[發明專利]一種用于測試COB-LED光源光斑的夾具及測試COB-LED光源光斑的方法

在審

• 申請號: 201811239356.5
• 申請日: 2018-10-23
• 公開（公告）號: CN109342019A
• 公開（公告）日: 2019-02-15
• 發明（設計）人: 陳家俊;胡勇成;魯苗;王曉夢
• 申請（專利權）人: 廣州硅能照明有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 廣州市越秀區哲力專利商標事務所(普通合伙) 44288
• 代理人: 趙賽;蔡碧慧

一種用于測試COB?LED光源光斑的夾具及測試COB?LED光源光斑的方法。涉及光學測試領域。測試方法簡單且測試成本低。一種用于測試COB?LED光源光斑的夾具，包括底座和蓋合在所述底座上的上蓋，所述底座上設有光源顯示孔，LED芯片固定在所述底座上且所述LED芯片的發光部置于所述光源顯示孔內；所述上蓋包括上蓋基座，所述上蓋基座上設有用于遮擋所述光源顯示孔的遮擋部。一種用于測試COB?LED光源光斑的測試方法，包括選擇夾具步驟，分區步驟，測試步驟，計算步驟。不需要采用多種儀器儀表進行測試，測試步驟簡單。

技術領域

本發明涉及光學測試領域，尤其涉及一種用于測試COB-LED光源光斑的夾具及測試COB-LED光源光斑的方法。

背景技術

隨著時代科技不斷的發展，LED應用市場逐步成熟；因為COB的散熱性能好，造價成本低且可以進行個性化設計，所以COB在照明上的應用也成為了一種潮流和趨勢。目前生產的COB(COB光源，或稱為高功率集成面光源)一般是藍光芯片加熒光粉再由透明膠體覆蓋在基板上形成的一種LED芯片(即為本案中所指的LED芯片)。用戶對產品的穩定性和可靠性需求越來越高；那么生產的COB 的質量要求也隨之增加。在COB制備工藝中，靜置過程和熒光粉沉降過程都存在熒光粉分布不均勻的現象；靜置過程熒光粉分布不均勻現象不明顯，而熒光粉沉降過程熒光粉分布不均勻現象較為明顯；熒光粉分布不均勻導致COB光源產生光斑。

目前針對這一現象的測試的儀器有：COA(空間光譜分布光度計)、近場分布光度計、遠場分布光度計。其中COA采用獨特的暗箱設計，專門用于LED封裝(包括集成封裝)的空間光強分布(配光性能)、空間顏色分布、平均顏色及顏色不均勻性、總光通量準確測試。以額定電流測試光源空間顏色均勻性。近場分布光度計，用于小型光源(如LED等)的近場測量，能夠得到光源的近場亮度分布，通過算法可建立光源的光線模型，并可推算出總光通量、空間任意位置的照度分布以及遠場光強分布等。遠場分布光度計，通常包含一個用于支承及定位被測光源的機械結構(轉臺)和光度探測器，根據CIE70的要求，在測量時光源和探測器的距離需要足夠遠(一般要求測量距離至少為LED光源最大發光口面的5倍)。而市場測試COB光源光斑的方法都需要這些儀器，對于測試量小和低精度測試來說，測試成本較高，測試方法較復雜。

發明內容

為了克服現有技術的不足，本發明的目的在于：提供一種測試方法簡單且測試成本低的用于測試COB-LED光源光斑的夾具及測試COB-LED光源光斑的方法。

本發明的目的采用如下技術方案實現：一種用于測試COB-LED光源光斑的夾具，包括底座和蓋合在所述底座上的上蓋，所述底座上設有光源顯示孔，LED 芯片固定在所述底座上且所述LED芯片的發光部置于所述光源顯示孔內；

所述上蓋包括上蓋基座，所述上蓋基座上設有用于遮擋所述光源顯示孔的遮擋部。

所述光源顯示孔為圓孔。

所述遮擋部為設于所述上蓋基座上的扇形孔，所述扇形孔的圓心與所述光源顯示孔的圓心同軸。

所述底座上設有至少一對出線孔，一對所述出線孔對稱設于所述光源顯示孔兩側，所述上蓋上設有與所述出線孔對應的通孔。

所述底座上設有用于容置所述LED芯片的容置槽，所述光源顯示孔設于所述容置槽的槽底；

所述容置槽用于容置所述LED芯片的基座，所述基座嵌合在所述容置槽內且所述發光部嵌合在所述光源顯示孔內。

一種用于測試COB-LED光源光斑的測試方法，包括選擇夾具步驟，通過用于測試COB-LED光源光斑的夾具夾持后進行測試。且據不同LED芯片的型號選擇合適的夾具進行測試；

分區步驟，將LED芯片的發光面均分為若干區域，便于進行測試比較；

測試步驟，各個區塊通過積分球的測試探針進行分別測試，并記錄各個色坐標數據；