[發(fā)明專利]一種用于測試COB-LED光源光斑的夾具及測試COB-LED光源光斑的方法

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• 申請日: 2018-10-23
• 公開（公告）號: CN109342019A
• 公開（公告）日: 2019-02-15
• 發(fā)明（設計）人: 陳家俊;胡勇成;魯苗;王曉夢
• 申請（專利權）人: 廣州硅能照明有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 廣州市越秀區(qū)哲力專利商標事務所(普通合伙) 44288
• 代理人: 趙賽;蔡碧慧

1.一種用于測試COB-LED光源光斑的夾具，包括底座和蓋合在所述底座上的上蓋，其特征在于，所述底座上設有光源顯示孔，LED芯片固定在所述底座上且所述LED芯片的發(fā)光部置于所述光源顯示孔內(nèi)；

所述上蓋包括上蓋基座，所述上蓋基座上設有用于遮擋所述光源顯示孔的遮擋部。

2.根據(jù)權利要求1所述的一種用于測試COB-LED光源光斑的夾具，其特征在于：所述光源顯示孔為圓孔。

3.根據(jù)權利要求1所述的一種用于測試COB-LED光源光斑的夾具，其特征在于：所述遮擋部為設于所述上蓋基座上的扇形孔，所述扇形孔的圓心與所述光源顯示孔的圓心同軸。

4.根據(jù)權利要求1所述的一種用于測試COB-LED光源光斑的夾具，其特征在于：所述底座上設有至少一對出線孔，一對所述出線孔對稱設于所述光源顯示孔兩側，所述上蓋上設有與所述出線孔對應的通孔。

5.根據(jù)權利要求1所述的一種用于測試COB-LED光源光斑的夾具，其特征在于：所述底座上設有用于容置所述LED芯片的容置槽，所述光源顯示孔設于所述容置槽的槽底；

所述容置槽用于容置所述LED芯片的基座，所述基座嵌合在所述容置槽內(nèi)且所述發(fā)光部嵌合在所述光源顯示孔內(nèi)。

6.一種用于測試COB-LED光源光斑的測試方法，其特征在于：包括選擇夾具步驟，通過權利要求1-5任一所述的用于測試COB-LED光源光斑的夾具夾持后進行測試，且據(jù)不同LED芯片的型號選擇合適的夾具進行測試；

分區(qū)步驟，將LED芯片的發(fā)光面均分為若干區(qū)域，便于進行測試比較；

測試步驟，各個區(qū)塊通過積分球的測試探針進行分別測試，并記錄各個色坐標數(shù)據(jù)；

計算步驟，將測試結果導入軟件進行計算，依照計算結果進行比對并區(qū)分LED芯片是否合格，完畢。

7.根據(jù)權利要求6所述的一種用于測試COB-LED光源光斑的測試方法，其特征在于：所述分區(qū)步驟為：

將置于光源顯示孔內(nèi)的發(fā)光部從光源顯示孔的圓心出發(fā)，均勻的分為四個呈90度的扇形區(qū)域，并分別編號。

8.根據(jù)權利要求6所述的一種用于測試COB-LED光源光斑的測試方法，其特征在于：所述測試步驟為：

將測試探針的一端穿過上蓋上的出線孔，再穿過底座上對用的孔，對夾具進行了固定；

LED芯片的發(fā)光部通過區(qū)域顯示孔顯示在外進行發(fā)光，蓋合上蓋后，發(fā)光部通過扇形孔顯示外在進行發(fā)光，其他區(qū)域被遮擋；

分別測得四個扇形區(qū)域的色坐標的值且每個區(qū)域進行多次測試并記錄每個區(qū)域的色坐標數(shù)據(jù)。

9.根據(jù)權利要求7所述的一種用于測試COB-LED光源光斑的測試方法，其特征在于：所述計算步驟為：

計算每個區(qū)域的色坐標數(shù)據(jù)的平均值，取每個區(qū)域色坐標的平均值計算四個區(qū)域的總平均值，取四個區(qū)域的平均值與總評均值的差值，取四個差值中最大的差值與標準值比對，判定LED芯片是否合格。