[發(fā)明專利]指紋信號的校準方法及裝置

在審

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• 申請日: 2018-10-23
• 公開（公告）號: CN111091026A
• 公開（公告）日: 2020-05-01
• 發(fā)明（設計）人: 王笛
• 申請（專利權）人: 北京小米移動軟件有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00
• 代理公司: 北京尚倫律師事務所 11477
• 代理人: 毛宏寶

本公開是關于一種指紋信號的校準方法及裝置。該方法包括：獲取目標指紋信號并檢測所述目標指紋信號是否發(fā)生偏移，所述目標指紋信號為在當前指紋應用過程中采集到的指紋信號；在檢測到所述指紋信號發(fā)生偏移時，獲取終端的光照環(huán)境以及指紋按壓狀態(tài)；在所述終端的光照環(huán)境以及指紋按壓狀態(tài)滿足預設條件時，執(zhí)行指紋信號的校準程序。本公開可對指紋信號進行校準，從而避免由指紋偏移引起的指紋性能下降甚至失效，以此保證指紋檢測功能的準確性和有效性。

技術領域

本公開涉及指紋識別技術領域，尤其涉及一種指紋信號的校準方法及裝置。

背景技術

指紋識別技術已經(jīng)成功的應用于移動終端領域，而且由指紋識別帶來的指紋解鎖和指紋支付等功能，更是讓用戶體驗到了極大的便利。

目前，指紋識別技術可分為外掛式指紋識別技術和面內(nèi)指紋識別技術。對于外掛式指紋識別技術而言，無論是將指紋模組置于終端的前面還是后面，都會占用整機的空間，例如在指紋模組置于終端的前面時會影響有效顯示區(qū)的面積，或者在指紋模組置于終端的后面時會影響整機的厚度。基于此可知，面內(nèi)指紋識別技術無疑會成為下一代智能終端技術創(chuàng)新的主流趨勢。

現(xiàn)有技術中，面內(nèi)指紋模組是通過框膠貼在觸控屏幕下方并用水膠進行固定的，但選用的膠具有一定的粘滯系數(shù)，因此在屏幕受到較大壓力或撞擊時，指紋模組有可能會發(fā)生不同程度的偏移，該偏移超過一定量時就會導致指紋壞點像素超標或者標準差偏高，從而影響指紋的性能。

發(fā)明內(nèi)容

為克服相關技術中存在的問題，本公開實施例提供一種指紋信號的校準方法及裝置。所述技術方案如下：

根據(jù)本公開實施例的第一方面，提供一種指紋信號的校準方法，包括：

獲取目標指紋信號并檢測所述目標指紋信號是否發(fā)生偏移，所述目標指紋信號為在當前指紋應用過程中采集到的指紋信號；

在檢測到所述指紋信號發(fā)生偏移時，獲取終端的光照環(huán)境以及指紋按壓狀態(tài)；

在所述終端的光照環(huán)境以及指紋按壓狀態(tài)滿足預設條件時，執(zhí)行指紋信號的校準程序。

在一個實施例中，所述獲取目標指紋信號并檢測所述目標指紋信號是否發(fā)生偏移包括：

獲取參考指紋信號以及當前指紋應用過程中的所述目標指紋信號，所述參考指紋信號為歷史記錄的指紋信號；

將所述目標指紋信號與所述參考指紋信號進行對比，以判斷所述目標指紋信號相對于所述參考指紋信號的變化量是否超出閾值；

在所述目標指紋信號相對于所述參考指紋信號的變化量超出閾值時，確定所述目標指紋信號發(fā)生偏移。

在一個實施例中，所述將所述目標指紋信號與所述參考指紋信號進行對比，以判斷所述目標指紋信號相對于所述參考指紋信號的變化量是否超出閾值包括：

獲取所述目標指紋信號對應的第一物理參數(shù)，所述第一物理參數(shù)包括目標指紋信號的強度平均值以及光照強度的標準差值；

獲取所述參考指紋信號對應的第二物理參數(shù)，所述第二物理參數(shù)包括參考指紋信號的強度平均值以及光照強度的標準差值；

將所述第一物理參數(shù)和所述第二物理參數(shù)進行對比，以判斷所述目標指紋信號相對于所述參考指紋信號的變化量是否超出閾值。

在一個實施例中，所述執(zhí)行指紋信號的校準程序包括：

獲取所述參考指紋信號以及第一基準信號，所述第一基準信號用于檢測所述參考指紋信號對應的信號變化量；

獲取所述目標指紋信號以及第二基準信號，所述第二基準信號用于檢測所述目標指紋信號對應的信號變化量；