué)模塊具有處理波長多路復(fù)用信號的功能，即，發(fā)送和/或接收波長多路復(fù)用信號。測試設(shè)備有必要針對相應(yīng)波長評估光學(xué)模塊(如，針對相應(yīng)波長重置測試功能)，這花費(fèi)足夠的節(jié)拍時(shí)間(tacttime)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的一個(gè)方面涉及一種用于評估第一光學(xué)模塊和第二光學(xué)模塊的測試設(shè)備，該第一光學(xué)模塊和第二光學(xué)模塊均處理波長多路復(fù)用信號，該波長多路復(fù)用信號多路復(fù)用具有彼此不同的特定的波長的光學(xué)信號。屬于所述第一光學(xué)模塊的波長和屬于所述第二光學(xué)模塊的波長實(shí)質(zhì)上彼此相等。本發(fā)明的測試設(shè)備包括：第一測試站、第二測試站和控制器。第一測試站分別使用從所述第一光學(xué)模塊輸出的所述光學(xué)信號中的一個(gè)和從所述第二光學(xué)模塊輸出的所述光學(xué)信號中的另一個(gè)執(zhí)行對所述第一光學(xué)模塊和第二光學(xué)模塊的第一評估。第二測試站分別使用所述光學(xué)信號中的所述一個(gè)和所述光學(xué)信號中的所述另一個(gè)執(zhí)行對所述第一光學(xué)模塊和第二光學(xué)模塊的第二評估。控制器控制所述第一評估和所述第二評估的切換。所述第一測試站和所述第二測試站在第一時(shí)間段中分別同時(shí)執(zhí)行所述第一光學(xué)模塊的所述第一評估和所述第二光學(xué)模塊的所述第二評估，且在所述第一時(shí)間段之后的第二時(shí)間段期間，分別同時(shí)執(zhí)行所述第一光學(xué)模塊的所述第二評估和所述第二光學(xué)模塊的所述第一評估。本發(fā)明的測試設(shè)備的特征在于，關(guān)于各個(gè)波長，重復(fù)所述第一光學(xué)模塊和所述第二光學(xué)模塊的所述第一評估和所述第二評估。

本發(fā)明的另一個(gè)方面涉及一種用于評估第一光學(xué)模塊和第二光學(xué)模塊的方法。第一光學(xué)模塊和第二光學(xué)模塊處理波長多路復(fù)用信號，波長多路復(fù)用信號多路復(fù)用均具有彼此不同的特定的波長的光學(xué)信號。本發(fā)明的方法包括以下步驟：(a)選擇所述波長中的一個(gè)波長；(b)向第一測試站提供從所述第一光學(xué)模塊輸出的光學(xué)信號中的具有所述一個(gè)波長的一個(gè)光學(xué)信號，以及向第二測試站提供從所述第二光學(xué)模塊輸出的所述光學(xué)信號中的具有所述一個(gè)波長的另一個(gè)光學(xué)信號；(c)在第一時(shí)間段中，同時(shí)執(zhí)行第一評估和第二評估：使用所述一個(gè)光學(xué)信號在所述第一測試站處執(zhí)行所述第一光學(xué)模塊的第一評估，并且使用所述另一個(gè)光學(xué)信號在所述第二測試站處執(zhí)行所述第二光學(xué)模塊的第二評估；(d)在所述第一時(shí)間段后的第二時(shí)間段中，同時(shí)執(zhí)行第一評估和第二評估：使用所述另一個(gè)光學(xué)信號在所述第一測試站處執(zhí)行所述第二光學(xué)模塊的所述第一評估，并且使用所述一個(gè)光學(xué)信號在所述第二測試站處執(zhí)行所述第一光學(xué)模塊的所述第二評估；以及針對各個(gè)波長，重復(fù)步驟(a)至步驟(d)。

附圖說明

將參考附圖根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例的以下詳細(xì)描述更好地理解前述和其他目的、方面以及優(yōu)點(diǎn)，其中：

圖1示出測試設(shè)備的功能框圖；

圖2A和圖2B放大4選1選擇器(4:1選擇器)和2選2選擇器(2:2選擇器)，其中，2選2選擇器分別處于平行配置和交叉配置；