[發明專利]評估光學模塊的測試設備和方法

有效

• 申請號: 201811242497.2
• 申請日: 2018-10-24
• 公開（公告）號: CN109708843B
• 公開（公告）日: 2022-06-28
• 發明（設計）人: 入江剛;荒川敬;高橋克征
• 申請（專利權）人: 住友電工光電子器件創新株式會社
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 李銘;盧吉輝

1.一種用于評估第一光學模塊和第二光學模塊的測試設備，所述第一光學模塊和所述第二光學模塊處理波長多路復用信號，所述波長多路復用信號多路復用各自具有彼此不同的波長的光學信號，屬于所述第一光學模塊的波長和屬于所述第二光學模塊的波長實質上彼此相等，所述測試設備包括：

第一測試站，其分別使用從所述第一光學模塊輸出的所述光學信號中的一個和從所述第二光學模塊輸出的所述光學信號中的另一個對所述第一光學模塊和所述第二光學模塊執行第一評估，所述第一測試站包括光學波形分析器；

第二測試站，其分別使用所述光學信號中的所述一個和所述光學信號中的所述另一個對所述第一光學模塊和所述第二光學模塊執行第二評估，所述第二測試站包括光譜儀、光學功率計和誤差率檢測器；以及

控制器，其控制所述第一評估和所述第二評估的切換，以及

其中，所述第一測試站和所述第二測試站在第一時間段中分別同時執行所述第一光學模塊的所述第一評估和所述第二光學模塊的所述第二評估，且在所述第一時間段之后的第二時間段期間，分別同時執行所述第一光學模塊的所述第二評估和所述第二光學模塊的所述第一評估，以及

其中，關于各個波長，重復所述第一光學模塊和所述第二光學模塊的所述第一評估和所述第二評估。

2.根據權利要求1所述的測試設備，還包括選擇器，其提供輸入端口和輸出端口，所述輸入端口分別接收從所述第一光學模塊和所述第二光學模塊中的一個輸出的光學信號，所述輸出端口與所述輸入端口中的僅一個輸入端口光學耦接，

其中，在各個波長中，所述控制器選擇所述輸入端口中的一個輸入端口以與所述輸出端口光學耦接。

3.根據權利要求1所述的測試設備，還包括2選2選擇器，其提供兩個輸入端口和兩個輸出端口，所述兩個輸入端口分別與所述第一光學模塊和所述第二光學模塊光學耦接，所述兩個輸出端口分別與所述第一測試站和所述第二測試站耦接，

其中，在所述第一時間段，所述輸入端口中與所述第一光學模塊耦接的一個輸入端口與所述輸出端口中與所述第一測試站耦接的一個輸出端口耦接，且所述輸入端口中與所述第二光學模塊耦接的另一個輸入端口與所述輸出端口中與所述第二測試站耦接的另一個輸出端口耦接，以及

在所述第二時間段，所述輸入端口中與所述第一光學模塊耦接的所述一個輸入端口與所述輸出端口中與所述第二測試站耦接的所述另一個輸出端口耦接，且所述輸入端口中與所述第二光學模塊耦接的所述另一個輸入端口與所述輸出端口中與所述第一測試站耦接的所述一個輸出端口耦接。

4.根據權利要求2所述的測試設備，還包括2選2選擇器，其提供兩個輸入端口和兩個輸出端口，所述兩個輸入端口分別與所述第一光學模塊和所述第二光學模塊光學耦接，所述兩個輸出端口分別與所述第一測試站和所述第二測試站耦接，

其中，在所述第一時間段，所述輸入端口中與所述第一光學模塊耦接的一個輸入端口與所述輸出端口中與所述第一測試站耦接的一個輸出端口耦接，且所述輸入端口中與所述第二光學模塊耦接的另一個輸入端口與所述輸出端口中與所述第二測試站耦接的另一個輸出端口耦接，以及

在所述第二時間段，所述輸入端口中與所述第一光學模塊耦接的所述一個輸入端口與所述輸出端口中與所述第二測試站耦接的所述另一個輸出端口耦接，且所述輸入端口中與所述第二光學模塊耦接的所述另一個輸入端口與所述輸出端口中與所述第一測試站耦接的所述一個輸出端口耦接。

5.根據權利要求1所述的測試設備，還包括第三測試站，

其中，所述第一光學模塊和所述第二光學模塊均提供接收器，所述接收器接收相應的波長多路復用信號，以及

其中，在所述第二時間段中，所述第三測試站評估所述第一光學模塊中的接收器和所述第二光學模塊中的接收器。

6.根據權利要求4所述的測試設備，還包括第三測試站，

其中，所述第一光學模塊和所述第二光學模塊均提供接收器，所述接收器接收相應的波長多路復用信號，以及

其中，在所述第二時間段中，所述第三測試站評估所述第一光學模塊中的接收器和所述第二光學模塊中的接收器。