[發明專利]封裝材料與薄膜有效
| 申請號: | 201811235415.1 | 申請日: | 2018-10-23 |
| 公開(公告)號: | CN109749361B | 公開(公告)日: | 2021-06-29 |
| 發明(設計)人: | 陳文彬;陳凱琪;黃淑禎 | 申請(專利權)人: | 財團法人工業技術研究院 |
| 主分類號: | C08K3/36 | 分類號: | C08K3/36;C08L63/00;C08L83/06;C08L13/00;C08J5/18 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 秦劍 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 封裝 材料 薄膜 | ||
本發明提供一封裝材料,可包含:(a)環氧基倍半硅氧烷、(b)環氧樹脂、以及(c)含硅氧烷?酰亞胺基的苯并噁嗪化合物;其中(a)環氧基倍半硅氧烷與(b)環氧樹脂的重量比例為0.3:1至10:1,(a)環氧基倍半硅氧烷與(b)環氧樹脂的總重與(c)含硅氧烷?酰亞胺基的苯并噁嗪化合物的重量比例為100:20至100:150。
技術領域
本發明關于一種封裝材料。
背景技術
近幾年來,隨著電子產品日趨輕薄短小與高效能的需求驅動下,各種小型化封裝的發展,成為封裝業界主要的技術競爭重點。晶圓級尺寸封裝(WLCSP)已經引領在手持式電腦,平板和電腦等行動裝置、ICT等產品應用領域,以及汽車和可穿戴產品等市場。由于市場與產品功能需求,半導體產業正逐漸發展3D IC封裝技術,并使用熱壓接合技術取代傳統的覆晶回焊接合,其中熱壓合非導電膠工藝近年來也蓬勃發展。
晶圓級構裝的薄膜封裝材料的特性需求,包括:半交聯階段(B-stage)薄膜對晶片的粘著性佳且可透明對位、B-stage薄膜貼附到晶圓可承受切割、以及低應力。而在一般半導體元件封裝、印刷電路板中廣為應用的環氧樹脂,雖具有可加工性、耐高溫高濕性等特點,但已不足以因應須具備高信賴度的半導體元件封裝材料的特性需求。綜上所述,目前亟需能符合晶圓級構裝所需特性的封裝材料。
發明內容
本發明一實施方案提供的封裝材料,包含:(a)環氧基倍半硅氧烷(epoxysilsesquioxane);(b)環氧樹脂;以及(c)含硅氧烷-酰亞胺基的苯并噁嗪化合物(siloxane-imide-containing benzoxazine);其中(a)環氧基倍半硅氧烷與(b)環氧樹脂的重量比例為0.3:1至10:1,(a)環氧基倍半硅氧烷與(b)環氧樹脂的總重與(c)含硅氧烷-酰亞胺基的苯并噁嗪化合物的重量比例為100:20至100:150。
本發明一實施方案提供的薄膜可由前述的封裝材料經涂布烘烤形成。
實施方案
在本發明一實施方案中,封裝材料可包含(a)環氧基倍半硅氧烷(epoxysilsesquioxane)、(b)環氧樹脂、以及(c)含硅氧烷-酰亞胺基的苯并噁嗪化合物(siloxane-imide-containing benzoxazine)。在一實施方案中,上述(a)環氧基倍半硅氧烷可具有如式1或式2所示的結構:
(R1SiO3/2)n1(R2SiO2/2)n2 式1
(R3SiO3/2)n3(R4SiO3/2)n4 式2
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