[發明專利]指紋信號的校準方法及裝置在審
| 申請號: | 201811237911.0 | 申請日: | 2018-10-23 |
| 公開(公告)號: | CN111091026A | 公開(公告)日: | 2020-05-01 |
| 發明(設計)人: | 王笛 | 申請(專利權)人: | 北京小米移動軟件有限公司 |
| 主分類號: | G06K9/00 | 分類號: | G06K9/00 |
| 代理公司: | 北京尚倫律師事務所 11477 | 代理人: | 毛宏寶 |
| 地址: | 100085 北京市海淀區清河*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 指紋 信號 校準 方法 裝置 | ||
1.一種指紋信號的校準方法,其特征在于,包括:
獲取目標指紋信號并檢測所述目標指紋信號是否發生偏移,所述目標指紋信號為在當前指紋應用過程中采集到的指紋信號;
在檢測到所述指紋信號發生偏移時,獲取終端的光照環境以及指紋按壓狀態;
在所述終端的光照環境以及指紋按壓狀態滿足預設條件時,執行指紋信號的校準程序。
2.根據權利要求1所述的校準方法,其特征在于,所述獲取目標指紋信號并檢測所述目標指紋信號是否發生偏移包括:
獲取參考指紋信號以及當前指紋應用過程中的所述目標指紋信號,所述參考指紋信號為歷史記錄的指紋信號;
將所述目標指紋信號與所述參考指紋信號進行對比,以判斷所述目標指紋信號相對于所述參考指紋信號的變化量是否超出閾值;
在所述目標指紋信號相對于所述參考指紋信號的變化量超出閾值時,確定所述目標指紋信號發生偏移。
3.根據權利要求2所述的校準方法,其特征在于,所述將所述目標指紋信號與所述參考指紋信號進行對比,以判斷所述目標指紋信號相對于所述參考指紋信號的變化量是否超出閾值包括:
獲取所述目標指紋信號對應的第一物理參數,所述第一物理參數包括目標指紋信號的強度平均值以及光照強度的標準差值;
獲取所述參考指紋信號對應的第二物理參數,所述第二物理參數包括參考指紋信號的強度平均值以及光照強度的標準差值;
將所述第一物理參數和所述第二物理參數進行對比,以判斷所述目標指紋信號相對于所述參考指紋信號的變化量是否超出閾值。
4.根據權利要求2所述的校準方法,其特征在于,所述執行指紋信號的校準程序包括:
獲取所述參考指紋信號以及第一基準信號,所述第一基準信號用于檢測所述參考指紋信號對應的信號變化量;
獲取所述目標指紋信號以及第二基準信號,所述第二基準信號用于檢測所述目標指紋信號對應的信號變化量;
對所述第二基準信號進行校準,以使所述目標指紋信號相對于所述第二基準信號的信號變化量與所述參考指紋信號相對于所述第一基準信號的信號變化量保持一致。
5.根據權利要求1-4任一項所述的校準方法,其特征在于,所述預設條件包括:
所述終端接收到的光照強度小于預設光強;
所述終端接收到的光照均勻度超出預設均勻度;以及,
所述終端接收到的指紋按壓力度小于預設壓力。
6.根據權利要求1所述的校準方法,其特征在于,所述獲取終端的光照環境以及指紋按壓狀態包括:
在所述終端重啟時,獲取終端的光照環境以及指紋按壓狀態。
7.一種指紋信號的校準裝置,其特征在于,包括:
偏移檢測模塊,用于獲取目標指紋信號并檢測所述目標指紋信號是否發生偏移,所述目標指紋信號為在當前指紋應用過程中采集到的指紋信號;
狀態獲取模塊,用于在檢測到所述指紋信號發生偏移時,獲取終端的光照環境以及指紋按壓狀態;
信號校準模塊,用于在所述終端的光照環境以及指紋按壓狀態滿足預設條件時,執行指紋信號的校準程序。
8.一種指紋信號的校準裝置,其特征在于,包括:
處理器;
用于存儲處理器可執行指令的存儲器;
其中,所述處理器被配置為執行權利要求1-6任一項所述方法的步驟。
9.一種計算機可讀存儲介質,其上存儲有計算機指令,其特征在于,該指令被處理器執行時實現權利要求1-6任一項所述方法的步驟。
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